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XRD設(shè)備需要有正確的操作方式，才能有效延長(zhǎng)X射線衍射儀的使用壽命，對(duì)備用的X射線衍射儀可采用事后維修或定期計(jì)劃維修，重要X射線衍射儀或裝置，一般按一用一備、二用一備或多臺(tái)配置，由于有備用X射線衍射儀，可采用定期計(jì)劃維修或事后維修，重點(diǎn)是確保備用X射線衍射儀必須隨時(shí)處于完好狀態(tài)，以便及時(shí)投入運(yùn)行。重點(diǎn)是做好X射線衍射儀的預(yù)防維護(hù)，所謂預(yù)防維護(hù)是指對(duì)X射線衍射儀或X射線衍射儀的構(gòu)成部分定期或連續(xù)觀測(cè)，以追蹤其測(cè)定值有無變化，有沒有顯示出變化的傾向，以此來判斷X射線衍射儀是否有異常。XRD設(shè)備注意事項(xiàng)：對(duì)涉及安全的X射線衍射儀設(shè)備，操作時(shí)應(yīng)有必要的隔離措施和警示標(biāo)志。深圳臺(tái)式D2 Phaser應(yīng)用...

X射線單晶衍射儀其主要特點(diǎn)為：1.同時(shí)適合小分子晶體學(xué)和蛋白質(zhì)晶體學(xué)的研究需要，應(yīng)用范圍廣。2.新一代的lus3.0微焦斑光源，性能娘美微焦斑轉(zhuǎn)靶，零維護(hù)，壽命超長(zhǎng)。3.液態(tài)金屬靶MetalJET，室內(nèi)X射線光源，強(qiáng)度遠(yuǎn)。4.遠(yuǎn)高千微焦斑轉(zhuǎn)靶，讓您擁有個(gè)人的“同步輻射＂，解決難的晶體學(xué)問題，比如GPCR膜蛋白的結(jié)構(gòu)。5.采用四代光源XFEL探測(cè)器技術(shù)的PHOTONIIIMMPAD混合光子計(jì)數(shù)探測(cè)器，6.超大面積，超快速度，零噪音，單光子檢測(cè)的靈敏度。7.雙靶配置，軟件自動(dòng)切換光源。滿足不同類型的研究需要。元件自動(dòng)識(shí)別，智能化光路管理。8.新一代的APEX3/PROTEUM3軟件，功能強(qiáng)大，智能...

XRD可以應(yīng)用的領(lǐng)域廣，可普遍應(yīng)用于工業(yè)檢測(cè)。檢測(cè)速度相當(dāng)快。XRD的測(cè)試原理是布拉格方程，即n=2*d*sin，其中為入射光線的波長(zhǎng)，d為晶面間距，為衍射角。換句話說，XRD是測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)的有效手段。由于晶體有其獨(dú)特的晶體學(xué)特征，即空間晶格，14種Bravais晶格是其晶格類型，晶面參數(shù)有限。XRD是X射線衍射的簡(jiǎn)稱，X射線衍射。通過分析材料。x射線衍射，分析其衍射圖，獲取材料成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息。x射線是一種短波長(zhǎng)(約20 ~ 0.06埃)的電磁波，可以穿透一定厚度的材料。XRD設(shè)備具備的特點(diǎn)：制樣簡(jiǎn)單。廣州進(jìn)口布魯克粉末衍射儀儀器原理XRD設(shè)備在生活中的使用：X射線...

高分辨率 XRD ，可以確定外延層的厚度、成分、松弛、應(yīng)變、摻雜劑水平和誤切。直接測(cè)量多層結(jié)構(gòu)內(nèi)層的松弛/應(yīng)變/組成。在需要時(shí)將三軸分析儀晶體自動(dòng)插入和對(duì)齊到光束中。自動(dòng)樣品校準(zhǔn)、測(cè)量、分析和報(bào)告。倒數(shù)空間圖在幾分鐘內(nèi)完成并使用PeakSplit 進(jìn)行分析。可以使用模擬雙軸和三軸衍射掃描。樣品要求：粉末樣品請(qǐng)準(zhǔn)備至少20mg，0.1g以上較好，量少可以用微量室，但是效果相對(duì)不是很好。需要粒度均勻（粒度在45um左右或過200目篩子），手摸無顆粒感，面粉質(zhì)感；塊狀樣品要求長(zhǎng)寬1-2cm（一般不小于1cm），厚度不超出15mm，需要注明測(cè)試面，測(cè)試面需要平整光潔。XRD設(shè)備特點(diǎn)：零噪音， 單光子檢...

