顯微鏡常見故障的排除：

一、顯微鏡燈泡不亮1、檢查電源線是否有松動(dòng)，插座是否正常。2、檢查保險(xiǎn)絲是否燒斷（保險(xiǎn)絲多在機(jī)身電源接口處），如燒斷了則更換保險(xiǎn)絲。3、更換備用燈泡，注意在更換過程中不要手指直接接觸到燈泡。

二、顯微鏡無法對(duì)焦成像1、檢查調(diào)焦限位機(jī)構(gòu)是否沒調(diào)節(jié)好，導(dǎo)致工作距離不夠。2、檢查樣品是否放反。

三、低倍下成像清晰，高倍下成像較模糊1、高倍下對(duì)樣品厚度和平整度有更高要求，檢查樣品是否平整。2、蓋玻片位置是否放反，注意蓋玻片朝上。3、生物顯微鏡應(yīng)注意100X物鏡是否滴油，物鏡是否干凈。4、切換到高倍鏡時(shí)，聚光鏡上的孔徑光闌相應(yīng)調(diào)大。

探針臺(tái)顯微鏡的選型；成都mitutoyo顯微鏡

掃描透射電子顯微鏡 (STEM) 基本原理

場(chǎng)發(fā)射電子槍激發(fā)的電子束經(jīng)過復(fù)雜的聚光系統(tǒng)后被匯聚成為原子尺度的電子束斑，作為高度聚焦的電子探針，在掃描線圈的控制下對(duì)樣品進(jìn)行逐點(diǎn)光柵掃描。STEM成像不同于平行電子束的TEM，其利用聚集的電子束在樣品上掃描。與SEM不同之處在于探測(cè)器置于試樣下方，探測(cè)器接收透射電子束流或彈性散射電子束流，經(jīng)放大后在熒光屏上顯示出明場(chǎng)像和暗場(chǎng)像。各種成像模式收集散射信號(hào)的接收角度不同，因此可獲取同一位置的不同圖像，從而反應(yīng)材料的不同信息，有環(huán)形明場(chǎng)像（ABF）、環(huán)形暗場(chǎng)像（ADF）、高角環(huán)形暗場(chǎng)像（HAADF）。 FS70L顯微鏡產(chǎn)品介紹體視顯微鏡的放大倍數(shù)一般在5-100倍之間， 一般有透射光，斜射光和外部環(huán)形光源等照明方式。

共聚焦顯微鏡掃描時(shí)用的是激光光源，激光的穿透力強(qiáng)，可對(duì)樣本進(jìn)行一定深度的光學(xué)斷層，從而獲得高標(biāo)準(zhǔn)的連續(xù)光學(xué)切片，由此做Z軸光學(xué)切片后重組出3D效果就能立體地展示樣品里熒光的空間分布。配有高精度電動(dòng)載物臺(tái)和圖像拼接軟件，能完美解決放大倍數(shù)和整體成像這一問題?？勺鰰r(shí)間序列拍攝，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)熒光變化，可以把熒光變化的過程以動(dòng)態(tài)的形式展示出來。

共聚焦的應(yīng)用很廣，像離體細(xì)胞、組織切片、物理材料、模式生物等熒光樣本都可以用共聚焦進(jìn)行拍攝，除了常規(guī)的熒光圖片拍攝進(jìn)行定性定位外，還可以進(jìn)行熒光的半定量分析、共定位分析、熒光漂白恢復(fù)（FRAP）、熒光共振能量轉(zhuǎn)換(FRET)等，但也要注意一下，常規(guī)405-647nm之間的激發(fā)波長(zhǎng)都可以支持。

探針應(yīng)用的顯微鏡STM和AFM的原理其實(shí)就是利用探針與樣品間的距離進(jìn)行測(cè)繪得到的樣子，也可以說是根據(jù)樣品與探針間測(cè)量得到的距離，將圖像畫下來的樣子。當(dāng)然，具體原理還是有點(diǎn)不一樣的。為什么會(huì)有兩種“探針型”的顯微鏡，STM顯微鏡因?yàn)樾枰獪y(cè)定電流，因此必須要求所測(cè)樣品需要具有導(dǎo)電性，而AFM顯微鏡因?yàn)橹恍枰獪y(cè)定相互作用力，因此不需要考慮測(cè)定電流，所以相比STM顯微鏡可以測(cè)定更多類型樣品。而AFM的缺點(diǎn)則是其分辨率比STM要低，主要原因也是測(cè)量時(shí)候的原理及目前技術(shù)上的問題。首先測(cè)定形變是利用激光，在形變后激光的方向會(huì)發(fā)生偏折，因此測(cè)定的其實(shí)是激光的信息從而繪制的圖像。聚焦離子束（FIB）顯微鏡；

