熒光壽命成像技術(shù)（Fluorescence Lifetime ImagingMicroscopy，F(xiàn)LIM）是一種在顯微尺度下展現(xiàn)熒光壽命空間分布的技術(shù)，由于其不受樣品濃度影響，具有其他熒光成像技術(shù)無法代替的優(yōu)異性能，目前在生物醫(yī)學工程、光電半導體材料等領(lǐng)域是一種重要的表征測量手段。熒光和熒光壽命：分子包含多個單能態(tài)S0、S1、S2…和三重態(tài)T1…，每個能態(tài)都包含多個精細的能級。正常情況下，大部分電子處在*低能態(tài)即基態(tài)S0 的*低能級上，當分子被光束照射，會吸收光子能量，電子被激發(fā)到更高的能態(tài)S1 或S2 上，在S2 能態(tài)上的電子只能存在很短暫的時間，便會通過內(nèi)轉(zhuǎn)換過程躍遷到S1 上，而S1 能態(tài)上的電子亦會在極短時間內(nèi)躍遷到S1 的*低能級上，而這些電子會存在一段時間后通過震蕩弛豫輻射躍遷到基態(tài)，這個過程會釋放一個光子，即熒光。此外，亦會有電子躍遷至三重態(tài)T1 上，再由T1 躍遷至基態(tài)，我們稱之為磷光。熒光壽命成像技術(shù)是一種在顯微尺度下展現(xiàn)熒光壽命空間分布的技術(shù)。湖南顯微熒光壽命成像價錢

熒光壽命成像是什么？如果分子環(huán)境刺激激發(fā)態(tài)衰變而不發(fā)射光子，則熒光強度會降低（淬滅）。熒光淬滅是一條單獨的發(fā)射路徑，因此在動力學上與熒光過程形成競爭關(guān)系。激發(fā)態(tài)存儲現(xiàn)在可以通過一個以上的過程衰變，從而縮短熒光壽命。這種壽命的改變可用于收集分子環(huán)境的信息。一種特殊類型的淬滅是將激發(fā)能量以非輻射的方式傳遞到相鄰的不同熒光染料中：“熒光共振能量轉(zhuǎn)移”，F(xiàn)RET。此時，不只第1個熒光染料（供體）變暗，壽命變短，而且第二個熒光染料（受體）在“錯誤的”激發(fā)顏色下開始發(fā)光。由于這種效果的產(chǎn)生需要兩種熒光染料（小于10 nm）的密切接觸，因此將其用作研究分子相互作用的“分子標尺”。它也是許多現(xiàn)代FRET生物傳感器的基礎(chǔ)。佛山三維熒光壽命成像好不好熒光壽命成像提供了壽命分布的二維圖形視圖。

熒光分子受激發(fā)后發(fā)光，熒光壽命量化了發(fā)光的衰減率。該特征時間不但取決于特定的熒光團，還取決于其環(huán)境，分子相互作用影響弛豫過程并改變熒光團的壽命。熒光壽命是微環(huán)境的相對參數(shù)，不受環(huán)境吸收、樣本濃度等因素影響，因此能夠?qū)ι锝M織環(huán)境中的 p H 值水平、離子濃度、氧分子濃度等微環(huán)境狀態(tài)進行高精度檢測。熒光壽命顯微成像（FLIM），可以定位不同的分子及濃度分布，在生物，材料，半導體領(lǐng)域具有重要的應用價值。熒光壽命成像原理及應用說明：熒光壽命是指分子受到光脈沖激發(fā)后返回基態(tài)之前在激發(fā)平均停留的時間，處于激發(fā)態(tài)的熒光分子在從激發(fā)到基態(tài)的過程中發(fā)射熒光釋放能量。熒光壽命取決于熒光分子所處的微環(huán)境，通過對樣品熒光壽命的測量和成像可以定量獲取樣品的功能信息。

影響熒光壽命成像測量的幾種因素：1．溫度影響：一般說來，熒光隨溫度升高而強度減弱，溫度升高1℃，熒光強度下降1～10%不等。測定時，溫度必須保持恒定。 2．PH值影響：PH 值影響物質(zhì)的熒光，應選擇較佳PH制備樣品。 3．光分解對熒光測定的影響： 熒光物質(zhì)吸收紫外可見光后，發(fā)生光化學反應，導致熒光強度下降。因此，熒光分析要采用高靈敏度的檢測器，而不是用增強光源來提高靈敏度。測定時，用較窄的激發(fā)光部分的狹縫，以減弱激發(fā)光。同時，用較寬的發(fā)射狹縫引導熒光。熒光分析應盡量在暗環(huán)境中進行。熒光壽命成像(FLIM)可用于測量分子環(huán)境參數(shù)。

影響熒光壽命成像測量的因素有哪些？散射光的影響： 主要是瑞利散射光和拉曼散射光的影響較大。校正辦法：先用短的激發(fā)光激發(fā)，檢出溶液的拉曼峰，然后進行熒光光譜校正。因為熒光光譜不隨激發(fā)光波長的改變而改變，而拉曼光卻隨之改變。高濃度樣品的影響：1）當激發(fā)光照射高濃度樣品時，在激發(fā)光入口附近產(chǎn)生熒光，但這些熒光并不能進入熒光檢測器。2）高濃度的分子之間相互作用而發(fā)生活性阻礙現(xiàn)象。3）熒光的再吸收：即熒光光譜的短波長端和激發(fā)光譜的長波長端如果相互重疊，則發(fā)生熒光再吸收。時域和頻域技術(shù)在各種熒光顯微壽命成像平臺中都有應用。上海紅外熒光壽命成像哪里買

熒光壽命對依賴于熒光團結(jié)構(gòu)的內(nèi)部因素敏感。湖南顯微熒光壽命成像價錢

門控探測法適用于單組分熒光強度衰減的測量和熒光壽命成像。熒光壽命可通過在兩個不同延遲時刻開啟的相同寬度的門內(nèi)記錄的熒光強度信息求得，通常情形下，在條件允許的情況下，采用多門控探測，即選取多個窗口獲取多幅圖像（通常為5~10幅）來反演壽命圖像。一般使用門控微通道板像增強器（MCP Intensifier）或者增強型CCD（Intensified CCD）相機，實現(xiàn)樣品的寬場（full-field）熒光壽命成像。通過在樣品受到超短光脈沖激發(fā)后的不同時刻（時間窗口）選通像增強器或CCD相機，獲得一組熒光強度圖像，然后利用公式，逐點計算出樣品上各點的熒光壽命并成像。湖南顯微熒光壽命成像價錢

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