紅外探測(cè)器的光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)，其包括：紅外光譜儀，用于提供寬譜紅外光并對(duì)寬譜紅外光進(jìn)行聚焦；頻譜儀，用于測(cè)量設(shè)置于寬譜紅外光焦點(diǎn)位置處的待測(cè)紅外探測(cè)器隨頻率f變化的電壓信號(hào)SDUT(f)；其中，基于所述電壓信號(hào)SDUT(f)獲取所述待測(cè)紅外探測(cè)器隨波數(shù)w變化的響應(yīng)信號(hào)SDUT(w)；根據(jù)響應(yīng)信號(hào)SDUT(w)獲得所述待測(cè)紅外探測(cè)器的光譜響應(yīng)度。本發(fā)明還公開一種紅外探測(cè)器的光譜響應(yīng)度的測(cè)量方法。采用微納加工技術(shù)制備的微臺(tái)面探測(cè)器具有微米級(jí)的臺(tái)面尺寸，空間分辨率高，結(jié)合三維平臺(tái)的面掃描方法能更準(zhǔn)確、直觀的測(cè)量紅外光源在焦點(diǎn)位置處的光強(qiáng)分布。所述光譜響應(yīng)度的計(jì)算公式為：R DUT(w)= SDUT(w)/(S×PS(w))，其中，S表示所述待測(cè)紅外探測(cè)器的光敏面積，PS(w)表示寬譜紅外光在其焦點(diǎn)位置處的單位面積的光功率。探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)擁有調(diào)制法測(cè)量技術(shù)，提升測(cè)量結(jié)果信噪比。上海鈣鈦礦探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)生產(chǎn)

替代法是目前國家計(jì)量單位測(cè)量探測(cè)器光譜響應(yīng)度所采用的標(biāo)準(zhǔn)方法。相比于傳統(tǒng)的測(cè)試方法，替代法既簡便，準(zhǔn)確度又高，避免了許多系統(tǒng)誤差的產(chǎn)生。采用替代法，用戶只需要定期對(duì)標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器進(jìn)行定標(biāo)即可，而傳統(tǒng)方法需要定期對(duì)系統(tǒng)各個(gè)部件進(jìn)行定標(biāo)，包括光源、單色儀、光路系統(tǒng)中各個(gè)光學(xué)元件等，從而導(dǎo)致用戶不得不拆分系統(tǒng)，標(biāo)定好部件之后還要重新組裝調(diào)試。系統(tǒng)采用調(diào)制法測(cè)量技術(shù)。調(diào)制法是目前國家計(jì)量單位采用的標(biāo)準(zhǔn)方法，通過選頻放大的技術(shù)，可以大幅度抑制雜散光或環(huán)境噪聲對(duì)測(cè)量精度帶來的負(fù)面影響。探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)弱信號(hào)采集專門設(shè)計(jì)了獨(dú)特的前置放大電路，同時(shí)采用高性能的鎖相放大器進(jìn)行調(diào)制法測(cè)量。鎖相放大器測(cè)量靈敏度達(dá)到2nV，動(dòng)態(tài)范圍達(dá)到100dB。通過提高測(cè)量靈敏度并且抑制噪聲，探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)可以從背景噪聲中提取非常微弱的光電探測(cè)器響應(yīng)信號(hào)。湖南鈣鈦礦探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)費(fèi)用探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)可見光探測(cè)器件：中遠(yuǎn)紅外探測(cè)器件，對(duì)光電系統(tǒng)中用到的元器件進(jìn)行規(guī)格參數(shù)定標(biāo)。

在探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)的使用中，不正確的操作可能造成對(duì)探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)的損壞，而且，這種情況的發(fā)生有時(shí)似乎是莫名其妙的。對(duì)于探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)，不能隨便將其輸出端短路。要養(yǎng)成不隨便將輸出端短路的習(xí)慣。對(duì)于實(shí)驗(yàn)室里使用的直流穩(wěn)壓電源，一般都具有保護(hù)電路，短時(shí)間的短路通常并不會(huì)損壞探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)。但是，即使沒有損壞，由于短路時(shí)，穩(wěn)壓電源內(nèi)部處于一種高功耗狀態(tài)，時(shí)間長了也可能受不了，尤其是散熱不良時(shí)更是如此。而對(duì)于功率輸出的信號(hào)源或信號(hào)源的功率輸出端子，更不能將其輸出端短路，否則就意味著探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)的損壞。在使用中，不僅不能將其輸出端短路，而且，也不應(yīng)該過載使用（即被測(cè)電路的阻抗過低）。

