XRD設備的主要功能及特色：應用于晶體物質定性和定量相分析，結晶學分析，結構解析、織構和殘余應力分析等；可以分析黏土礦物、合金、陶瓷、食品、藥物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半導體材料、超導材料、納米材料物相鑒定，材料可以是單晶體、多晶體、薄膜等片狀、塊狀、粉末狀固體。能在控制氣氛和程序控溫條件下現場原位分析物質結構的變化。配備lynxeye 超能檢測器，使檢測靈敏度提高一個量級，可以達到或超出旋轉陽極靶的效果。XRD設備的使用可以提供簡單、直接的相分析。臺式XRD廠家電話

X射線衍射儀的英文名稱是X-ray Powder diffractometer簡寫為XPD或XRD。有時會把它叫做x射線多晶體衍射儀，英文名稱為X-ray polycrystalline diffractometer簡寫仍為XPD或XRD。X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構成很相似，為X射線衍射儀的基本構造原理圖，主要部件包括4部分。x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。X射線衍射儀儀器原理XRD設備具有全自動源和檢測器光學元件以及水平樣品安裝。

XRD（X 射線衍射）是目前研究晶體結構(如原子或離子及其基團的種類和位置分布，晶胞形狀和大小等)有力的方法。XRD 特別適用于晶態(tài)物質的物相分析。晶態(tài)物質組成元素或基團如不相同或其結構有差異，它們的衍射譜圖在衍射峰數目、角度位置、相對強度次序以至衍射峰的形狀上就顯現出差異。因此，通過樣品的 X 射線衍射圖與已知的晶態(tài)物質的 X 射線衍射譜圖的對比分析便可以完成樣品物相組成和結構的定性鑒定；通過對樣品衍射強度數據的分析計算，可以完成樣品物相組成的定量分析；XRD 還可以測定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的織構）…等等，應用面十分普遍。

XRD設備具有什么特性？XRD分析儀兼具檢測速度快和檢測結果準確的特性，檢測人員可以比傳統XRD系統更快的速度輕松地完成定量性XRD分析。我們不但了解檢測速度對用戶的重要性，我們還深知用戶對準確性和可重復性的要求：我們的分析儀可以提供用戶所需的準確度和可重復性！與需要定期重新調整以補償磨損的齒輪光學部件的傳統XRD系統相比，我們的XRD分析儀沒有多少移動部件，因此可以提供較準確、可靠的結果。從而可使用戶充滿信心、快速地做出決策。X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異。

XRD設備的檢測項目：用于測定無機物、有機物及配位化合物（晶體狀態(tài)）分子的準確三維立體結構，通過晶體結構計算出測定分子詳細的鍵長、鍵角、 構型、構象、成鍵電子密度及分子在晶格中的排列情況，是對化合物直接、可靠的鑒定，具體測試項目如下： 掃描時間=（掃描角度/掃描速率） 1.XRD-精掃：主要是對于掃描速率低于1的樣品，常規(guī)掃描的速率一般大于1.2.XRD-常規(guī)廣角測試（10min以下）：指的是掃描時間低于10min，掃描角度在5°-90°的樣品.2.XRD-常規(guī)廣角測試（10min-20min）：指的是掃描時間10min-20min，掃描角度在5°-90°的樣品.3.XRD-常規(guī)廣角測試（20min-30min）：指的是掃描時間20min-30min，掃描角度在5°-90°的樣品.4.XRD-常規(guī)小角測試（10min以下）：指的是掃描時間低于10min，掃描角度在0.6°-90°的樣品。X射線衍射儀的英文名稱是X-ray Powder diffractometer簡寫為XPD或XRD。廣州臺式粉末衍射儀儀器原理

XRD設備的基本構造是什么樣的？臺式XRD廠家電話

X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。因此,X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現代科學方法,已逐步在各學科研究和生產中普遍應用。 X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣,本質上都屬于電磁波,只是彼此之間占據不同的波長范圍而已。X射線的波長較短,大約在10-8～10-10cm之間。當X射線照射到晶體物質上,由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級,故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產生強X射線衍射,衍射線在空間分布的方位和強度,與晶體結構密切相關不同的晶體物質具有自己獨特的衍射樣,這就是X射線衍射的基本原理。臺式XRD廠家電話

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