顯微鏡的觀察方法

明視場觀察：垂直照射測量物表面，適用于金屬、印刷電路板、淺孔的表面觀察。

暗視場觀察：通過對從工件發(fā)出的散射光進行觀察，可完成在明視場下觀察不到的劃痕、塵埃、凹凸，以及勝任低反射工件的觀察。

偏光觀察：觀察具有偏光特性的物質(zhì)，適用于半導(dǎo)體材料、液晶、結(jié)晶、金屬組織、礦物等表面觀察。

微分干涉（DIC）觀察：利用Nomarski棱鏡將光線分為兩束，形成明暗和對比度變化，可進行立體觀察。適用于觀察硅片的結(jié)晶缺陷、磁頭研磨面的損傷檢查、涂裝面、金屬組織、礦石表面等。 共聚焦顯微鏡為什么能比熒光顯微鏡拍的效果更好呢？三豐顯微鏡性價比

透射電鏡的工作過程與光學(xué)顯微鏡類似。在光學(xué)顯微鏡中聚焦后的可見光射向樣品，穿過樣品的光經(jīng)過物鏡、目鏡等光學(xué)系統(tǒng)聚焦后被眼睛接收。在電子顯微鏡中，可見光由電子槍發(fā)射出來的電子束所代替,在陽極加速電壓的作用下，電子經(jīng)過2、3個電磁透鏡會聚為電子束，用來照明樣品薄片 (電子的穿透能力很弱，因此樣品必須很薄)，穿過樣品薄片的電子攜帶了樣品本身的結(jié)構(gòu)信息，經(jīng)物鏡、中間鏡和投影鏡所組成的成像系統(tǒng)的接力聚焦放大以圖像或衍射譜的形式顯示于熒光屏或感光材料上。重慶motic 顯微鏡工業(yè)測量顯微鏡主要應(yīng)用于電子行業(yè)。

顯微鏡透射照明的方式有兩種：(1)臨界照明這種照明要求聚光鏡所成的光源像與被觀察物體的物平面重合，如圖1所示，相當(dāng)于物面上放置一個光源，燈絲的形狀同時出現(xiàn)在像面上，而造成不理想的觀察效果。臨界照明透射照明中，為使物鏡的孔徑角得以充分利用，聚光鏡應(yīng)有與物鏡相同或稍大的數(shù)值孔徑。臨界照明聚光鏡的孔徑光闌常設(shè)在聚光鏡的物方焦平面上，如果顯微鏡用的是遠心物鏡，聚光鏡的出射光瞳與物鏡的入射光瞳重合。聚光鏡的光闌做成可變光闌，可任意改變射入聚光鏡的孔徑角，使之與物鏡的數(shù)值孔徑匹配。由于臨界照明聚光鏡的出射光瞳和像方視場分別與物鏡的入射光瞳和物方視場重合，所以形成“瞳對瞳，視場對視場”的光管。臨界照明的缺點在于當(dāng)光源亮度不均勻或者呈現(xiàn)明顯的燈絲結(jié)構(gòu)時,將會反映在物面上，使物面照度不均勻，從而影響觀察效果。為了達到比較均勻的照明，這種照明方式對發(fā)光體本身的均勻性要求較高，同時要求被照明物體表面和光源像之間有足夠的離焦量。后續(xù)物鏡的孔徑角應(yīng)該取大一些，如果物鏡的孔徑角過小，焦深會很大，容易反映出發(fā)光體本身的不均勻性。

探針應(yīng)用的顯微鏡STM和AFM的原理其實就是利用探針與樣品間的距離進行測繪得到的樣子，也可以說是根據(jù)樣品與探針間測量得到的距離，將圖像畫下來的樣子。當(dāng)然，具體原理還是有點不一樣的。為什么會有兩種“探針型”的顯微鏡，STM顯微鏡因為需要測定電流，因此必須要求所測樣品需要具有導(dǎo)電性，而AFM顯微鏡因為只需要測定相互作用力，因此不需要考慮測定電流，所以相比STM顯微鏡可以測定更多類型樣品。而AFM的缺點則是其分辨率比STM要低，主要原因也是測量時候的原理及目前技術(shù)上的問題。首先測定形變是利用激光，在形變后激光的方向會發(fā)生偏折，因此測定的其實是激光的信息從而繪制的圖像。掃描隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM)是比較常用的兩類掃描探針顯微鏡。

顯微鏡透射照明的方式有兩種：（2）柯勒照明柯勒照明光學(xué)系統(tǒng)如圖2所示。光源經(jīng)聚光鏡前組成像在照明系統(tǒng)的視場光闌上；聚光鏡前組經(jīng)過聚光鏡后組成像于標(biāo)本處，同時也把照明系統(tǒng)視場光闌成像在無限遠處，使之與遠心物鏡的入射光瞳重合?？吕照彰髦械那敖M聚光鏡稱為柯勒鏡，它得到了光源的均勻照明，經(jīng)過聚光鏡后組成像在標(biāo)本上。故標(biāo)本上得到均勻的照明，這是柯勒照明的重要特點。聚光鏡中的孔徑光闌緊貼聚光鏡前組，通過聚光鏡后組所成的像，即聚光鏡的出射光瞳也與顯微鏡的物平面（標(biāo)本）貼近，故光闌起到了限制顯微鏡視場的作用?？吕照彰骶酃庀到y(tǒng)的出射光瞳和像方視場分別與顯微鏡的物方視場和入射光瞳重合，從而形成“視場對瞳、瞳對視場”的光管。共聚焦顯微鏡主要應(yīng)用于：生物學(xué)領(lǐng)域、高分子化學(xué)領(lǐng)域、表面粗糙度領(lǐng)域。武漢顯微鏡

顯微鏡的規(guī)范操作教程；三豐顯微鏡性價比

共聚焦顯微鏡掃描時用的是激光光源，激光的穿透力強，可對樣本進行一定深度的光學(xué)斷層，從而獲得高標(biāo)準(zhǔn)的連續(xù)光學(xué)切片，由此做Z軸光學(xué)切片后重組出3D效果就能立體地展示樣品里熒光的空間分布。配有高精度電動載物臺和圖像拼接軟件，能完美解決放大倍數(shù)和整體成像這一問題?？勺鰰r間序列拍攝，實時監(jiān)測熒光變化，可以把熒光變化的過程以動態(tài)的形式展示出來。

共聚焦的應(yīng)用很廣，像離體細胞、組織切片、物理材料、模式生物等熒光樣本都可以用共聚焦進行拍攝，除了常規(guī)的熒光圖片拍攝進行定性定位外，還可以進行熒光的半定量分析、共定位分析、熒光漂白恢復(fù)（FRAP）、熒光共振能量轉(zhuǎn)換(FRET)等，但也要注意一下，常規(guī)405-647nm之間的激發(fā)波長都可以支持。 三豐顯微鏡性價比

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