透射電子顯微鏡在中國各行業(yè)的應(yīng)用幾乎無處不在，戰(zhàn)略性行業(yè)更是必不可少。透射電子顯微鏡，簡稱透射電鏡，是把人類觀察從宏觀世界帶入到原子級微觀世界。透射電子顯微鏡，是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏、膠片、以及感光耦合組件）上顯示出來。透射電鏡主要應(yīng)用于半導(dǎo)體、材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域。采購主體方面，主要是高校院所、醫(yī)院、企業(yè)、鋰電公司、半導(dǎo)體公司等。從全球范圍看，透射電鏡在半導(dǎo)體和芯片研發(fā)、缺陷分析和工業(yè)檢測等方面應(yīng)用較多，近年來半導(dǎo)體市場需求規(guī)模持續(xù)增長。未來，基礎(chǔ)科學(xué)研究、工業(yè)檢測、產(chǎn)品開發(fā)、技術(shù)創(chuàng)新與支持將會推動全球透射電鏡市場規(guī)模進(jìn)一步擴(kuò)大。中國當(dāng)下正在大力發(fā)展半導(dǎo)體行業(yè)，對透射電鏡的需求將持續(xù)增長。電子顯微鏡與光學(xué)顯微鏡；FS70L顯微鏡型號

掃描透射電子顯微鏡 (STEM) 是什么？

掃描透射電子顯微鏡（Scanning Transmission Electron Microscopy， STEM）由透射電子顯微鏡（TEM）發(fā)展而來，指透射電子顯微鏡中有掃描附件者，尤其是指采用場發(fā)射電子槍作成的掃描透射電子顯微鏡。掃描透射電子顯微分析是綜合了掃描和普通透射電子分析的原理和特點而出現(xiàn)的一種新型分析方式，其空間分辨率可達(dá)亞埃米級，可在納米和原子尺度上對材料微結(jié)構(gòu)與精細(xì)化學(xué)組分的表征與分析。在冶金、材料、環(huán)境科學(xué)、生物科學(xué)等領(lǐng)域具有巨大應(yīng)用潛力。 共聚焦顯微鏡大概價格多少共聚焦顯微鏡主要應(yīng)用于：生物學(xué)領(lǐng)域、高分子化學(xué)領(lǐng)域、表面粗糙度領(lǐng)域。

什么是體視顯微鏡？

體視顯微鏡，又稱“實體顯微鏡”“立體顯微鏡”或稱“解剖顯微鏡”，是一種具有正像立體感的顯微鏡，應(yīng)用于材料宏觀表面觀察、失效分析、斷口分析、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、農(nóng)林、工業(yè)及多種應(yīng)用場景。

體視顯微鏡均采用兩個單獨的光學(xué)通路，對物體成像后的兩光束被兩組中間物鏡----變焦鏡組分開，并組成一定的角度稱為體視角一般為12度--15度，再經(jīng)各自的目鏡成像，分別進(jìn)入人的兩只眼睛，每只眼睛看到的標(biāo)本成像都不一樣。這些額外的信息允許大腦通過融合左右圖像來重建物體的三維圖像。所以體視顯微鏡的成像擁有常規(guī)正置顯微鏡或者倒置顯微鏡所沒有的立體感。當(dāng)人們需要與標(biāo)本進(jìn)行互動時（例如解剖，篩選，微型雕刻，顯微操作等），體視顯微鏡是很好的選擇工具。

工業(yè)測量顯微鏡廣泛應(yīng)用于多個行業(yè)，尤其在電子行業(yè)，它是觀察電路板的構(gòu)造和精確測量距離的“得力”儀器。

根據(jù)不同的照明方式，觀察成像也不同，因此需要根據(jù)不同的工件以及測量部位選擇適合的照明方式。透射照明是采用透過輪廓光觀察的方法，特別是觀察測量輪廓時使用，邊緣清晰易于觀察。垂直反射照明是垂直照射測量工件的表面，適合用來表面性狀的觀察和測量。外部照明是用斜射的光來照射測量工件的表面，能夠?qū)崿F(xiàn)立體的、顏色重復(fù)性良好的觀察。 顯微鏡的幾種觀察方式；

顯微鏡的觀察方式，你知道幾種？霍夫曼調(diào)制相差（HMC）利用斜射光照射到標(biāo)本產(chǎn)生折射、衍射，光線通過物鏡光密度梯度調(diào)節(jié)器產(chǎn)生不同陰影，從而使透明標(biāo)本表面產(chǎn)生明暗差異，增加觀察對比度。霍夫曼調(diào)制相差不會因在光路中使用雙折射材料而受到阻礙，因此該技術(shù)對于檢查由聚合材料制成的容器中的樣本更為有用。而它不利的一面是，HMC會產(chǎn)生許多光學(xué)偽像，使該方法用于在玻璃蓋玻片上進(jìn)行貼壁細(xì)胞成像時比相差或DIC效果差。當(dāng)斜射光照射到標(biāo)本產(chǎn)生折射、衍射，通過物鏡相襯板產(chǎn)生不同陰影，從而使透明標(biāo)本表面產(chǎn)生明暗差異，增加觀察對比度。金相顯微鏡原理及光學(xué)應(yīng)用；FS70L顯微鏡按需定制

探針臺用顯微鏡如何挑選；FS70L顯微鏡型號

聚焦離子束（FIB）顯微鏡

隨著納米科技的發(fā)展，納米尺度制造業(yè)發(fā)展迅速，而納米加工就是納米制造業(yè)的重要部分，納米加工的代表性方法就是聚焦離子束。近年來發(fā)展起來的聚焦離子束（FIB）技術(shù)利用聚焦離子束對材料進(jìn)行納米加工，配合掃描電鏡（SEM）等高倍數(shù)電子顯微鏡實時觀察，成為了納米級分析、制造的主要方法。目前已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體集成電路修改、切割和故障分析等。

技術(shù)特征

1、比較高束流可以達(dá)到100nA,且加工性能優(yōu)異。可以實現(xiàn)快速切割和納米加工。

2、最高分辨率小于3nm，可以實現(xiàn)精細(xì)加工，并顯示優(yōu)異的FIB成像質(zhì)量。

3、電壓范圍在500V-30KV可調(diào)，可以實現(xiàn)精細(xì)拋光，降低樣品表面非晶層厚度。

4、離子源比較穩(wěn)定，使用壽命長。行業(yè)內(nèi)**長離子源壽命1500小時（3000uAh），72小時束流變化在5%以內(nèi)。5、與SEM鏡筒完美配合，可以實現(xiàn)FIB加工過程中可以利用SEM進(jìn)行實時觀察。 FS70L顯微鏡型號

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