掃描探針顯微鏡根據(jù)所利用的探針與樣品之間相互作用物理場的不同，被分為不同系列的顯微鏡。其中掃描隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM)是比較常用的兩類掃描探針顯微鏡。掃描隧道顯微鏡是通過檢測探針與被測樣品之間的隧道電流的大小來檢測樣品表面結(jié)構(gòu)。原子力顯微鏡是通過光電位移傳感器檢測針尖一樣品間的相互作用力(既有可能足吸引力，也有可能是排斥力)所引起的微懸臂形變來檢測樣品表面?？筛鶕?jù)不同需求來進(jìn)行定制，滿足不同應(yīng)用場合透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡；上海顯微鏡

顯微鏡使用注意事項(xiàng)：

?顯微鏡樣本一定要保持干凈，如有蓋片樣本，一定要干凈干燥，以免樣本上的試劑污染物鏡。

?不要用手直接觸摸光學(xué)部件的表面（如物鏡，熒光濾塊，目鏡等）。

?手動(dòng)顯微鏡換物鏡時(shí)，不要抓著物鏡轉(zhuǎn)，要轉(zhuǎn)動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)盤。?熒光光源金屬鹵化物燈使用時(shí)注意開關(guān)間隔少30分鐘。

?樣本用油鏡觀察后，如還需用空氣鏡觀察，要把樣本上的油擦干凈再觀察，以免樣本上的油污染空氣鏡。?油鏡觀察時(shí)，請使用與顯微鏡配套的專業(yè)鏡油，不要使用其他介質(zhì)（香柏油等），使用完顯微鏡后，及時(shí)擦掉物鏡上的鏡油，比較好將其他物鏡也清潔一遍。清潔液以無水乙醇為主。

?調(diào)焦時(shí)，為避免鏡頭撞到樣本，先將物鏡調(diào)到離樣本近端，然后在鏡下向離物鏡遠(yuǎn)端調(diào)焦到樣本清晰。?顯微鏡使用過程中，鏡體、燈箱及電源等位置應(yīng)無遮擋或覆蓋，以免影響散熱從而損耗顯微鏡壽命。

?顯微鏡使用完后，等燈箱部分冷卻后，再蓋上防塵罩。

?顯微鏡包含很多光學(xué)部件，避免顯微鏡碰撞，以保護(hù)光學(xué)系統(tǒng)。

?顯微鏡屬精密儀器，如需搬動(dòng)，拆修，請聯(lián)系蔡司專業(yè)人員。 浙江PSM-1000顯微鏡金相顯微鏡一般有明場、暗場、偏光、微分干涉這四種常見的觀察方法；

顯微鏡的觀察方式，你知道幾種？

熒光成像在如今的科研中已經(jīng)廣泛應(yīng)用，無論是熒光免疫組化染色、融合蛋白轉(zhuǎn)基因表達(dá)，還是熒光染料染色，這些方式都對蛋白的定位和定量分析，細(xì)胞的動(dòng)態(tài)變化，組織結(jié)構(gòu)的觀察，蛋白的共定位起到重要的影響。熒光成像的原理基于熒光分子獲得能量后從高能態(tài)躍遷回低能態(tài)所釋放出的熒光信號(hào)。激發(fā)這種狀態(tài)可以使用各種光源，例如普通熒光顯微鏡使用的金屬鹵化物燈，LED熒光燈，共聚焦顯微鏡和雙光子顯微鏡使用的激光。

需要記住的是，不同的熒光成像方式適合不同的研究對象：?由于sCOMS相機(jī)的快速成像特點(diǎn)，在鈣成像上普通熒光顯微鏡具有速度優(yōu)勢。?共聚焦較好的信噪比和分辨率特點(diǎn)適合多色高分辨高對比成像。?利用雙光子光漂白少的特性，對活細(xì)胞或動(dòng)物成像具有優(yōu)勢。?利用不同的染料和熒光蛋白特性，還可以進(jìn)行更多更復(fù)雜的熒光成像實(shí)驗(yàn)。材料樣品也不甘寂寞，它們不像生物樣品那樣需要特定的染料進(jìn)行標(biāo)記，一般都是以自發(fā)熒光的方式來呈現(xiàn)它們多彩的一面。比如樹脂材料，纖維等樣品，利用這一特點(diǎn)可以對樣品進(jìn)行缺陷檢測等應(yīng)用，為科研和生產(chǎn)提供保障。

