M系列探針臺(tái)是我司一款基于高校教育與實(shí)驗(yàn)室而研發(fā)的基礎(chǔ)型晶圓測(cè)試探針臺(tái)。其結(jié)構(gòu)緊湊，設(shè)計(jì)精密，價(jià)格實(shí)惠，在高等院校教學(xué)和小型實(shí)驗(yàn)室科研過(guò)程中得到運(yùn)用。配合對(duì)應(yīng)的儀器儀表，可以用于測(cè)試各類器件的IV/CV,PIV,光電信號(hào)等。也可以放置于手套箱內(nèi)，配合特殊氣氛使用。一般適用于學(xué)校和工廠小型實(shí)驗(yàn)室。產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：探針臺(tái)與顯示器一體化設(shè)計(jì)，大大減小了設(shè)備的占地空間具備自適應(yīng)減震系統(tǒng)，一定程度上可防止外界震動(dòng)的干擾U型平臺(tái)鍍鎳設(shè)計(jì)，不僅增大了針座的加載空間，還提高了針座平臺(tái)和針座之間的吸附力 了解探針臺(tái)的使用步驟。湖南FINFET探針臺(tái)

自動(dòng)探針臺(tái)是一款適合6寸、8寸、12寸晶圓的量產(chǎn)型全自動(dòng)晶圓探針臺(tái)，通過(guò)使探針卡與晶圓Pad點(diǎn)之間精細(xì)接觸，實(shí)現(xiàn)完成晶圓WAT/CP測(cè)試，該設(shè)備操作簡(jiǎn)單并具有良好的機(jī)械穩(wěn)定性，能為客戶提供一個(gè)具有成本優(yōu)勢(shì)且高產(chǎn)量的晶圓測(cè)試解決方案，滿足晶圓廠、封測(cè)廠、測(cè)試廠等不同客戶的測(cè)試需求。經(jīng)過(guò)不斷的技術(shù)迭代更新，A系列全自動(dòng)探針臺(tái)已擁有同步國(guó)外的先進(jìn)技術(shù)：低噪聲、快速移動(dòng)、高產(chǎn)能、采用缺口和晶圓ID同步識(shí)別，減少了晶圓的加載時(shí)間；低重心設(shè)計(jì)，支持高針數(shù)探針卡，非標(biāo)探針臺(tái)探針臺(tái)的探針的清洗。

高低溫探針臺(tái)優(yōu)勢(shì)1.滿足各種溫度的需求：可以滿足非常高的溫度或非常低的溫度的需求，因?yàn)榫A在低溫大氣環(huán)境測(cè)試時(shí)，空氣中的水汽會(huì)凝結(jié)在晶圓上，會(huì)導(dǎo)致漏電過(guò)大而使測(cè)試失敗。避免這些需要把真空腔內(nèi)的水汽在測(cè)試前用泵抽走，并且保持整個(gè)測(cè)試過(guò)程泵的運(yùn)轉(zhuǎn)。當(dāng)晶圓加熱至300℃,400℃,500℃甚至更高溫度時(shí)，氧化現(xiàn)象會(huì)越來(lái)越明顯，并且溫度越高氧化越嚴(yán)重。過(guò)度氧化會(huì)導(dǎo)致晶圓電性誤差，物理和機(jī)械形變。避免這些需要把真空腔內(nèi)的氧氣在測(cè)試前用泵抽走，并且保持整個(gè)測(cè)試過(guò)程泵的運(yùn)轉(zhuǎn)。晶圓測(cè)試過(guò)程中溫度在低溫和高溫中變換，因?yàn)闊崦浝淇s現(xiàn)象，定位好的探針與器件間會(huì)有相對(duì)位移，這時(shí)需要針座的重新定位，我們針座位于腔體外部。我們也可以選擇使用操作桿控制的自動(dòng)化針座來(lái)調(diào)整探針的位置。2、體積小，穩(wěn)定性高：與傳統(tǒng)探針臺(tái)相比，高低溫真空探針臺(tái)的穩(wěn)定性更高，采用先進(jìn)的技術(shù)工藝，讓探針臺(tái)在工作過(guò)程中流暢性更高，平穩(wěn)性更高，從而保證每次實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性，這樣實(shí)驗(yàn)得出的結(jié)果就會(huì)更加準(zhǔn)確。3、成本更低，可兼容直流跟射頻測(cè)試的運(yùn)用：與傳統(tǒng)探針臺(tái)相比，這種探針臺(tái)采用先進(jìn)的合成材料，成本方面比傳統(tǒng)探針臺(tái)更低，但是功能性都更加強(qiáng)大。

