掃描探針顯微鏡控制器通過(guò)掃描器在豎直舛由方向移動(dòng)樣品以使探針和樣品之間的距離(或相互作用的物理量)穩(wěn)定在某一固定值;同時(shí)在x-y水平平面移動(dòng)樣品，使探針按照掃描路徑掃描樣品表面。掃描探針顯微鏡在穩(wěn)定探針與樣品間距的情況下，檢測(cè)系統(tǒng)檢測(cè)探針與樣品之間相互作用的相關(guān)物理量信號(hào);在穩(wěn)定相互作用物理量的情況下，則通過(guò)豎直方向礴由位移傳感器檢測(cè)探針與樣品之問(wèn)距離。圖像系統(tǒng)則根據(jù)檢測(cè)信號(hào)(或探針與樣品間距)對(duì)樣品表面進(jìn)行成像等圖像處理。透射電鏡主要應(yīng)用于半導(dǎo)體、材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域。變倍 顯微鏡規(guī)格

掃描透射電子顯微鏡 (STEM) 是什么？

掃描透射電子顯微鏡（Scanning Transmission Electron Microscopy， STEM）由透射電子顯微鏡（TEM）發(fā)展而來(lái)，指透射電子顯微鏡中有掃描附件者，尤其是指采用場(chǎng)發(fā)射電子槍作成的掃描透射電子顯微鏡。掃描透射電子顯微分析是綜合了掃描和普通透射電子分析的原理和特點(diǎn)而出現(xiàn)的一種新型分析方式，其空間分辨率可達(dá)亞埃米級(jí)，可在納米和原子尺度上對(duì)材料微結(jié)構(gòu)與精細(xì)化學(xué)組分的表征與分析。在冶金、材料、環(huán)境科學(xué)、生物科學(xué)等領(lǐng)域具有巨大應(yīng)用潛力。 變倍 顯微鏡規(guī)格體視顯微鏡的廣泛應(yīng)用；

透射電鏡的工作過(guò)程與光學(xué)顯微鏡類(lèi)似。在光學(xué)顯微鏡中聚焦后的可見(jiàn)光射向樣品，穿過(guò)樣品的光經(jīng)過(guò)物鏡、目鏡等光學(xué)系統(tǒng)聚焦后被眼睛接收。在電子顯微鏡中，可見(jiàn)光由電子槍發(fā)射出來(lái)的電子束所代替,在陽(yáng)極加速電壓的作用下，電子經(jīng)過(guò)2、3個(gè)電磁透鏡會(huì)聚為電子束，用來(lái)照明樣品薄片 (電子的穿透能力很弱，因此樣品必須很薄)，穿過(guò)樣品薄片的電子攜帶了樣品本身的結(jié)構(gòu)信息，經(jīng)物鏡、中間鏡和投影鏡所組成的成像系統(tǒng)的接力聚焦放大以圖像或衍射譜的形式顯示于熒光屏或感光材料上。

激光共焦掃描顯微鏡是點(diǎn)成像，因此要想獲得物體的二維圖像，需要借助于x和y方向的二維掃描。不同的顯微鏡采用不同的掃描方式：

(1)物體掃描。即物體本身按照一定的規(guī)律移動(dòng)，而光束保持不變。

優(yōu)點(diǎn)：光路穩(wěn)定；缺點(diǎn)：需要大幅度的掃描工作臺(tái)，因此掃描速度受到很大限制。

(2)利用反射式振鏡構(gòu)成光束掃描系統(tǒng)。即通過(guò)控制掃描振鏡將聚焦光點(diǎn)有規(guī)律地反射到物體某一層面，完成二維掃描。其優(yōu)點(diǎn)是精度較高，常用于高精度測(cè)量。掃描速度比物體掃描有所提高，但仍然不快 。

