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來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2022-11-14

XRD設(shè)備的主要功能及特色:應(yīng)用于晶體物質(zhì)定性和定量相分析,結(jié)晶學(xué)分析,結(jié)構(gòu)解析、織構(gòu)和殘余應(yīng)力分析等;可以分析黏土礦物、合金、陶瓷、食品、藥物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、超導(dǎo)材料、納米材料物相鑒定,材料可以是單晶體、多晶體、薄膜等片狀、塊狀、粉末狀固體。能在控制氣氛和程序控溫條件下現(xiàn)場(chǎng)原位分析物質(zhì)結(jié)構(gòu)的變化。配備lynxeye 超能檢測(cè)器,使檢測(cè)靈敏度提高一個(gè)量級(jí),可以達(dá)到或超出旋轉(zhuǎn)陽(yáng)極靶的效果。XRD設(shè)備注意事項(xiàng):對(duì)涉及安全的X射線衍射儀設(shè)備,操作時(shí)應(yīng)有必要的隔離措施和警示標(biāo)志。布魯克D8 Advance

XRD設(shè)備概述:X射線衍射作為一電磁波投射到晶體中時(shí),會(huì)受晶體中原子的影響出現(xiàn)衍射現(xiàn)象。每種晶體內(nèi)部的原子排列方式是獨(dú)一的,因此對(duì)應(yīng)的衍射花樣是獨(dú)一的,從而可以進(jìn)行物相分析。XRD設(shè)備可以進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸:儀器通過(guò)USB, 藍(lán)牙,WIFI與筆記本電腦實(shí)現(xiàn)高速連接,實(shí)時(shí)對(duì)映SHINE儀器進(jìn)行控制及物相分析。良好的環(huán)境適應(yīng)性:專為地質(zhì)考察而研制,儀器可防霧、防塵、防震動(dòng),能適應(yīng)惡劣的使用環(huán)境。安全性:專業(yè)的多重防護(hù)輻射處理,測(cè)量時(shí)儀器多方位無(wú)任何輻射泄漏。深圳進(jìn)口布魯克D8 AdvanceXRD設(shè)備可在大氣中無(wú)損分析樣品,進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定等。

XRD設(shè)備如此的受歡迎,主要是因?yàn)椋篨RD設(shè)備具有高計(jì)數(shù)率和好的角分辨率,是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇。LYNXEYEXE-T具有優(yōu)于380eV的能量分辨率,著實(shí)出色,是市面上性能好的的熒光過(guò)濾器探測(cè)器系統(tǒng)。借助它,您可在零強(qiáng)度損失下對(duì)由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進(jìn)行100%過(guò)濾,而且無(wú)需金屬濾波片,因此數(shù)據(jù)也不會(huì)存在偽影,如殘余K?和吸收邊。同樣,也無(wú)需用到會(huì)消除強(qiáng)度的二級(jí)單色器。提供獨(dú)有的LYNXEYEXE-T探測(cè)器保證:交貨時(shí)保證無(wú)壞道!

快速完成定量性XRD分析的幾個(gè)步驟:只需執(zhí)行幾個(gè)簡(jiǎn)單的步驟,就可運(yùn)行一次檢測(cè):1.制備樣品。首先,將樣品研磨成粉末狀。樣品制備非常容易,就是使用工具敲碎被測(cè)材料。用于制備樣品的工具配件隨分析儀附送,這些工具可使樣品的采集和制備工作易如反掌。2.篩濾樣品。使樣品通過(guò)篩子或者使用便攜式研磨器,獲得較細(xì)的粉末狀樣品。奧林巴斯XRD分析儀只需將樣品研磨成150微米的粉末即可。3.振動(dòng)樣品。使用小鏟將樣品放入到振動(dòng)樣品托架上。這個(gè)獨(dú)特的樣品托架可以確保樣品不受擇優(yōu)定向效應(yīng)的影響。4.開(kāi)始檢測(cè)。按下分析儀上的開(kāi)始采集按鈕,開(kāi)始檢測(cè)。在分析樣品的過(guò)程中,可以將XRD分析儀連接到筆記本電腦、平板電腦、智能手機(jī)或其他具有無(wú)線連通性能的設(shè)備,實(shí)時(shí)觀察X射線衍射圖案。還可以對(duì)設(shè)置進(jìn)行調(diào)整,以在一段預(yù)先設(shè)定的時(shí)間后自動(dòng)傳輸數(shù)據(jù),或者在按下停止按鈕時(shí)傳輸數(shù)據(jù)。5.查看結(jié)果。現(xiàn)在就可以使用衍射圖案制作報(bào)告了。在制作報(bào)告之前,還可以對(duì)結(jié)果進(jìn)行編輯。XRD設(shè)備特點(diǎn):零噪音, 單光子檢測(cè)的靈敏度。

XRD設(shè)備支持所有基于X射線衍射和散射的材料研究應(yīng)用,包括定性和定量相分析、結(jié)構(gòu)分析、高分辨率X射線衍射、反射率測(cè)量、倒易空間掃描、掠入射衍射(面內(nèi)GID)、掠入射小角X射線散射(GISAXS)、應(yīng)力分析和織構(gòu)分析以及微區(qū)衍射,具體取決于使用的附件。無(wú)論面對(duì)何種應(yīng)用,XRD設(shè)備都會(huì)指引用戶選擇較佳的儀器配置。軟件包可通過(guò)精簡(jiǎn)的分析方法制定與執(zhí)行,來(lái)對(duì)新手用戶進(jìn)行指導(dǎo),同時(shí)以低調(diào)的方式為**提供協(xié)助。借助強(qiáng)大的分析軟件,那些希望獲取較佳結(jié)果的人員,只需按下按鍵,就可獲得深入的分析結(jié)果。為什么XRD數(shù)據(jù)的峰強(qiáng)度較低,甚至沒(méi)有明顯的衍射峰呢?廣州布魯克D2 Phaser應(yīng)用原理

XRD 衍射強(qiáng)度和峰的寬度與樣品顆粒大小,還是與晶體顆粒大小有關(guān)?布魯克D8 Advance

XRD設(shè)備的注意事項(xiàng):(1)固體樣品表面>10×10mm,厚度在5μm以上,表面必須平整,可以用幾塊粘貼一起。(2)對(duì)于片狀、圓拄狀樣品會(huì)存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向,衍射強(qiáng)度異常,需提供測(cè)試方向。(3)對(duì)于測(cè)量金屬樣品的微觀應(yīng)力(晶格畸變),測(cè)量殘余奧氏體,要求制備成金相樣品,并進(jìn)行普通拋光或電解拋光,消除表面應(yīng)變層。(4)粉末樣品要求磨成320目的粒度,直徑約40微米,重量大于5g。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生特有的衍射圖譜。布魯克D8 Advance

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