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深圳便攜式XRD應(yīng)用原理

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-03-11

X射線衍射作為一電磁波投射到晶體中時(shí),會受晶體中原子的影響出現(xiàn)衍射現(xiàn)象。每種晶體內(nèi)部的原子排列方式是獨(dú)一的,因此對應(yīng)的衍射花樣是獨(dú)一的,從而可以進(jìn)行物相分析。XRD可以應(yīng)用的領(lǐng)域廣,可普遍應(yīng)用于工業(yè)檢測。檢測速度相當(dāng)快。XRD是X射線衍射的簡稱,X射線衍射。通過分析材料。X射線衍射,分析其衍射圖,獲取材料成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息。X射線是一種短波長(約20~0.06埃)的電磁波,可以穿透一定厚度的材料。為什么要求XRD測試粉末樣品要稍微多一些?這主要是因?yàn)榉勰悠芬仢M整個樣品臺,不然X射線可能會打在樣品臺上,影響數(shù)據(jù)質(zhì)量。XRD設(shè)備操作的注意事項(xiàng):操作時(shí)必須嚴(yán)格按規(guī)程操作。深圳便攜式XRD應(yīng)用原理

XRD可以應(yīng)用的領(lǐng)域廣,可普遍應(yīng)用于工業(yè)檢測。檢測速度相當(dāng)快。XRD的測試原理是布拉格方程,即n=2*d*sin,其中為入射光線的波長,d為晶面間距,為衍射角。換句話說,XRD是測試晶體結(jié)構(gòu)的有效手段。由于晶體有其獨(dú)特的晶體學(xué)特征,即空間晶格,14種Bravais晶格是其晶格類型,晶面參數(shù)有限。XRD是X射線衍射的簡稱,X射線衍射。通過分析材料。X射線衍射,分析其衍射圖,獲取材料成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息。X射線為一種短波長(約20~0.06埃)的電磁波,可以穿透一定厚度的材料。深圳便攜式XRD應(yīng)用原理XRD設(shè)備的使用可為客戶解決的問題有哪些?

高分辨率XRD,能夠確定外延層的厚度、成分、松弛、應(yīng)變、摻雜劑水平和誤切。直接測量多層結(jié)構(gòu)內(nèi)層的松弛/應(yīng)變/組成。在需要時(shí)將三軸分析儀晶體自動插入和對齊到光束中。自動樣品校準(zhǔn)、測量、分析和報(bào)告。倒數(shù)空間圖在幾分鐘內(nèi)完成并使用PeakSplit進(jìn)行分析??梢允褂媚M雙軸和三軸衍射掃描。樣品要求:粉末樣品請準(zhǔn)備至少20mg,0.1g以上較好,量少可以用微量室,但是效果相對不是很好。需要粒度均勻(粒度在45um左右或過200目篩子),手摸無顆粒感,面粉質(zhì)感;塊狀樣品要求長寬1-2cm(一般不小于1cm),厚度不超出15mm,需要注明測試面,測試面需要平整光潔。

X射線衍射儀采用創(chuàng)造性的設(shè)計(jì),配備了集成化的DIFFRAC.SUITETM軟件,附件自動識別、即插即用以及完全集成化的二維XRD2功能。這些特征使得用戶可以非常方便的在材料研究領(lǐng)域的不同應(yīng)用之間切換,包括:反射率測量(XRR)、高分辨測量(HRXRD)、掠入射(GID)、面內(nèi)掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析。主要應(yīng)用:高分辨XRD(HRXRD),外延多層膜厚度,晶胞參數(shù),晶格錯配,組份,應(yīng)變及弛豫過程,橫向結(jié)構(gòu),鑲嵌度,X射線反射率(XRR),薄膜厚度,組份,密度,粗造度,孔隙度。新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù),使用XRD可快捷測試出點(diǎn)陣參數(shù)。

為什么說XRD測試要求薄膜(塊體)樣品尺寸要合適?因?yàn)榉胖帽∧ぃ▔K體)樣品的樣品臺尺寸是固定的,用橡皮泥來固定樣品,樣品太大放不進(jìn)去,樣品臺小不好固定。XRD設(shè)備支持所有基于X射線衍射和散射的材料研究應(yīng)用,包括定性和定量相分析、結(jié)構(gòu)分析、高分辨率X射線衍射、反射率測量、倒易空間掃描、掠入射衍射(面內(nèi)GID)、掠入射小角X射線散射(GISAXS)、應(yīng)力分析和織構(gòu)分析以及微區(qū)衍射,具體取決于使用的附件。無論面對何種應(yīng)用,XRD設(shè)備都會指引用戶選擇較佳的儀器配置。XRD設(shè)備應(yīng)注意使樣品表面與樣品架平齊。進(jìn)口德國XRD代理商

XRD設(shè)備的特點(diǎn):檢測快速。深圳便攜式XRD應(yīng)用原理

X射線衍射方法具有不損傷樣品、快捷、無污染、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中普遍應(yīng)用。X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣,本質(zhì)上都屬于電磁波,只是彼此之間占據(jù)不同的波長范圍而已。X射線的波長較短,大約在10-8~10-10cm之間。當(dāng)X射線照射到晶體物質(zhì)上,由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級,故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射,衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度,與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)不同的晶體物質(zhì)具有自己獨(dú)特的衍射樣,這就是X射線衍射的基本原理。深圳便攜式XRD應(yīng)用原理

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