XRD設(shè)備是一款什么樣的設(shè)備呢？為什么XRD測(cè)試要求薄膜（塊體）樣品尺寸要合適？因?yàn)榉胖帽∧ぃ▔K體）樣品的樣品臺(tái)尺寸是固定的，用橡皮泥來固定樣品，樣品太大放不進(jìn)去，樣品太小不好固定。XRD設(shè)備是用于材料研究、工藝開發(fā)和質(zhì)量控制的新一代儀器。 該系統(tǒng)具有全自動(dòng)源和檢測(cè)器光學(xué)元件以及水平樣品安裝，可以在計(jì)算機(jī)/配方控制下在標(biāo)準(zhǔn)和高分辨率 X 射線衍射和 X 射線反射率模式之間切換，而無需手動(dòng)更改配置。因此XRD設(shè)備在生活中的使用是比較多的。XRD 特別適用于晶態(tài)物質(zhì)的物相分析。進(jìn)口D8 Discover代理商X射線單晶衍射儀其主要特點(diǎn)為：1.同時(shí)適合小分子晶體學(xué)和蛋白質(zhì)晶體學(xué)的研究需要，應(yīng)用范圍廣...

高分辨率 XRD ，可以確定外延層的厚度、成分、松弛、應(yīng)變、摻雜劑水平和誤切。直接測(cè)量多層結(jié)構(gòu)內(nèi)層的松弛/應(yīng)變/組成。在需要時(shí)將三軸分析儀晶體自動(dòng)插入和對(duì)齊到光束中。自動(dòng)樣品校準(zhǔn)、測(cè)量、分析和報(bào)告。倒數(shù)空間圖在幾分鐘內(nèi)完成并使用PeakSplit 進(jìn)行分析?？梢允褂媚M雙軸和三軸衍射掃描。樣品要求：粉末樣品請(qǐng)準(zhǔn)備至少20mg，0.1g以上較好，量少可以用微量室，但是效果相對(duì)不是很好。需要粒度均勻（粒度在45um左右或過200目篩子），手摸無顆粒感，面粉質(zhì)感；塊狀樣品要求長(zhǎng)寬1-2cm（一般不小于1cm），厚度不超出15mm，需要注明測(cè)試面，測(cè)試面需要平整光潔。XRD設(shè)備的應(yīng)用面十分普遍。廣州進(jìn)...

XRD設(shè)備簡(jiǎn)介：儀器通過對(duì)樣品進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息（材料主要成分、次要成份或微量成份的全晶相ID信息），具有制樣簡(jiǎn)單、無污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)，是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。XRD設(shè)備的送樣要求：1）粉末樣品：顆粒度在10微米以下；塊體、薄膜樣品：表面打磨平滑，厚度不超過5毫米；尺寸不超過2厘米(平臺(tái)不提供制樣)。2）信息要求：若需樣品成分分析，需提供體系可能含有的全部元素。XRD設(shè)備的基本構(gòu)造是什么樣的？德國(guó)進(jìn)口D8 Advance應(yīng)用原理快速完成定量性XRD分析的幾個(gè)步驟：只需執(zhí)行...

X射線衍射作為一電磁波投射到晶體中時(shí)，會(huì)受晶體中原子的影響出現(xiàn)衍射現(xiàn)象。每種晶體內(nèi)部的原子排列方式是獨(dú)一的，因此對(duì)應(yīng)的衍射花樣是獨(dú)一的，從而可以進(jìn)行物相分析。XRD可以應(yīng)用的領(lǐng)域廣，可普遍應(yīng)用于工業(yè)檢測(cè)。檢測(cè)速度相當(dāng)快。XRD是X射線衍射的簡(jiǎn)稱，X射線衍射。通過分析材料。x射線衍射，分析其衍射圖，獲取材料成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息。x射線是一種短波長(zhǎng)(約20 ~ 0.06埃)的電磁波，可以穿透一定厚度的材料。為什么要求XRD測(cè)試粉末樣品要稍微多一些？主要是因?yàn)榉勰悠芬仢M整個(gè)樣品臺(tái)，不然X射線可能會(huì)打在樣品臺(tái)上，影響數(shù)據(jù)質(zhì)量。XRD設(shè)備特點(diǎn)：輕松操控儀器，獲得好數(shù)據(jù)。布魯克粉...