探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)維護(hù)保養(yǎng)的意義是什么？1. 實(shí)驗(yàn)室的維護(hù)保養(yǎng)是指對(duì)探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)的保養(yǎng)和維修，即為恢復(fù)設(shè)備性能所進(jìn)行的一切工作。包括：（1）為預(yù)防探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)故障，維持探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)性能而進(jìn)行的清掃、檢查、潤滑、緊固以及調(diào)整等日常維護(hù)保養(yǎng)工作；（2）為判定探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)性能降低程度而進(jìn)行的必要檢查；（3）為修復(fù)故障，恢復(fù)探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)性能而進(jìn)行的維修工作等。2. 保養(yǎng)不同于保用，即使正常運(yùn)行的探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)，也需要進(jìn)行日常的維護(hù)保養(yǎng)。如：探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)是否適應(yīng)客戶的工作要求，運(yùn)行效率是否在額定的范圍，數(shù)據(jù)精確度以及重復(fù)性是否穩(wěn)定？如何延長探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)的使用壽命，探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)在實(shí)際運(yùn)行中可能出現(xiàn)哪些問題等等，這些都是保養(yǎng)工作需要解決的問題。3. 探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)的維護(hù)保養(yǎng)是實(shí)驗(yàn)室工作的重要組成部分，搞好保養(yǎng)工作，關(guān)系到探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)的完好率、使用率和企業(yè)的生產(chǎn)效率。探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)根據(jù)光電響應(yīng)輔助特性分析，尋找高效率的光電材料或器件結(jié)構(gòu)。

光電探測(cè)器的一些重要性質(zhì)：當(dāng)探測(cè)激光二極管中發(fā)出的強(qiáng)發(fā)散光束時(shí)，需要考慮探測(cè)器的有源區(qū)大小。如果光源具有很大并且變化的光束發(fā)散角，很難在有源區(qū)全部探測(cè)到這些光。這時(shí)可以采用一個(gè)積分球來測(cè)量總功率。探測(cè)帶寬可能從0 Hz或者某一有限頻率處開始，而峰值頻率由內(nèi)部過程（例如，半導(dǎo)體材料中載流子的速度）或者相關(guān)的電子學(xué)器件（例如，引入一些RC時(shí)間常數(shù)）來決定。某些諧振腔探測(cè)器只工作在很窄的頻率范圍內(nèi)，非常適合鎖相探測(cè)。有些探測(cè)器（例如熱釋電探測(cè)器）非常適合探測(cè)脈沖，不適合探測(cè)連續(xù)光。當(dāng)探測(cè)脈沖（幾個(gè)光子量級(jí)）時(shí)，計(jì)時(shí)精度非常重要。有些探測(cè)器探測(cè)一個(gè)脈沖后具有一段“死區(qū)時(shí)間”，在該時(shí)間內(nèi)靈敏度很低。不同類型的探測(cè)器需要不同的復(fù)雜電子學(xué)裝置。當(dāng)需要施加高電壓或者探測(cè)非常小電壓時(shí)，就會(huì)使器件尺寸變大，成本變高。探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)的適用面廣。廣州面陣探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)哪里有

探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)采用替代法的測(cè)量原理，設(shè)計(jì)成開機(jī)即用的turnkey模式。上海鈣鈦礦探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)生產(chǎn)

采購探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)有哪些規(guī)程？1.探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)、設(shè)備需求部門，需要購置探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)、設(shè)備，應(yīng)以書面申請(qǐng)的形式向各自隸屬的中心遞交需購計(jì)劃,并附詳細(xì)需求原因和主要技術(shù)參數(shù)。2.主管中心接到申請(qǐng)報(bào)告后，應(yīng)在一周內(nèi)組織有關(guān)部門對(duì)申請(qǐng)內(nèi)容進(jìn)行審定，并根據(jù)技術(shù)參數(shù)制定出需求探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)、設(shè)備的選型方案，報(bào)總經(jīng)理批準(zhǔn)。3.主管中心召開有關(guān)部門和有關(guān)人員參加的聯(lián)席會(huì)議,對(duì)探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)、設(shè)備的選型方案進(jìn)行多部門,多角度的討論和可行性論證,定出需購探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)、設(shè)備的主要技術(shù)參數(shù)和基本要求。4.責(zé)任部門根據(jù)隸屬中心辦公會(huì)議要求進(jìn)行探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)、設(shè)備選擇。上海鈣鈦礦探測(cè)器光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)生產(chǎn)

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