(3)使用聲光偏轉(zhuǎn)元件進(jìn)行掃描，通過(guò)改變聲波輸出頻率進(jìn)而改變光波的傳輸方向來(lái)實(shí)現(xiàn)掃描。其突出優(yōu)點(diǎn)是掃描速度非?？?，由美國(guó)研制的利用聲光偏轉(zhuǎn)器產(chǎn)生實(shí)時(shí)視頻圖像的掃描系統(tǒng)，掃描一幅二維圖像只需1/30s，幾乎做到了實(shí)時(shí)輸出。

(4)Nipkow盤(pán)掃描，其掃描過(guò)程是通過(guò)旋轉(zhuǎn)Nipkow盤(pán)而保持其他元件不動(dòng)完成的，可以一次成像，速度非常快。但是由于成像光束是軸外光，所以必須對(duì)透鏡的軸外像差進(jìn)行校正，并且光能利用率很低 體視顯微鏡的放大倍數(shù)一般在5-100倍之間， 一般有透射光，斜射光和外部環(huán)形光源等照明方式。

顯微鏡透射照明的方式有兩種：（2）柯勒照明柯勒照明光學(xué)系統(tǒng)如圖2所示。光源經(jīng)聚光鏡前組成像在照明系統(tǒng)的視場(chǎng)光闌上；聚光鏡前組經(jīng)過(guò)聚光鏡后組成像于標(biāo)本處，同時(shí)也把照明系統(tǒng)視場(chǎng)光闌成像在無(wú)限遠(yuǎn)處，使之與遠(yuǎn)心物鏡的入射光瞳重合。柯勒照明中的前組聚光鏡稱(chēng)為柯勒鏡，它得到了光源的均勻照明，經(jīng)過(guò)聚光鏡后組成像在標(biāo)本上。故標(biāo)本上得到均勻的照明，這是柯勒照明的重要特點(diǎn)。聚光鏡中的孔徑光闌緊貼聚光鏡前組，通過(guò)聚光鏡后組所成的像，即聚光鏡的出射光瞳也與顯微鏡的物平面（標(biāo)本）貼近，故光闌起到了限制顯微鏡視場(chǎng)的作用?？吕照彰骶酃庀到y(tǒng)的出射光瞳和像方視場(chǎng)分別與顯微鏡的物方視場(chǎng)和入射光瞳重合，從而形成“視場(chǎng)對(duì)瞳、瞳對(duì)視場(chǎng)”的光管。探針臺(tái)用顯微鏡如何挑選；顯微鏡系統(tǒng)

顯微鏡的使用方法及步驟；變倍 顯微鏡規(guī)格

掃描探針顯微鏡的特點(diǎn)：

掃描探針顯微鏡是除了場(chǎng)離子顯微鏡和高分辨率透射電子顯微鏡之后的第三種以原子尺度觀察物質(zhì)結(jié)構(gòu)的顯微鏡。以掃描隧道顯微鏡(STM)為例，其橫向分辨率為0.1~0.2nm，縱向深度分辨率則為0.01nm，這樣的分辨率可以清楚地觀測(cè)到分布在樣品表面的單個(gè)原子或分子。同時(shí)，掃描探針顯微鏡還可以在空氣，其他氣體或液體環(huán)境下進(jìn)行觀察研究。掃描探針顯微鏡擁有原子分辨、原子搬運(yùn)、納米微加工等特點(diǎn)，但是由于細(xì)部各種掃描顯微鏡的工作原理不同，它們得到的結(jié)果所反映的樣品表面信息是很不同的。掃描隧道顯微鏡測(cè)量的是樣品表面的電子臺(tái)分布信息，具有原子級(jí)別的分辨率但仍得不到樣品的真結(jié)構(gòu)。而原子顯微鏡探測(cè)的是原子之間的相互作用信息，因此可以得到樣品表面原子分布的排列信息即樣品的真實(shí)結(jié)構(gòu)。但另一方面，原子力顯微鏡測(cè)不到可以和理論比較的電子態(tài)信息，因此二者各有短長(zhǎng)。 變倍 顯微鏡規(guī)格

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