為什么XRD數(shù)據(jù)的峰強(qiáng)度較低，甚至沒有明顯的衍射峰呢？主要是因?yàn)闃悠返难苌浞鍙?qiáng)度主要跟樣品本身的結(jié)晶度有關(guān)，其次跟樣品量以及儀器的功率都有關(guān)系。X射線衍射(XRD)是所有物質(zhì)，包括從流體、粉末到完整晶體，重要的無損分析工具。對(duì)材料學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、地質(zhì)、環(huán)境、納米材料、生物等領(lǐng)域來說，X射線衍射儀都是物質(zhì)結(jié)構(gòu)表征，以性能為導(dǎo)向研制與開發(fā)新材料， 宏觀表象轉(zhuǎn)移至微觀認(rèn)識(shí)，建立新理論和質(zhì)量控制不可缺少的方法。XRD設(shè)備-X射線衍射儀的英文名稱是X-rayPowderdiffractometer簡(jiǎn)寫為XPD或XRD。有時(shí)會(huì)把它叫做x射線多晶體衍射儀，英文名稱為X-raypolycrystalline...

XRD分析儀：1.可以獲得更高的靈敏度、更快的分析速度以及更可靠的結(jié)果。升級(jí)后的X射線探測(cè)器硬件運(yùn)行速度提高33％，并且強(qiáng)度更高，從而降低了LOD。SwiftMin自動(dòng)相識(shí)別和定量軟件可直接在X射線衍射分析儀上顯示實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)，可以使用戶能夠快速可靠做出決策。2.配有獨(dú)具特色的小型樣品托架，因此成為傳統(tǒng)X射線衍射儀方便攜帶、輕便且?guī)缀鯚o需維護(hù)的替代品。采用NASA技術(shù)的振動(dòng)樣品托架可讓樣品腔內(nèi)的所有顆粒物實(shí)現(xiàn)對(duì)流，從而確保數(shù)據(jù)幾乎不受取向效應(yīng)影響。只需15毫克樣品即可，并且使用隨附取樣套件即可輕松獲得樣品。3.同時(shí)獲得定量XRD和定性XRF數(shù)據(jù)，專門設(shè)計(jì)的直接激勵(lì)電荷耦合器件（CCD）可同時(shí)檢測(cè)光...

XRD，X射線衍射儀：X射線衍射儀的英文名稱是X-rayPowderdiffractometer簡(jiǎn)寫為XPD或XRD。有時(shí)會(huì)把它叫做x射線多晶體衍射儀，英文名稱為X-raypolycrystallinediffractometer簡(jiǎn)寫仍為XPD或XRD。X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構(gòu)成很相似，主要部件包括4部分。（1）高穩(wěn)定度X射線源，提供測(cè)量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng),調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。（2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)，樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。（3）射線檢測(cè)器，檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向,通過儀器測(cè)量記錄...

XRD設(shè)備的主要功能及特色：應(yīng)用于晶體物質(zhì)定性和定量相分析，結(jié)晶學(xué)分析，結(jié)構(gòu)解析、織構(gòu)和殘余應(yīng)力分析等；可以分析黏土礦物、合金、陶瓷、食品、藥物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、超導(dǎo)材料、納米材料物相鑒定，材料可以是單晶體、多晶體、薄膜等片狀、塊狀、粉末狀固體。能在控制氣氛和程序控溫條件下現(xiàn)場(chǎng)原位分析物質(zhì)結(jié)構(gòu)的變化。配備lynxeye 超能檢測(cè)器，使檢測(cè)靈敏度提高一個(gè)量級(jí)，可以達(dá)到或超出旋轉(zhuǎn)陽極靶的效果。XRD設(shè)備的使用可以提供簡(jiǎn)單、直接的相分析。臺(tái)式XRD廠家電話X射線衍射儀的英文名稱是X-ray Powder diffractometer簡(jiǎn)寫為XPD或XRD。有時(shí)會(huì)把它叫做x射...

XRD設(shè)備組成：X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構(gòu)成很相似，主要部件包括4部分。（1）高穩(wěn)定度X射線源，提供測(cè)量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng),調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。（2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)，樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。（3）射線檢測(cè)器，檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向,通過儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。（4）衍射圖的處理分析系統(tǒng)，現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有專門使用衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng),它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。XRD設(shè)備支持所有基于X射線衍射和散射的材料研究應(yīng)用。深圳便攜式XR...

