XRD設備原理：X射線是原子內層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數(shù)目的原子或離子/分子所產(chǎn)生的相干散射將會發(fā)生光的干涉作用，從而影響散射的X射線的強度增強或減弱。由于大量原子散射波的疊加，互相干涉而產(chǎn)生至大強度的光束稱為X射線的衍射線。滿足衍射條件，可應用布拉格公式：2dsinθ=λ。應用已知波長的X射線來測量θ角，從而計算出晶面間距d，這是用于X射線結構分析;另一個是應用已知d的晶體來測量θ角，從而計算出特征X射線的波長，進而可在已有資料查出試樣中所含的元素。XRD設備的使用可為客戶解決的問題有哪些？廣州布魯克X射線衍射儀儀器原理

X射線衍射作為一電磁波投射到晶體中時，會受晶體中原子的影響出現(xiàn)衍射現(xiàn)象。每種晶體內部的原子排列方式是獨一的，因此對應的衍射花樣是獨一的，從而可以進行物相分析。XRD可以應用的領域廣，可普遍應用于工業(yè)檢測。檢測速度相當快。XRD是X射線衍射的簡稱，X射線衍射。通過分析材料。x射線衍射，分析其衍射圖，獲取材料成分、材料內部原子或分子的結構或形態(tài)等信息。x射線是一種短波長(約20 ~ 0.06埃)的電磁波，可以穿透一定厚度的材料。為什么要求XRD測試粉末樣品要稍微多一些？主要是因為粉末樣品要鋪滿整個樣品臺，不然X射線可能會打在樣品臺上，影響數(shù)據(jù)質量。廣州進口粉末衍射儀廠家XRD設備具有全自動源和檢測器光學元件以及水平樣品安裝。

XRD 衍射強度和峰的寬度與樣品顆粒大小，還是與晶體顆粒大小有關？樣品中晶粒越小，衍射峰的峰高的強度越來越低，但是峰越來越寬，實際上利用 X 射線衍射峰的寬化對樣品的結晶顆粒度分析就是根據(jù)這個原理的（Scherrer 公式）。晶粒大小和顆粒大小有關系，但是其各自的含義是有區(qū)別的。一顆晶粒也可能就是一顆顆粒，但是更可能的情況是晶粒抱到一起 , 二次聚集 , 成為顆粒。顆粒不是衍射的基本單位, 但是微小的顆粒能產(chǎn)生散射。你磨的越細 , 散射就越強.。對于晶粒, 你磨過頭了, 晶體結構被破壞了, 磨成非晶, 衍射能力就沒有了。磨得太狠的話，有些峰可能要消失了，而且相鄰較近的衍射峰會由于寬化而相互疊加，會變成 1 個或幾個"鼓包"。一般晶面間距大的峰受晶粒細化的影響會明顯一些，因為 d 值大的晶面容易被破壞。

XRD設備的注意事項：（1）固體樣品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必須平整，可以用幾塊粘貼一起。（2）對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優(yōu)取向，衍射強度異常，需提供測試方向。（3）對于測量金屬樣品的微觀應力（晶格畸變），測量殘余奧氏體，要求制備成金相樣品，并進行普通拋光或電解拋光，消除表面應變層。（4）粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大于5g。X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產(chǎn)生特有的衍射圖譜。XRD設備能輕松切換包括X射線管、光學器件、樣品臺和探測器在內的光路組件，而無需對準。

為什么XRD測試要求薄膜（塊體）樣品尺寸要合適？因為放置薄膜（塊體）樣品的樣品臺尺寸是固定的，用橡皮泥來固定樣品，樣品太大放不進去，樣品臺小不好固定。XRD設備支持所有基于X射線衍射和散射的材料研究應用，包括定性和定量相分析、結構分析、高分辨率X射線衍射、反射率測量、倒易空間掃描、掠入射衍射（面內GID）、掠入射小角X射線散射（GISAXS）、應力分析和織構分析以及微區(qū)衍射，具體取決于使用的附件。無論面對何種應用，XRD設備都會指引用戶選擇較佳的儀器配置。XRD設備具有優(yōu)異的性能。廣東進口布魯克D2 Phaser應用原理

XRD設備的特點：操作簡單。廣州布魯克X射線衍射儀儀器原理

XRD設備的檢測項目：用于測定無機物、有機物及配位化合物（晶體狀態(tài)）分子的準確三維立體結構，通過晶體結構計算出測定分子詳細的鍵長、鍵角、 構型、構象、成鍵電子密度及分子在晶格中的排列情況，是對化合物直接、可靠的鑒定，具體測試項目如下： 掃描時間=（掃描角度/掃描速率） 1.XRD-精掃：主要是對于掃描速率低于1的樣品，常規(guī)掃描的速率一般大于1.2.XRD-常規(guī)廣角測試（10min以下）：指的是掃描時間低于10min，掃描角度在5°-90°的樣品.2.XRD-常規(guī)廣角測試（10min-20min）：指的是掃描時間10min-20min，掃描角度在5°-90°的樣品.3.XRD-常規(guī)廣角測試（20min-30min）：指的是掃描時間20min-30min，掃描角度在5°-90°的樣品.4.XRD-常規(guī)小角測試（10min以下）：指的是掃描時間低于10min，掃描角度在0.6°-90°的樣品。廣州布魯克X射線衍射儀儀器原理

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