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德國進(jìn)口D2 Phaser

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-03-11

XRD設(shè)備的使用范圍如下:XRD衍射儀在生活中被普遍使用,通常用于測量粉末、單晶或多晶體等塊體材料,并擁有檢測快速、操作簡單、數(shù)據(jù)處理方便等優(yōu)點(diǎn),是一個(gè)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)的“良心產(chǎn)品”。在X射線衍射儀的世界里,X射線發(fā)生系統(tǒng)(產(chǎn)生X射線)是“太陽”,測角及探測系統(tǒng)(測量2θ和獲得衍射信息)是其“眼睛”,記錄和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)是其“大腦”,三者協(xié)同工作,輸出衍射圖譜。在三者中測角儀是重點(diǎn)部件,其制作較為復(fù)雜,直接影響實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的精度。XRD在催化材料和其他材料的研究中都具有非常重要的應(yīng)用。高分辨率 XRD ,可以確定外延層的厚度、成分、松弛、應(yīng)變、摻雜劑水平和誤切。德國進(jìn)口D2 Phaser

XRD設(shè)備的注意事項(xiàng)如下:對應(yīng)的衍射花樣是獨(dú)一的,從而可以進(jìn)行物相分析。XRD可以應(yīng)用的領(lǐng)域廣,可普遍應(yīng)用于工業(yè)檢測。檢測速度相當(dāng)快。XRD是X射線衍射的簡稱,X射線衍射。通過分析材料。X射線衍射,分析其衍射圖,獲取材料成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息。X射線是一種短波長(約20~0.06埃)的電磁波,可以穿透一定厚度的材料。為什么要求XRD測試粉末樣品要稍微多一些?主要是因?yàn)榉勰悠芬仢M整個(gè)樣品臺(tái),不然X射線可能會(huì)打在樣品臺(tái)上,影響數(shù)據(jù)質(zhì)量。臺(tái)式D8 Discover供應(yīng)商XRD 衍射強(qiáng)度和峰的寬度與樣品顆粒大小,還是與晶體顆粒大小有關(guān)?

XRD設(shè)備特點(diǎn)有哪些?1.樣品的自動(dòng)校準(zhǔn)、測量和分析;2.測量的自動(dòng)化程度由用戶定義;3.使用300毫米歐拉支架實(shí)現(xiàn)高精度樣品定位和掃描;4.全300mm晶圓水平貼裝和映射;5.由于100°傾斜(Chi)和無限方位角旋轉(zhuǎn)(Phi),可以進(jìn)行極點(diǎn)圖和殘余應(yīng)力測量;6.根據(jù)請求的測量進(jìn)行智能自動(dòng)工具對齊和重新配置;7.先的設(shè)備控制和分析軟件;8.使用高分辨率測角儀進(jìn)行測量;9.高的強(qiáng)度光源和光學(xué)元件可實(shí)現(xiàn)快速測量;10.可用的技術(shù)和參數(shù)范圍廣;11.由擁有30多年經(jīng)驗(yàn)和龐大的安裝基礎(chǔ)的高分辨率X射線衍射領(lǐng)域的**打造。

X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,精確的進(jìn)行物相分析,定性分析,定量分析。其普遍應(yīng)用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學(xué),材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。X射線衍射儀的工作環(huán)境。1、建議房間溫度:15oC至25oC,溫度變化小于1oC/30分鐘。2、高分辨儀器的房間溫度:22oC±1oC。3、相對濕度:20%至80%。4、環(huán)境整潔:請定期清潔儀器內(nèi)部以免灰塵聚集在某些重要部件的表面上,影響儀器的正常工作。如測角儀光學(xué)編碼盤。XRD設(shè)備只有維護(hù)好,才能經(jīng)久耐用。

XRD分析儀:1.可以獲得更高的靈敏度、更快的分析速度以及更可靠的結(jié)果。升級后的X射線探測器硬件運(yùn)行速度提高33%,并且強(qiáng)度更高,從而降低了LOD。SwiftMin自動(dòng)相識(shí)別和定量軟件可直接在X射線衍射分析儀上顯示實(shí)時(shí)數(shù)據(jù),能夠使用戶能夠快速可靠做出決策。2.配有獨(dú)具特色的小型樣品托架,因此成為傳統(tǒng)X射線衍射儀方便攜帶、輕便且?guī)缀鯚o需維護(hù)的替代品。采用NASA技術(shù)的振動(dòng)樣品托架可讓樣品腔內(nèi)的所有顆粒物實(shí)現(xiàn)對流,從而確保數(shù)據(jù)幾乎不受取向效應(yīng)影響。只需15毫克樣品即可,并且使用隨附取樣套件即可輕松獲得樣品。3.同時(shí)獲得定量XRD和定性XRF數(shù)據(jù),專門設(shè)計(jì)的直接激勵(lì)電荷耦合器件(CCD)可同時(shí)檢測光子位置和能量,從而讓分析儀能夠同時(shí)采集XRD和XRF的X射線光子數(shù)據(jù)。XRD設(shè)備能在控制氣氛和程序控溫條件下現(xiàn)場原位分析物質(zhì)結(jié)構(gòu)的變化。布魯克D8 Discover參數(shù)

XRD一般用于測量粉末、單晶或多晶體等塊體材料。德國進(jìn)口D2 Phaser

XRD設(shè)備的主要功能及特色如下:應(yīng)用于晶體物質(zhì)定性和定量相分析,結(jié)晶學(xué)分析,結(jié)構(gòu)解析、織構(gòu)和殘余應(yīng)力分析等;可以分析黏土礦物、合金、陶瓷、食品、藥物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、超導(dǎo)材料、納米材料物相鑒定,材料可以是單晶體、多晶體、薄膜等片狀、塊狀、粉末狀固體。能在控制氣氛和程序控溫條件下現(xiàn)場原位分析物質(zhì)結(jié)構(gòu)的變化。配備lynxeye超能檢測器,使檢測靈敏度提高一個(gè)量級,可以達(dá)到或超出旋轉(zhuǎn)陽極靶的效果。德國進(jìn)口D2 Phaser

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