探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)滾珠絲杠副和導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)相對(duì)于平面電機(jī)工作臺(tái)，絲杠導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)結(jié)構(gòu)組成較復(fù)雜，工作臺(tái)由上層（x向）及下層（y向）兩部分組成。工作臺(tái)由兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)分別驅(qū)動(dòng)x、y向精密滾珠絲杠副帶動(dòng)工作臺(tái)運(yùn)動(dòng)，導(dǎo)向部分采用精密直線滾動(dòng)導(dǎo)軌。由于運(yùn)動(dòng)部分全部采用滾動(dòng)功能部件，所以具有傳動(dòng)效率高、摩擦力矩小，使用壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)。這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)應(yīng)放置在溫度23±3 ℃，濕度≤70%，無有害氣體的環(huán)境中，滾珠絲杠、直線導(dǎo)軌應(yīng)定期加精密儀表油，但不可過多，值得指出的是，這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)在裝配過程中，從直線導(dǎo)軌的直線性，上下層工作臺(tái)之間的垂直度以及工作臺(tái)的重復(fù)性，定位精度等都是用專業(yè)的儀器儀表調(diào)整，用戶一般情況不能輕易改變，一旦盲目調(diào)整后很難恢復(fù)到原來的狀態(tài)，所以對(duì)需要調(diào)整的工作臺(tái)應(yīng)有專業(yè)生產(chǎn)廠家或經(jīng)過培訓(xùn)的專業(yè)人員完成。極端環(huán)境下給樣品加載電學(xué)信號(hào)的探針臺(tái)設(shè)備。磁場(chǎng)探針臺(tái)

光電流測(cè)試探針臺(tái)系統(tǒng)是在金相顯微鏡基礎(chǔ)上導(dǎo)入另一路光源，用于輻照樣品以測(cè)試樣品在特定波長(zhǎng)及能量下的電氣特性等測(cè)試目的。l本顯微鏡設(shè)計(jì)為雙光路或3光路，其中一路為導(dǎo)入光通路，另一到兩路為成像光路導(dǎo)入光為平行的激光或其它線性光源，波長(zhǎng)范圍200nm~20000nm，中間可加入多個(gè)波片過濾，起偏及偏振角度無級(jí)360度調(diào)節(jié)。光斑輻照直徑有650nm紅光指示。l所有模塊均可拉出設(shè)計(jì)，對(duì)導(dǎo)入光性質(zhì)無影響。導(dǎo)入光光路可選擇一個(gè)光時(shí)間開關(guān)，精確控制導(dǎo)入光的輻照時(shí)間，精度1ms，范圍2ms~∞，在控制界面上可對(duì)各種參數(shù)進(jìn)行詳細(xì)設(shè)置。成像光路為同軸照明金相成像，其中一路為1倍成像，可選擇第2路成像，為物鏡的0.25~10倍率，通常在高低溫測(cè)試系統(tǒng)里會(huì)用到，同一個(gè)物鏡不切換，得到兩個(gè)不同視野的成像。南昌大功率測(cè)試探針臺(tái)探針臺(tái)搭配源表或者半導(dǎo)體參數(shù)分析儀進(jìn)行電參數(shù)測(cè)試。

    微納探針臺(tái)可在納米尺度上對(duì)樣品和測(cè)試設(shè)備進(jìn)行電學(xué)表特征：1、快速、精確、穩(wěn)定微納探針臺(tái)包含4個(gè)壓電三軸探針臂，每個(gè)三軸配備1個(gè)可拆卸式電學(xué)探針接口，可在毫米級(jí)尺度上進(jìn)行宏觀運(yùn)動(dòng)并實(shí)現(xiàn)納米尺度上的微觀運(yùn)動(dòng)。2、使用場(chǎng)景多樣化微納探針臺(tái)結(jié)構(gòu)緊湊，占用空間小，運(yùn)動(dòng)行程大，可匹配各種顯微鏡樣品臺(tái)，真空室，光學(xué)試驗(yàn)臺(tái)等工作條件。3、完善的技術(shù)解決方案微納探針臺(tái)與尼康金相顯微鏡/SR-Scopel集成形成的探針臺(tái)電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，為宏觀行程上進(jìn)行的微觀尺度電學(xué)及表征測(cè)量提供了具體的解決方案。4、直觀、方便微納探針臺(tái)通過手柄控制，具有多級(jí)宏觀調(diào)速，脈沖運(yùn)動(dòng)，以及位移微調(diào)功能，宏觀運(yùn)動(dòng)速度跨度在5um/s~2mm/s，單點(diǎn)脈沖步進(jìn)可達(dá)300nm以下，微調(diào)運(yùn)動(dòng)分辨率小于1nm，在顯微鏡下操作更直觀，方便，精細(xì)。5、高度集成微納探針臺(tái)電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，配備完善的光學(xué)顯微鏡模塊，配備亮度調(diào)節(jié)，增益和變焦等功能，與電腦連接后，可實(shí)現(xiàn)圖像快照，尺寸測(cè)量和標(biāo)注，視頻記錄等常規(guī)功能。