XRD（X 射線衍射）是目前研究晶體結(jié)構(gòu)(如原子或離子及其基團(tuán)的種類和位置分布，晶胞形狀和大小等)有力的方法。XRD 特別適用于晶態(tài)物質(zhì)的物相分析。晶態(tài)物質(zhì)組成元素或基團(tuán)如不相同或其結(jié)構(gòu)有差異，它們的衍射譜圖在衍射峰數(shù)目、角度位置、相對(duì)強(qiáng)度次序以至衍射峰的形狀上就顯現(xiàn)出差異。因此，通過樣品的 X 射線衍射圖與已知的晶態(tài)物質(zhì)的 X 射線衍射譜圖的對(duì)比分析便可以完成樣品物相組成和結(jié)構(gòu)的定性鑒定；通過對(duì)樣品衍射強(qiáng)度數(shù)據(jù)的分析計(jì)算，可以完成樣品物相組成的定量分析；XRD 還可以測(cè)定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的織構(gòu)）…等等，應(yīng)用面十分普遍。為什么XRD數(shù)據(jù)的峰強(qiáng)度較低，甚至沒有明顯的衍射峰呢？深...

XRD設(shè)備的主要功能及特色：應(yīng)用于晶體物質(zhì)定性和定量相分析，結(jié)晶學(xué)分析，結(jié)構(gòu)解析、織構(gòu)和殘余應(yīng)力分析等；可以分析黏土礦物、合金、陶瓷、食品、藥物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、超導(dǎo)材料、納米材料物相鑒定，材料可以是單晶體、多晶體、薄膜等片狀、塊狀、粉末狀固體。能在控制氣氛和程序控溫條件下現(xiàn)場(chǎng)原位分析物質(zhì)結(jié)構(gòu)的變化。配備lynxeye 超能檢測(cè)器，使檢測(cè)靈敏度提高一個(gè)量級(jí)，可以達(dá)到或超出旋轉(zhuǎn)陽極靶的效果。XRD設(shè)備注意事項(xiàng)：嚴(yán)禁用手觸摸或擅自調(diào)節(jié)。廣州進(jìn)口布魯克D8 Advance生產(chǎn)廠家XRD設(shè)備如此的受歡迎，主要是因?yàn)椋篨RD設(shè)備具有高計(jì)數(shù)率和好的角分辨率，是所有X射線衍射和散...

XRD設(shè)備的檢測(cè)項(xiàng)目：用于測(cè)定無機(jī)物、有機(jī)物及配位化合物（晶體狀態(tài)）分子的準(zhǔn)確三維立體結(jié)構(gòu)，通過晶體結(jié)構(gòu)計(jì)算出測(cè)定分子詳細(xì)的鍵長(zhǎng)、鍵角、 構(gòu)型、構(gòu)象、成鍵電子密度及分子在晶格中的排列情況，是對(duì)化合物直接、可靠的鑒定，具體測(cè)試項(xiàng)目如下： 掃描時(shí)間=（掃描角度/掃描速率） 1.XRD-精掃：主要是對(duì)于掃描速率低于1的樣品，常規(guī)掃描的速率一般大于1.2.XRD-常規(guī)廣角測(cè)試（10min以下）：指的是掃描時(shí)間低于10min，掃描角度在5°-90°的樣品.2.XRD-常規(guī)廣角測(cè)試（10min-20min）：指的是掃描時(shí)間10min-20min，掃描角度在5°-90°的樣品.3.XRD-常規(guī)廣角測(cè)試（...

XRD設(shè)備的主要功能及特色：應(yīng)用于晶體物質(zhì)定性和定量相分析，結(jié)晶學(xué)分析，結(jié)構(gòu)解析、織構(gòu)和殘余應(yīng)力分析等；可以分析黏土礦物、合金、陶瓷、食品、藥物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、超導(dǎo)材料、納米材料物相鑒定，材料可以是單晶體、多晶體、薄膜等片狀、塊狀、粉末狀固體。能在控制氣氛和程序控溫條件下現(xiàn)場(chǎng)原位分析物質(zhì)結(jié)構(gòu)的變化。配備lynxeye 超能檢測(cè)器，使檢測(cè)靈敏度提高一個(gè)量級(jí)，可以達(dá)到或超出旋轉(zhuǎn)陽極靶的效果。XRD設(shè)備注意事項(xiàng)：對(duì)涉及安全的X射線衍射儀設(shè)備，操作時(shí)應(yīng)有必要的隔離措施和警示標(biāo)志。布魯克D8 AdvanceXRD設(shè)備概述：X射線衍射作為一電磁波投射到晶體中時(shí)，會(huì)受晶體中原子...

