共聚焦顯微鏡是由顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)、激光光源、掃描器及檢測及處理系統(tǒng)4部分組成，采用相干性較好的激光作為光源，在傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡基礎(chǔ)上采用共軛聚焦原理和裝置，并利用計(jì)算機(jī)對(duì)圖象進(jìn)行處理的一套觀察、分析和輸出系統(tǒng)。激光掃描束通過光柵針（zhen）孔形成點(diǎn)光源，經(jīng)過分光鏡反射至物鏡，聚焦在在標(biāo)本上并進(jìn)行掃描。樣品受到激發(fā)后，發(fā)出的熒光回到分光鏡聚集到探測針（zhen）孔，之后經(jīng)過光電倍增管轉(zhuǎn)化為電信號(hào)傳輸?shù)接?jì)算機(jī)上顯示為清晰的焦平面圖像。激發(fā)光通過光柵針（zhen）孔聚焦在樣品上，熒光通過物鏡聚焦在針（zhen）孔上，此過程中形成兩次聚焦，故被稱為共聚焦顯微鏡。

主要應(yīng)用于：生物學(xué)領(lǐng)域、高分子化學(xué)領(lǐng)域、表面粗糙度領(lǐng)域。 顯微鏡不同的照明方式，觀察成像也不同。共聚焦顯微鏡技術(shù)改造

掃描透射電子顯微鏡 (STEM) 是什么？

掃描透射電子顯微鏡（Scanning Transmission Electron Microscopy， STEM）由透射電子顯微鏡（TEM）發(fā)展而來，指透射電子顯微鏡中有掃描附件者，尤其是指采用場發(fā)射電子槍作成的掃描透射電子顯微鏡。掃描透射電子顯微分析是綜合了掃描和普通透射電子分析的原理和特點(diǎn)而出現(xiàn)的一種新型分析方式，其空間分辨率可達(dá)亞埃米級(jí)，可在納米和原子尺度上對(duì)材料微結(jié)構(gòu)與精細(xì)化學(xué)組分的表征與分析。在冶金、材料、環(huán)境科學(xué)、生物科學(xué)等領(lǐng)域具有巨大應(yīng)用潛力。 成都顯微鏡維修掃描探針顯微鏡的特點(diǎn)。

體視顯微鏡和光學(xué)顯微鏡的區(qū)別

體視顯微鏡是利用雙通道光路，為左右兩眼提供一個(gè)具有立體感的圖像。它實(shí)質(zhì)上是兩個(gè)單鏡筒顯微鏡并列放置；光學(xué)顯微鏡是利用光學(xué)原理，把人眼所不能分辨的微小物體放大成像，以供人們提取微細(xì)結(jié)構(gòu)信息的光學(xué)儀器。體視顯微鏡其光學(xué)結(jié)構(gòu)與普通光學(xué)顯微鏡不同，體視顯微鏡的成像具有三維立體感的；而普通光學(xué)顯微鏡的成像不具有三維立體感。體視顯微鏡被廣泛應(yīng)用在工業(yè)上更重要的特點(diǎn)是因?yàn)槠淞Ⅲw感強(qiáng)，成像清晰和寬闊，又具有長工作距離，并是適用范圍非常廣的常規(guī)顯微鏡，操作方便，直觀，檢定效率高；光學(xué)顯微鏡在地質(zhì)學(xué)等理工科專業(yè)中有重要應(yīng)用。

金相分析是人們通過金相顯微鏡來研究金屬和合金顯微組織大小、形態(tài)、分布、數(shù)量和性質(zhì)的一種方法。顯微組織是指如晶粒、包含物、夾雜物以及相變產(chǎn)物等特征組織。利用這種方法來考查如合金元素、成分變化及其與顯微組織變化的關(guān)系：冷熱加工過程對(duì)組織引入的變化規(guī)律；應(yīng)用金相檢驗(yàn)還可對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行質(zhì)量控制和產(chǎn)品檢驗(yàn)以及失效分析等。應(yīng)用領(lǐng)域：金相顯微鏡電子目鏡適用于任何標(biāo)準(zhǔn)的生物、體視、金相顯微鏡的拍攝，可以的應(yīng)用于醫(yī)療衛(wèi)生機(jī)構(gòu)、實(shí)驗(yàn)室、研究所、高等學(xué)校做生物學(xué)、病理學(xué)、細(xì)菌學(xué)觀察、教學(xué)和研究、臨床實(shí)驗(yàn)和常規(guī)醫(yī)療檢驗(yàn)；工廠、實(shí)驗(yàn)室對(duì)材料的分析和鑒定。金相顯微鏡由于易于操作、視場較大、價(jià)格相對(duì)低廉,直到現(xiàn)在仍然是常規(guī)檢驗(yàn)和研究工作中常使用的儀器。透射電鏡主要應(yīng)用于半導(dǎo)體和芯片研發(fā)、缺陷分析和工業(yè)檢測等方面。

透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡是各個(gè)高科技領(lǐng)域經(jīng)常運(yùn)用的四種顯微鏡。英文名分別是Transmission Electron Microscope（TEM），Scanning Electron Mcroscope(SEM)、Scanning Tunneling Microscope（STM）和Atomic Force Microscope(AFM)。從名字中很容易知道四個(gè)顯微鏡的特點(diǎn)，其中TEM和SEM用的是電子來替代光，從而確定觀測樣品結(jié)構(gòu)，而STM和AFM其實(shí)用的都是探針。所以可以認(rèn)為亞顯微級(jí)顯微鏡（這個(gè)名字主要是區(qū)別開光學(xué)顯微鏡，用來說明其分辨率遠(yuǎn)高于用可見光觀測）可以分為兩大類，即電子顯微鏡類別和探針顯微鏡類別。顯微鏡的規(guī)范操作教程；成都體視 顯微鏡

體視顯微鏡和視頻顯微鏡。共聚焦顯微鏡技術(shù)改造

顯微鏡的觀察方法

明視場觀察：垂直照射測量物表面，適用于金屬、印刷電路板、淺孔的表面觀察。

暗視場觀察：通過對(duì)從工件發(fā)出的散射光進(jìn)行觀察，可完成在明視場下觀察不到的劃痕、塵埃、凹凸，以及勝任低反射工件的觀察。

偏光觀察：觀察具有偏光特性的物質(zhì)，適用于半導(dǎo)體材料、液晶、結(jié)晶、金屬組織、礦物等表面觀察。

微分干涉（DIC）觀察：利用Nomarski棱鏡將光線分為兩束，形成明暗和對(duì)比度變化，可進(jìn)行立體觀察。適用于觀察硅片的結(jié)晶缺陷、磁頭研磨面的損傷檢查、涂裝面、金屬組織、礦石表面等。 共聚焦顯微鏡技術(shù)改造

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