手動(dòng)探針臺(tái)的維護(hù)和保養(yǎng)1.避免碰撞：在安裝，操作CS探針臺(tái)時(shí)應(yīng)避免碰撞，機(jī)體放置需平坦，不可傾斜或橫倒，避免機(jī)器發(fā)生故障或異常異音。2.儀器的運(yùn)輸：儀器運(yùn)輸時(shí)，請(qǐng)先拔掉電源線插頭。儀器運(yùn)輸應(yīng)使用專門的包裝箱，避免碰到探針臺(tái)的任何運(yùn)動(dòng)部件。3.儀器的存放使用完后需要注意保持清潔，盡量把灰塵吹干盡，以免灰塵將機(jī)械精密部件，光學(xué)部件，電學(xué)接觸面污染，導(dǎo)致儀器精度降低。探針臺(tái)機(jī)體清潔時(shí)，避免直接潑水清理，以無塵布輕輕擦拭并吹干即可。不可用硬物接觸機(jī)器，以免發(fā)生故障或危險(xiǎn)。探針臺(tái)光學(xué)部件清潔時(shí)，可用鏡頭紙蘸無水酒精從中間向外輕輕的擦拭。無水酒精時(shí)易燃物，注意使用安全。停電或長(zhǎng)期不用、外出旅行時(shí)，請(qǐng)將電源線插頭拔掉以維護(hù)機(jī)器壽命。操作人員必須嚴(yán)格按要求操作，以保證數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確和儀器的正常使用。4.工作環(huán)境探針臺(tái)應(yīng)放在穩(wěn)定可靠的臺(tái)面上，比較好是具有防震裝置的工作臺(tái)上，避免在高溫，潮濕激烈震動(dòng)，陽(yáng)光直接照射和灰塵較多的環(huán)境下使用。使用比較好溫度范圍為5℃～40℃，比較好濕度是40%到85%，空氣中之濕度若低于30%以下，可靠濕度控制器予以控制，使維持50%～60%之范圍。使用時(shí)門窗盡可能關(guān)閉探針臺(tái)與顯示器一體化設(shè)計(jì)。

提到手動(dòng)探針臺(tái)，大家就會(huì)對(duì)操作系統(tǒng)感興趣，因?yàn)槭謩?dòng)與自動(dòng)的非常大的區(qū)別在于需要人工干預(yù)探針臺(tái)的工作，加工工作需要靠機(jī)械和人力共同完成，這就關(guān)系到各個(gè)廠家車間加工的技術(shù)人員了，也有很多朋友非常關(guān)心探針臺(tái)的價(jià)格，擔(dān)心會(huì)因?yàn)閳D便宜而影響探針臺(tái)的性能，其實(shí)，如果大家選擇了創(chuàng)譜，這些都不是問題。1、探針臺(tái)類型：例如準(zhǔn)確測(cè)量型探針臺(tái)、綜合分析型探針臺(tái)、高低溫真空探針臺(tái)等，能夠滿足不同工作環(huán)境的需求。2、質(zhì)量非常有保證：每一臺(tái)手動(dòng)探針臺(tái)都是新機(jī)，并且還能提供定制服務(wù)，專門針對(duì)廠家的需求辦事，即便是手動(dòng)操作也能實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確加工。3、經(jīng)濟(jì)實(shí)惠：堅(jiān)持為每一位客戶提供上門安裝教學(xué)的服務(wù)，并且提供更加安全有保障的售后服務(wù)，幫助大家在短時(shí)間內(nèi)上手，實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確操作手動(dòng)探針臺(tái)工作，即便是合成電路、測(cè)試設(shè)備、硬件軟件測(cè)試等等，輕而易舉解決這些細(xì)節(jié)難題!半導(dǎo)體探測(cè)系統(tǒng)是一種成熟的工具，用于測(cè)試硅晶片，裸片和開放式微芯片上的電路和器件。MOS管探針臺(tái)廠家供應(yīng)

經(jīng)濟(jì)實(shí)惠高性價(jià)比的手動(dòng)探針臺(tái)。磁場(chǎng)探針臺(tái)

手動(dòng)探針臺(tái)是廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的綜合經(jīng)濟(jì)型測(cè)試儀器，主要用于半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)檢測(cè)。手動(dòng)探針臺(tái)是通過兩根探針以及吸片盤夠成的回路以及相應(yīng)大型電參數(shù)測(cè)試儀對(duì)芯片中的集成電路進(jìn)行檢測(cè)的。應(yīng)用范圍：手動(dòng)探針臺(tái)主要用于對(duì)生產(chǎn)及科研中的集成電路、三極管、二極管、可控硅及敏感元件管芯的電壓、電流、電阻等參數(shù)進(jìn)行手動(dòng)測(cè)試。極低溫測(cè)試:因?yàn)榫A在低溫大氣環(huán)境測(cè)試時(shí)，空氣中的水汽會(huì)凝結(jié)在晶圓上，會(huì)導(dǎo)致漏電過大或者探針無法接觸電極而使測(cè)試失敗。避免這些需要把真空腔內(nèi)的水汽在測(cè)試前用泵抽走，并且保持整個(gè)測(cè)試過程泵的運(yùn)轉(zhuǎn)。高溫?zé)o氧化測(cè)試：當(dāng)晶圓加熱至300℃,400℃,500℃甚至更高溫度時(shí)，氧化現(xiàn)象會(huì)越來越明顯，并且溫度越高氧化越嚴(yán)重。過度氧化會(huì)導(dǎo)致晶圓電性誤差，物理和機(jī)械形變。避免這些需要把真空腔內(nèi)的氧氣在測(cè)試前用泵抽走，并且保持整個(gè)測(cè)試過程泵的運(yùn)轉(zhuǎn)。晶圓測(cè)試過程中溫度在低溫和高溫中變換，因?yàn)闊崦浝淇s現(xiàn)象，定位好的探針與器件電極間會(huì)有相對(duì)位移，這時(shí)需要針座的重新定位，針座位于腔體外部。我們也可以選擇使用操作桿控制的自動(dòng)化針座來調(diào)整探針的位置。磁場(chǎng)探針臺(tái)

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