如何由 XRD 圖譜確定所做的樣品是準(zhǔn)晶結(jié)構(gòu)？XRD 圖譜中非晶、準(zhǔn)晶和晶體的結(jié)構(gòu)怎么嚴(yán)格區(qū)分？三者并無嚴(yán)格明晰的分界。在衍射儀獲得的 XRD 圖譜上，如果樣品是較好的”晶態(tài)”物質(zhì)，圖譜的特征是有若干或許多個(gè)一般是彼此很窄的”尖峰”（其半高度處的 2θ寬度在 0.1°~0.2°左右，這一寬度可以視為由實(shí)驗(yàn)條件決定的晶體衍射峰的”至小寬度”）。如果這些”峰”明顯地變寬，則可以判定樣品中的晶體的顆粒尺寸將小于 300nm，可以稱之為”微晶”。晶體的 X 射線衍射理論中有一個(gè) Scherrer 公式，可以根據(jù)譜線變寬的量估算晶粒在該衍射方向上的厚度。產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及...

XRD設(shè)備原理：X射線是原子內(nèi)層電子在高速運(yùn)動(dòng)電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數(shù)目的原子或離子/分子所產(chǎn)生的相干散射將會(huì)發(fā)生光的干涉作用，從而影響散射的X射線的強(qiáng)度增強(qiáng)或減弱。由于大量原子散射波的疊加，互相干涉而產(chǎn)生至大強(qiáng)度的光束稱為X射線的衍射線。滿足衍射條件，可應(yīng)用布拉格公式：2dsinθ=λ。應(yīng)用已知波長(zhǎng)的X射線來測(cè)量θ角，從而計(jì)算出晶面間距d，這是用于X射線結(jié)構(gòu)分析;另一個(gè)是應(yīng)用已知d的晶體來測(cè)量θ角，從而計(jì)算出特征X射線的波長(zhǎng)，進(jìn)而可在已有資料查出試樣中所含的元素。XRD設(shè)備的使用可為客戶解決的問題有哪些？廣州布魯克X...

X射線衍射儀構(gòu)造：X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構(gòu)成很相似，為X射線衍射儀的基本構(gòu)造原理圖，主要部件包括4部分。（1）高穩(wěn)定度X射線源。提供測(cè)量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng),調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。（2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)。樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。（3）射線檢測(cè)器。檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向,通過儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。（4）衍射圖的處理分析系統(tǒng)?，F(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有專門用的衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng),它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。對(duì)于XRD設(shè)備需要細(xì)致維護(hù)、降低維...

XRD設(shè)備的主要功能及特色：應(yīng)用于晶體物質(zhì)定性和定量相分析，結(jié)晶學(xué)分析，結(jié)構(gòu)解析、織構(gòu)和殘余應(yīng)力分析等；可以分析黏土礦物、合金、陶瓷、食品、藥物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、超導(dǎo)材料、納米材料物相鑒定，材料可以是單晶體、多晶體、薄膜等片狀、塊狀、粉末狀固體。能在控制氣氛和程序控溫條件下現(xiàn)場(chǎng)原位分析物質(zhì)結(jié)構(gòu)的變化。配備lynxeye 超能檢測(cè)器，使檢測(cè)靈敏度提高一個(gè)量級(jí)，可以達(dá)到或超出旋轉(zhuǎn)陽極靶的效果。XRD設(shè)備特點(diǎn)：輕松操控儀器，獲得好數(shù)據(jù)。深圳進(jìn)口D8 Discover工作原理XRD設(shè)備具有什么特點(diǎn)？XRD設(shè)備具備的特點(diǎn)：1.XRD設(shè)備由于 100° 傾斜 (Chi) 和無限...

