XRD，X射線衍射儀：X射線衍射儀的英文名稱是X-rayPowderdiffractometer簡(jiǎn)寫為XPD或XRD。有時(shí)會(huì)把它叫做x射線多晶體衍射儀，英文名稱為X-raypolycrystallinediffractometer簡(jiǎn)寫仍為XPD或XRD。X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構(gòu)成很相似，主要部件包括4部分。（1）高穩(wěn)定度X射線源，提供測(cè)量所需的X射線,改變X射線管陽(yáng)極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng),調(diào)節(jié)陽(yáng)極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。（2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)，樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。（3）射線檢測(cè)器，檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向,通過儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。（4）衍射圖的處理分析系統(tǒng)，現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有專門使用衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng),它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。高分辨率 XRD ，可以確定外延層的厚度、成分、松弛、應(yīng)變、摻雜劑水平和誤切。布魯克粉末衍射儀應(yīng)用原理

XRD設(shè)備的使用可為客戶解決的問題：（1）當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。（2）很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。（3）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。（4）產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。（5）納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。廣州便攜式XRD工作原理XRD 還可以測(cè)定材料中晶粒的大小或其排布取向。

XRD儀器操作規(guī)程：制樣：1. 粉末樣品制樣方法： 粉末樣品應(yīng)干燥，粒度一般要求約10~80μm，應(yīng)過200目篩子（約0.08mm），且避免顆粒不均勻。用藥勺取適量樣品于玻璃樣品架中間的槽里，另取一塊載玻片，用載玻片輕輕將樣品壓緊，并將高出樣品架表面的多余粉末刮去，如此重復(fù)幾次使樣品表面平整。將樣品架邊緣的樣品刮掉，擦干凈即可進(jìn)行測(cè)試。注意事項(xiàng)：玻璃樣品架易碎、數(shù)量有限，使用要千萬(wàn)小心，如有損壞按原價(jià)賠償。制樣時(shí)用力要均勻，不可力度過大，以免形成粉粒定向排列。樣品一定要刮平，且與樣品架表面高度一致，否則引起測(cè)量角度和對(duì)應(yīng)d值偏差。其他樣品：對(duì)于不易研碎的樣品，可先將其處理成與窗孔大小一致，磨平一面，再用橡皮泥或石蠟將其固定在窗孔內(nèi)，固定時(shí)橡皮泥或石蠟等請(qǐng)注意略低于樣品，不要與樣品齊平。片狀、纖維狀或薄膜樣品也可類似固定在樣品架的窗孔內(nèi)，應(yīng)注意使樣品表面與樣品架平齊。

XRD設(shè)備簡(jiǎn)介：儀器通過對(duì)樣品進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息（材料主要成分、次要成份或微量成份的全晶相ID信息），具有制樣簡(jiǎn)單、無污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)，是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。XRD設(shè)備的送樣要求：1）粉末樣品：顆粒度在10微米以下；塊體、薄膜樣品：表面打磨平滑，厚度不超過5毫米；尺寸不超過2厘米(平臺(tái)不提供制樣)。2）信息要求：若需樣品成分分析，需提供體系可能含有的全部元素。XRD 特別適用于晶態(tài)物質(zhì)的物相分析。

X射線衍射技術(shù)(XRD)的發(fā)現(xiàn)距今以及有多年，如今，它已經(jīng)是材料科學(xué)中基本的表征手段。通過XRD測(cè)試，我們可以知道材料的結(jié)構(gòu)、晶胞參數(shù)和問題情況等。X射線衍射作為一電磁波投射到晶體中時(shí)，會(huì)受晶體中原子的影響出現(xiàn)衍射現(xiàn)象。每種晶體內(nèi)部的原子排列方式是獨(dú)一的，因此對(duì)應(yīng)的衍射花樣是獨(dú)一的，從而可以進(jìn)行物相分析。布拉格方程是X射線在晶體中產(chