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射頻探針臺(tái)報(bào)價(jià)

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-03-26

N系列探針臺(tái)是一款適用于4-12英寸晶圓的精密探針臺(tái)。該系列探針臺(tái)采用高剛性顯微鏡龍門設(shè)計(jì),結(jié)構(gòu)穩(wěn)定。顯微鏡平移臺(tái)可進(jìn)行X-Y-Z方向精密位移調(diào)節(jié),顯微鏡放大倍率高,操作方便。同時(shí)支持多種功能的升級(jí),非常適合晶圓級(jí)的測(cè)試應(yīng)用。該產(chǎn)品主要應(yīng)用于集成電路/芯片/MEMS器件/管芯晶圓/LED/LCD/太陽(yáng)能電池等行業(yè)的測(cè)試及研究領(lǐng)域。在科研單位和半導(dǎo)體工廠都得到了運(yùn)用。產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):顯微鏡具備高剛性龍門支架且搭配氣動(dòng)升降,保證高質(zhì)量光學(xué)成像質(zhì)量??ūP同時(shí)具備快速和微調(diào)升降,便于樣品和探針快速分離,也可以加載探針卡。可升級(jí)性強(qiáng),比較高可升級(jí)220G高頻,可集成光電流掃描成像或拉曼-瞬態(tài)熒光壽命成像系統(tǒng)等。平面電機(jī)x-y步進(jìn)工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)。射頻探針臺(tái)報(bào)價(jià)

探針臺(tái)的探針的清洗,1、毛刷清潔法:適用范圍為5微米以上探針,微波探針。不適用于針尖直徑在5微米以下的軟針。清洗方法是拿一張A4白紙,撕成細(xì)長(zhǎng)條的形狀,撕成細(xì)長(zhǎng)的三角形形狀(大概5cm高左右)。將待清潔探針裝好到探針夾具上并置于顯微鏡**視顯微鏡即可,放大倍數(shù)太高無法操作),利用撕下的紙片作為毛刷,輕輕地將探針沾污物刷下。2、壓針清潔法:適用范圍是所有探針,灰塵比較靠近探針的情況。清洗方法是拿一張A4白紙,裁成樣品臺(tái)大小(或適當(dāng)?shù)某叽?,固定于樣品臺(tái)上。將待清潔探針裝好到探針夾具上并置于顯微鏡下,慢慢下壓探針,待探針接觸到白紙后,向后移動(dòng)探針。多嘗試幾次走到探針上的灰塵脫落。3、超聲清潔法:適用范圍是所有探針,清洗方法是取適量的蒸餾水置于燒杯內(nèi)(燒杯大小以適合用戶操作為宜),并放到超聲波清洗機(jī)內(nèi)。打開超聲波清洗機(jī),然后手捏住探針(注意戴丁腈手套),將針尖放入蒸餾水內(nèi),讓震動(dòng)把灰塵震落,可以隔一兩分鐘用顯微鏡觀察一次,直到灰塵掉落為止。將探針放到適當(dāng)?shù)奈恢昧栏珊蠹纯墒褂?。?qǐng)注意,若清潔微波探針,須將探針放置整晚晾干。浙江高低溫探針臺(tái)選購(gòu)手動(dòng)探針臺(tái)的注意事項(xiàng)。

很多人都不了解探針臺(tái),因?yàn)楹苌俳佑|到。但是,它在的作用是非常大的,它的使用步驟我們還是需要了解的。下面,小編就帶大家了解一下它的使用步驟。希望能對(duì)大家有所幫助。1、將樣品載入真空卡盤,開啟真空閥門控制開關(guān),使樣品平安且牢固地吸附在卡盤上。2、運(yùn)用卡盤X軸、Y軸控制旋鈕挪動(dòng)卡盤平臺(tái),在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。3、顯微鏡切換為高倍率物鏡,在大倍率下找到待測(cè)點(diǎn),再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y,將影像調(diào)整明晰,帶測(cè)點(diǎn)在顯微鏡視場(chǎng)中間。4、待測(cè)點(diǎn)地位確認(rèn)好后,再調(diào)整探針座的地位,將探針臺(tái)探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測(cè)點(diǎn)的地位旁邊,再運(yùn)用探針座X-Y-Z三個(gè)微調(diào)旋鈕,漸漸的將探針移至被測(cè)點(diǎn),此時(shí)舉措要小心且遲緩,以防舉措過大誤傷芯片,當(dāng)探針針尖懸空于被測(cè)點(diǎn)上空時(shí),可先用Y軸旋鈕將探針行進(jìn)少許,再運(yùn)用Z軸旋鈕停止下針,剛開始則運(yùn)用X軸旋鈕左右滑動(dòng),察看能否有少許劃痕,證明能否曾經(jīng)接觸。5、確保針尖和被測(cè)點(diǎn)接觸良好后,則可以經(jīng)過銜接的測(cè)試設(shè)備開端測(cè)試。