為什么XRD數(shù)據(jù)的峰強(qiáng)度較低，甚至沒有明顯的衍射峰呢？主要是因?yàn)闃悠返难苌浞鍙?qiáng)度主要跟樣品本身的結(jié)晶度有關(guān)，其次跟樣品量以及儀器的功率都有關(guān)系。X射線衍射(XRD)是所有物質(zhì)，包括從流體、粉末到完整晶體，重要的無損分析工具。對(duì)材料學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、地質(zhì)、環(huán)境、納米材料、生物等領(lǐng)域來說，X射線衍射儀都是物質(zhì)結(jié)構(gòu)表征，以性能為導(dǎo)向研制與開發(fā)新材料， 宏觀表象轉(zhuǎn)移至微觀認(rèn)識(shí)，建立新理論和質(zhì)量控制不可缺少的方法。XRD設(shè)備-X射線衍射儀的英文名稱是X-rayPowderdiffractometer簡(jiǎn)寫為XPD或XRD。有時(shí)會(huì)把它叫做x射線多晶體衍射儀，英文名稱為X-raypolycrystalline...

XRD設(shè)備的主要功能及特色：應(yīng)用于晶體物質(zhì)定性和定量相分析，結(jié)晶學(xué)分析，結(jié)構(gòu)解析、織構(gòu)和殘余應(yīng)力分析等；可以分析黏土礦物、合金、陶瓷、食品、藥物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、超導(dǎo)材料、納米材料物相鑒定，材料可以是單晶體、多晶體、薄膜等片狀、塊狀、粉末狀固體。能在控制氣氛和程序控溫條件下現(xiàn)場(chǎng)原位分析物質(zhì)結(jié)構(gòu)的變化。配備lynxeye 超能檢測(cè)器，使檢測(cè)靈敏度提高一個(gè)量級(jí)，可以達(dá)到或超出旋轉(zhuǎn)陽極靶的效果。XRD設(shè)備能輕松切換包括X射線管、光學(xué)器件、樣品臺(tái)和探測(cè)器在內(nèi)的光路組件，而無需對(duì)準(zhǔn)。D2 PhaserXRD設(shè)備可在大氣中無損分析樣品，進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定等。并且，...

XRD設(shè)備需要有正確的操作方式，才能有效延長(zhǎng)X射線衍射儀的使用壽命，對(duì)備用的X射線衍射儀可采用事后維修或定期計(jì)劃維修，重要X射線衍射儀或裝置，一般按一用一備、二用一備或多臺(tái)配置，由于有備用X射線衍射儀，可采用定期計(jì)劃維修或事后維修，重點(diǎn)是確保備用X射線衍射儀必須隨時(shí)處于完好狀態(tài)，以便及時(shí)投入運(yùn)行。重點(diǎn)是做好X射線衍射儀的預(yù)防維護(hù)，所謂預(yù)防維護(hù)是指對(duì)X射線衍射儀或X射線衍射儀的構(gòu)成部分定期或連續(xù)觀測(cè)，以追蹤其測(cè)定值有無變化，有沒有顯示出變化的傾向，以此來判斷X射線衍射儀是否有異常。高分辨率 XRD ，可以確定外延層的厚度、成分、松弛、應(yīng)變、摻雜劑水平和誤切。廣東進(jìn)口布魯克粉末衍射儀廠家電話XRD...

X射線衍射作為一電磁波投射到晶體中時(shí)，會(huì)受晶體中原子的影響出現(xiàn)衍射現(xiàn)象。每種晶體內(nèi)部的原子排列方式是獨(dú)一的，因此對(duì)應(yīng)的衍射花樣是獨(dú)一的，從而可以進(jìn)行物相分析。XRD可以應(yīng)用的領(lǐng)域廣，可普遍應(yīng)用于工業(yè)檢測(cè)。檢測(cè)速度相當(dāng)快。XRD是X射線衍射的簡(jiǎn)稱，X射線衍射。通過分析材料。x射線衍射，分析其衍射圖，獲取材料成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息。x射線是一種短波長(zhǎng)(約20 ~ 0.06埃)的電磁波，可以穿透一定厚度的材料。為什么要求XRD測(cè)試粉末樣品要稍微多一些？主要是因?yàn)榉勰悠芬仢M整個(gè)樣品臺(tái)，不然X射線可能會(huì)打在樣品臺(tái)上，影響數(shù)據(jù)質(zhì)量。X射線衍射儀的英文名稱是X-ray Powder ...