探針臺(tái)應(yīng)用手動(dòng)探針臺(tái)廣泛應(yīng)用于，科研單位研發(fā)測(cè)試、院校教學(xué)操作、企業(yè)實(shí)驗(yàn)室芯片失效分析等領(lǐng)域。一般使用于研發(fā)測(cè)試階段 ，批量不是很大的情況，大批量的重復(fù)測(cè)試推薦使用探卡。主要功能：搭配外接測(cè)試測(cè)半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀、示波器、網(wǎng)分等測(cè)試源表，量測(cè)半導(dǎo)體器件IV CV脈沖/動(dòng)態(tài)IV等參數(shù)。用途：以往如果需要測(cè)試電子元器件或系統(tǒng)的基本電性能（如電流、電壓、阻抗等）或工作狀態(tài)，測(cè)試人員一般會(huì)采用表筆去點(diǎn)測(cè)。隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，對(duì)于精密微?。{米級(jí)）的微電子器件（如IC、晶圓、芯片、LCD Array、CMOS Camera Module、Pitch微小的Connector），表筆點(diǎn)到被測(cè)位置就顯得無(wú)能為力了。于是一種高精度探針座應(yīng)運(yùn)而生,利用高精度微探針將被測(cè)原件的內(nèi)部訊號(hào)引導(dǎo)出來(lái)，便于其電性測(cè)試設(shè)備（不屬于本機(jī)器）對(duì)此測(cè)試、分析。半導(dǎo)體測(cè)驗(yàn)設(shè)備首要包含測(cè)機(jī)、探針臺(tái)和分選機(jī)。

探針臺(tái)是半導(dǎo)體行業(yè)重要的檢測(cè)裝備之一，其廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。半導(dǎo)體測(cè)試可以按生產(chǎn)流程可以分為三類：驗(yàn)證測(cè)試、晶圓測(cè)試測(cè)試、封裝檢測(cè)。探針臺(tái)主要用于晶圓制造環(huán)節(jié)的晶圓檢測(cè)、芯片研發(fā)和故障分析等應(yīng)用。除探針臺(tái)外，晶圓檢測(cè)環(huán)節(jié)還需要使用測(cè)試儀/機(jī)，測(cè)試儀/機(jī)用于檢測(cè)芯片功能和性能，探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)被測(cè)芯片與測(cè)試機(jī)的連接，通過(guò)探針臺(tái)和測(cè)試機(jī)的配合使用，可以對(duì)晶圓上的裸芯片進(jìn)行功能和電參數(shù)測(cè)試或射頻測(cè)試，可以對(duì)芯片的良品、不良品的進(jìn)行篩選。經(jīng)濟(jì)實(shí)惠高性價(jià)比的手動(dòng)探針臺(tái)。探針臺(tái)廠家供應(yīng)

探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)。湖南FINFET探針臺(tái)

探針臺(tái)怎么選合適的配置，怎么確定精度？通常需要確定以下問(wèn)題來(lái)確定探針臺(tái)的選型：8、是否會(huì)用到探針卡？9、光學(xué)顯微鏡的**小分辨率需要用到多少？10、顯微鏡方面，是否需要添加偏光片做LC液晶熱點(diǎn)偵測(cè)？11、接駁的測(cè)試儀器接口有哪些？12、測(cè)試環(huán)境時(shí)是否會(huì)需要加熱或者降溫？13、對(duì)chuck的漏電要求怎樣？是否需要添加低阻抗chuck？14、是否需要防震桌？15、若添置防震桌，是否有壓縮空氣？16、您的預(yù)算多少？項(xiàng)目計(jì)劃什么時(shí)候落實(shí)采購(gòu)？湖南FINFET探針臺(tái)

上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要經(jīng)營(yíng)范圍是儀器儀表，擁有一支專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)和良好的市場(chǎng)口碑。公司業(yè)務(wù)分為拉曼光譜儀，電動(dòng)位移臺(tái)，激光器，光電探測(cè)器等，目前不斷進(jìn)行創(chuàng)新和服務(wù)改進(jìn)，為客戶提供良好的產(chǎn)品和服務(wù)。公司將不斷增強(qiáng)企業(yè)重點(diǎn)競(jìng)爭(zhēng)力，努力學(xué)習(xí)行業(yè)知識(shí)，遵守行業(yè)規(guī)范，植根于儀器儀表行業(yè)的發(fā)展。波銘科儀立足于全國(guó)市場(chǎng)，依托強(qiáng)大的研發(fā)實(shí)力，融合前沿的技術(shù)理念，及時(shí)響應(yīng)客戶的需求。