顯微鏡常見故障的排除：

四、視野出現(xiàn)明亮不均勻檢查顯微鏡使用前是否進(jìn)行光路對中。

五、目鏡視野觀察全黑1、檢查物鏡是否轉(zhuǎn)入光路，視場光闌和孔徑光闌是否調(diào)節(jié)太小2、檢查光路是否對中。

六、視野亮度偏暗1、檢查視場光闌和孔徑光闌是否調(diào)的太小。2、檢查光路是否調(diào)節(jié)到位（聚光鏡、光闌、燈絲）。3、是否使用了偏光、相差部件。

七、目鏡視野內(nèi)出現(xiàn)黑邊1、檢查是否視場光闌打得太小。2、光路是否對中（聚光鏡、光闌、燈絲）。3、物鏡轉(zhuǎn)換是否卡到位。4、目鏡筒與機(jī)身卡位是否準(zhǔn)確。

八、同步性問題使用攝像頭觀察時(shí)，目鏡觀察清晰，但是電腦顯示圖像模糊。1、調(diào)節(jié)接口或接口透鏡高度以達(dá)到同步。2、調(diào)節(jié)接口無法完全同步的情況下，嘗試調(diào)節(jié)目鏡屈光度。 激光共聚焦顯微鏡的明顯優(yōu)勢。

顯微鏡聚光鏡

在照明系統(tǒng)中，聚光鏡的作用是比較大限度地把光線聚集起來，投射到顯微鏡的成像系統(tǒng)中?；诰酃忡R的功能，對聚光鏡像質(zhì)的要求為球差和色差，以和顯微鏡物鏡的像差相適應(yīng)。

顯微鏡色差

一般在設(shè)計(jì)時(shí)，只在可能條件下取得最小值即可，故聚光鏡的選料很重要。聚光鏡的材料宜選用低色散的光學(xué)玻璃（如K9玻璃)。由于位置色差在視場中疊加的結(jié)果是在其邊緣出現(xiàn)彩色現(xiàn)象，只要使照明的區(qū)域大于標(biāo)本的尺寸就能避免色差的影響。但是，對柯勒照明來說，要求聚光鏡把它的光闌成像在物面上，避免色差影響以消色差聚光鏡的方案替代了。消色差聚光鏡的結(jié)構(gòu)類似于高倍顯微鏡物鏡，只是焦距比較長，以使光束能夠通過較厚的載物玻璃（約2mm)照亮標(biāo)本。

球差存在將影響聚光鏡對光線的聚集能力，降低照明的效果。

透射電鏡主要應(yīng)用于半導(dǎo)體和芯片研發(fā)、缺陷分析和工業(yè)檢測等方面。雙光路顯微鏡廠家直銷

透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡是各個(gè)高科技領(lǐng)域常用的四種顯微鏡。上海顯微鏡

聚焦離子束（FIB）顯微鏡

隨著納米科技的發(fā)展，納米尺度制造業(yè)發(fā)展迅速，而納米加工就是納米制造業(yè)的重要部分，納米加工的代表性方法就是聚焦離子束。近年來發(fā)展起來的聚焦離子束（FIB）技術(shù)利用聚焦離子束對材料進(jìn)行納米加工，配合掃描電鏡（SEM）等高倍數(shù)電子顯微鏡實(shí)時(shí)觀察，成為了納米級(jí)分析、制造的主要方法。目前已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體集成電路修改、切割和故障分析等。

技術(shù)特征

1、比較高束流可以達(dá)到100nA,且加工性能優(yōu)異?？梢詫?shí)現(xiàn)快速切割和納米加工。

2、最高分辨率小于3nm，可以實(shí)現(xiàn)精細(xì)加工，并顯示優(yōu)異的FIB成像質(zhì)量。

3、電壓范圍在500V-30KV可調(diào)，可以實(shí)現(xiàn)精細(xì)拋光，降低樣品表面非晶層厚度。

4、離子源比較穩(wěn)定，使用壽命長。行業(yè)內(nèi)**長離子源壽命1500小時(shí)（3000uAh），72小時(shí)束流變化在5%以內(nèi)。5、與SEM鏡筒完美配合，可以實(shí)現(xiàn)FIB加工過程中可以利用SEM進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察。 上海顯微鏡

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