X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，精確的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析。普遍應(yīng)用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學(xué)，材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。X射線衍射儀的工作環(huán)境。1．建議房間溫度：15oC至25oC，溫度變化小于1oC/30分鐘。2．高分辨儀器的房間溫度：22oC±1oC。3．相對(duì)濕度：20%至80%。4．環(huán)境整潔：請(qǐng)定期清潔儀器內(nèi)部以免灰塵聚集在某些重要部件的表面上，影響儀器的正常工作。如測(cè)角儀光學(xué)編碼盤。XRD設(shè)備具有高計(jì)數(shù)率和好的角分辨率。廣州臺(tái)式XRD代理商XRD設(shè)備如此的受歡迎，主要是因?yàn)椋篨RD設(shè)備具有高計(jì)數(shù)率和好的角分辨率，是所有X射線衍射和散射應(yīng)...

X射線單晶衍射儀其主要特點(diǎn)為：1.同時(shí)適合小分子晶體學(xué)和蛋白質(zhì)晶體學(xué)的研究需要，應(yīng)用范圍廣。2.新一代的lus3.0微焦斑光源，性能娘美微焦斑轉(zhuǎn)靶，零維護(hù)，壽命超長(zhǎng)。3.液態(tài)金屬靶MetalJET，室內(nèi)X射線光源，強(qiáng)度遠(yuǎn)。4.遠(yuǎn)高千微焦斑轉(zhuǎn)靶，讓您擁有個(gè)人的“同步輻射＂，解決難的晶體學(xué)問題，比如GPCR膜蛋白的結(jié)構(gòu)。5.采用四代光源XFEL探測(cè)器技術(shù)的PHOTONIIIMMPAD混合光子計(jì)數(shù)探測(cè)器，6.超大面積，超快速度，零噪音，單光子檢測(cè)的靈敏度。7.雙靶配置，軟件自動(dòng)切換光源。滿足不同類型的研究需要。元件自動(dòng)識(shí)別，智能化光路管理。8.新一代的APEX3/PROTEUM3軟件，功能強(qiáng)大，智能...

XRD設(shè)備的注意事項(xiàng)：（1）固體樣品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必須平整，可以用幾塊粘貼一起。（2）對(duì)于片狀、圓拄狀樣品會(huì)存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向，衍射強(qiáng)度異常，需提供測(cè)試方向。（3）對(duì)于測(cè)量金屬樣品的微觀應(yīng)力（晶格畸變），測(cè)量殘余奧氏體，要求制備成金相樣品，并進(jìn)行普通拋光或電解拋光，消除表面應(yīng)變層。（4）粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大于5g。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生特有的衍射圖譜。對(duì)于...

XRD設(shè)備具備多種功能，射線衍射儀主要功能：1.●TWIN/TWIN光路。獲得的TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)極大地簡(jiǎn)化了操作，使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型。為便于用戶使用，該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動(dòng)切換。該系統(tǒng)無需人工干預(yù)，即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進(jìn)行切換，且無需人工干預(yù)，是在環(huán)境下和非環(huán)境下對(duì)包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在內(nèi)的所有類型的樣品進(jìn)行分析的理想選擇。2.●動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化（DBO）。獨(dú)有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準(zhǔn)。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫、防散射屏和可...

XRD設(shè)備特點(diǎn)：1.樣品的自動(dòng)校準(zhǔn)、測(cè)量和分析；2.測(cè)量的自動(dòng)化程度由用戶定義；3.使用 300 毫米歐拉支架實(shí)現(xiàn)高精度樣品定位和掃描；4.全300mm 晶圓水平貼裝和映射 ；5.由于 100° 傾斜 (Chi) 和無限方位角旋轉(zhuǎn) (Phi)，可以進(jìn)行極點(diǎn)圖和殘余應(yīng)力測(cè)量；6.根據(jù)請(qǐng)求的測(cè)量進(jìn)行智能自動(dòng)工具對(duì)齊和重新配置；7.先的設(shè)備控制和分析軟件；8.使用高分辨率測(cè)角儀進(jìn)行測(cè)量；9.高的強(qiáng)度光源和光學(xué)元件可實(shí)現(xiàn)快速測(cè)量；10. 可用的技術(shù)和參數(shù)范圍廣；11.由擁有 30 多年經(jīng)驗(yàn)和龐大的安裝基礎(chǔ)的高分辨率 X 射線衍射領(lǐng)域的**打造。XRD分析儀的使用可以獲得更高的靈敏度、更快的分析速度以及...