探針臺(tái)是半導(dǎo)體行業(yè)重要的檢測(cè)裝備之一,其廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量,旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。半導(dǎo)體測(cè)試可以按生產(chǎn)流程可以分為三類:驗(yàn)證測(cè)試、晶圓測(cè)試測(cè)試、封裝檢測(cè)。探針臺(tái)主要用于晶圓制造環(huán)節(jié)的晶圓檢測(cè)、芯片研發(fā)和故障分析等應(yīng)用。除探針臺(tái)外,晶圓檢測(cè)環(huán)節(jié)還需要使用測(cè)試儀/機(jī),測(cè)試儀/機(jī)用于檢測(cè)芯片功能和性能,探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)被測(cè)芯片與測(cè)試機(jī)的連接,通過探針臺(tái)和測(cè)試機(jī)的配合使用,可以對(duì)晶圓上的裸芯片進(jìn)行功能和電參數(shù)測(cè)試或射頻測(cè)試,可以對(duì)芯片的良品、不良品的進(jìn)行篩選。低溫探針臺(tái)集成系統(tǒng)。

探針臺(tái)可以將電探針、光學(xué)探針或射頻探針放置在硅晶片上,從而可以與測(cè)試儀器/半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)配合來測(cè)試芯片/半導(dǎo)體器件。這些測(cè)試可以很簡(jiǎn)單,例如連續(xù)性或隔離檢查,也可以很復(fù)雜,包括微電路的完整功能測(cè)試??梢栽趯⒕A鋸成單個(gè)管芯之前或之后進(jìn)行測(cè)試。在晶圓級(jí)別的測(cè)試允許制造商在生產(chǎn)過程中多次測(cè)試芯片器件,這可以提供有關(guān)哪些工藝步驟將缺陷引入產(chǎn)品的信息。它還使制造商能夠在封裝之前測(cè)試管芯,這在封裝成本相對(duì)于器件成本高的應(yīng)用中很重要。探針臺(tái)還可以用于研發(fā)、產(chǎn)品開發(fā)和故障分析應(yīng)用。探針臺(tái)搭配網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行測(cè)試。mini led探針臺(tái)調(diào)試

探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)。射頻探針臺(tái)報(bào)價(jià)

探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu),測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)(chuck)上,在顯微鏡配合下,X-Y移動(dòng)器件,找到需要探測(cè)的位置。接下來測(cè)試人員通過旋轉(zhuǎn)探針座上的X-Y-Z的三向旋鈕,控制前部探針(射頻或直流探針),精細(xì)扎到被測(cè)點(diǎn),從而使其訊號(hào)線與外部測(cè)試機(jī)導(dǎo)通,通過測(cè)試機(jī)測(cè)試人員可以得到所需要的電性能參數(shù)。探針臺(tái)工作環(huán)境,探針臺(tái)應(yīng)放在堅(jiān)固穩(wěn)定的臺(tái)面上,如地基有震動(dòng)的情況,需要配置主動(dòng)防震裝置,避免在高溫、潮濕、激烈震動(dòng)、陽(yáng)光直接照射和灰塵較多的環(huán)境下使用。使用比較好溫度范圍為5℃~40℃,比較好濕度是40%到85%,空氣中之濕度若低于30%以下,可靠濕度控制器予以控制,使維持50%~60%之范圍。使用時(shí)門窗盡可能關(guān)閉,使室內(nèi)達(dá)到除濕效果    。使用電源:220V,50Hz射頻探針臺(tái)報(bào)價(jià)

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