激光共焦掃描顯微鏡是點(diǎn)成像，因此要想獲得物體的二維圖像，需要借助于x和y方向的二維掃描。不同的顯微鏡采用不同的掃描方式：

(1)物體掃描。即物體本身按照一定的規(guī)律移動(dòng)，而光束保持不變。

優(yōu)點(diǎn)：光路穩(wěn)定；缺點(diǎn)：需要大幅度的掃描工作臺(tái)，因此掃描速度受到很大限制。

(2)利用反射式振鏡構(gòu)成光束掃描系統(tǒng)。即通過控制掃描振鏡將聚焦光點(diǎn)有規(guī)律地反射到物體某一層面，完成二維掃描。其優(yōu)點(diǎn)是精度較高，常用于高精度測(cè)量。掃描速度比物體掃描有所提高，但仍然不快 。

(3)使用聲光偏轉(zhuǎn)元件進(jìn)行掃描，通過改變聲波輸出頻率進(jìn)而改變光波的傳輸方向來實(shí)現(xiàn)掃描。其突出優(yōu)點(diǎn)是掃描速度非?？?，由美國(guó)研制的利用聲光偏轉(zhuǎn)器產(chǎn)生實(shí)時(shí)視頻圖像的掃描系統(tǒng)，掃描一幅二維圖像只需1/30s，幾乎做到了實(shí)時(shí)輸出。

(4)Nipkow盤掃描，其掃描過程是通過旋轉(zhuǎn)Nipkow盤而保持其他元件不動(dòng)完成的，可以一次成像，速度非?？?。但是由于成像光束是軸外光，所以必須對(duì)透鏡的軸外像差進(jìn)行校正，并且光能利用率很低 體視顯微鏡的廣泛應(yīng)用；共聚焦顯微鏡廠家直銷

顯微鏡的規(guī)范操作教程；成都mitutoyo顯微鏡

激光共聚焦顯微鏡可以將水平分辨率提高40%以上，其優(yōu)勢(shì)可以達(dá)到120nm。激光共聚焦顯微鏡具有高度適應(yīng)性，并且是非接觸式檢測(cè)。為了改善場(chǎng)景的深度，必須在高度方向上進(jìn)行掃描以獲得一系列切片，然后重疊以獲得三維圖像。激光共聚焦顯微鏡不需要樣品制備和電導(dǎo)率處理，并且樣品沒有損壞(可以檢測(cè)粉末，軟樣品和透明樣品)。激光共聚焦顯微鏡具有豐富的測(cè)量結(jié)果，高分辨率的2D和3D攝影。各種2D和3D顯示結(jié)果的比較，大面積圖像樣條曲線，非接觸粗糙度測(cè)量，膜厚度測(cè)量，熒光分析等。操作和維護(hù)都很簡(jiǎn)單。激光共聚焦顯微鏡不需要昂貴的材料，模塊設(shè)計(jì)，用戶友好的操作軟件以及自動(dòng)校正程序。成都mitutoyo顯微鏡

上海波銘科學(xué)儀器有限公司成立于2013-06-03，是一家專注于拉曼光譜儀，電動(dòng)位移臺(tái)，激光器，光電探測(cè)器的****，公司位于望園南路1288弄80號(hào)1904、1909室。公司經(jīng)常與行業(yè)內(nèi)技術(shù)**交流學(xué)習(xí)，研發(fā)出更好的產(chǎn)品給用戶使用。公司現(xiàn)在主要提供拉曼光譜儀，電動(dòng)位移臺(tái)，激光器，光電探測(cè)器等業(yè)務(wù)，從業(yè)人員均有拉曼光譜儀，電動(dòng)位移臺(tái)，激光器，光電探測(cè)器行內(nèi)多年經(jīng)驗(yàn)。公司員工技術(shù)嫻熟、責(zé)任心強(qiáng)。公司秉承客戶是上帝的原則，急客戶所急，想客戶所想，熱情服務(wù)。公司會(huì)針對(duì)不同客戶的要求，不斷研發(fā)和開發(fā)適合市場(chǎng)需求、客戶需求的產(chǎn)品。公司產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域廣，實(shí)用性強(qiáng)，得到拉曼光譜儀，電動(dòng)位移臺(tái)，激光器，光電探測(cè)器客戶支持和信賴。上海波銘科學(xué)儀器有限公司以誠(chéng)信為原則，以安全、便利為基礎(chǔ)，以優(yōu)惠價(jià)格為拉曼光譜儀，電動(dòng)位移臺(tái)，激光器，光電探測(cè)器的客戶提供貼心服務(wù)，努力贏得客戶的認(rèn)可和支持，歡迎新老客戶來我們公司參觀。