熒光壽命成像技術(shù)有兩種:時間域和頻率域。(1)時域FLIM:需要脈沖光源,所以一般在雙光子的系統(tǒng)上比較常見FLIM(熒光壽命成像Fluorescence Life-time imaging Microcopy簡稱FLIM),理由一是激光是脈沖的,二是買雙光子的老師一般也搭配一個FLIM。(2)頻域FLIM:需要一個相位調(diào)制的光源,有用LED調(diào)制的。熒光壽命成像FLIM的應(yīng)用:1)細胞體自身熒光壽命分析;2)自身熒光相對熒光標記的有效區(qū)分;3)具有相同頻譜性質(zhì)的不同熒光標記的區(qū)分;4)活細胞內(nèi)水介質(zhì)的PH值測量;5)局部氧氣濃度測量;6)活細胞內(nèi)鈣濃度測量;7)時間分辨Forster共振能量轉(zhuǎn)移(FRET):納米級尺度上的遠程測量,環(huán)境敏感的FRET探針定量測量。由于熒光壽命成像不受樣品濃度影響,具有其他熒光成像技術(shù)無法代替的優(yōu)異性能。珠海開放式熒光壽命成像原理
熒光顯微技術(shù)具有無損、非接觸、高特異性、高靈敏、高體友好以及能夠提供功能信息等突出優(yōu)點,一直是生命科學,尤其是細胞生物學研究的重要工具。近年來,隨著生命科學的發(fā)展,對熒光顯微技術(shù)也提出了越來越高的要求,激光技術(shù)、熒光探針標記技術(shù)、新型熒光探測技術(shù)和成像手段的不斷發(fā)展,極大地促進了熒光顯微技術(shù)的發(fā)展,成為推動生命科學發(fā)展的重要動力。此外,熒光顯微技術(shù)也在成像的對比機制方面獲得了很大的進展。超分辨(SR)成像技術(shù)的發(fā)展,也為熒光壽命成像(FLIM)的新發(fā)展提供了巨大的機遇。湖北化學熒光壽命成像使用方法熒光壽命成像擴展了傳統(tǒng)熒光成像的維度,是功能成像的理想工具;
熒光壽命成像開始用于組織體的在體成像,與傳統(tǒng)的使用熒光強度和光譜信息作為鑒別組織異常的成像方式相比,壽命成像提供了更多的生化診斷信息。熒光壽命成像已用于骨骼和牙齒的診斷。另外,采用多光子激發(fā)可顯著提高組織體的成像深度,如對人體皮膚自體熒光進行多光子激發(fā)熒光壽命成像,成像深度達200 um,組織體的熒光壽命分布揭示了細胞代謝狀態(tài)的變化,可用于對皮膚病的診斷。對腔體中瘤的早期臨床診斷,已開發(fā)出具有實時及壽命分辨功能的內(nèi)窺鏡,并對離體膀胱樣品進行測試,得到了黃素分子的自體熒光壽命圖像。
熒光壽命成像可以提供熒光強度(光子數(shù))和光子壽命的空間分布,具有200 nm的空間分辨率和皮秒量級的時間分辨率。通過雙光子激發(fā)(結(jié)合飛秒脈沖和共焦顯微鏡)可以直接檢測熒光和時間分辨的熒光壽命。這種無損檢測技術(shù),無需解剖或?qū)iT制造分層樣品,不但可在樣品表面,還可在樣品表面以下實現(xiàn)深度解析測量。特別適用于新材料、光子學、光伏、光催化、生物材料、納米材料和納米復合材料以及其相關(guān)的原理探究和設(shè)計優(yōu)化。熒光壽命成像圖像中每一個像素點在phasor圖上都有一個對應(yīng)的點。因此我們可以獲取每個像素點的壽命信息,也可以獲知每一壽命所對應(yīng)的圖像區(qū)域。熒光壽命顯微成像,可以定位不同的分子及濃度分布,在生物,材料,半導體領(lǐng)域具有重要的應(yīng)用價值。
熒光壽命是熒光分子在激發(fā)態(tài)停留的時間,這個時間可以反映熒光分子的內(nèi)在屬性和所處的微環(huán)境,是一個很有用的工具。以往,熒光壽命的測量和計算是件非常復雜和耗時的工作,只有少數(shù)專業(yè)的科學家關(guān)注和使用該工具。傳統(tǒng)的多色成像實驗根據(jù)光譜差異來設(shè)計,會有串色等限制,而且需要多次采集圖像,會造成樣品的光損傷。通過熒光壽命來進行成像,只需要拍攝一次就完成圖像采集,不但減少了成像時間,而且降低了激光對樣品的損傷。熒光壽命成像使用簡單,方便快捷,不需要進行參數(shù)調(diào)節(jié)。熒光壽命成像具有200 nm的空間分辨率和皮秒量級的時間分辨率。珠海開放式熒光壽命成像原理
利用熒光壽命成像顯微鏡技術(shù)可實現(xiàn)可以實時監(jiān)控發(fā)光納米顆粒在活細胞內(nèi)的穩(wěn)定性。珠海開放式熒光壽命成像原理
熒光壽命成像中的熒光壽命及其含義:假定一個無限窄的脈沖光(δ函數(shù))激發(fā)n0個熒光分子到其激發(fā)態(tài),處于激發(fā)態(tài)的分子將通過輻射或非輻射躍遷返回基態(tài)。假定兩種衰減躍遷速率分別為Γ和knr,則激發(fā)態(tài)衰減速率可表示為:其中n(t)表示時間t時激發(fā)態(tài)分子的數(shù)目,由此可得到激發(fā)態(tài)物種的單指數(shù)衰減方程。熒光壽命定義為衰減總速率的倒數(shù):熒光強度正比于衰減的激發(fā)態(tài)分子數(shù),因此可將上式改寫為:其中I0是時間為零時的熒光強度,τ為熒光壽命。也就是說熒光強度衰減到初始強度的1/e時所需要的時間就是該熒光物種在測定條件下的熒光壽命。實際上用熒光強度的對數(shù)對時間作圖,直線斜率即為熒光壽命倒數(shù)的負值。熒光壽命也可以理解為熒光物種在激發(fā)態(tài)的統(tǒng)計平均停留時間。事實上當熒光物質(zhì)被激發(fā)后有些激發(fā)態(tài)分子立即返回基態(tài),有的甚至可以延遲到5倍于熒光壽命時才返回基態(tài),這樣就形成了實驗測定的熒光強度衰減曲線。珠海開放式熒光壽命成像原理
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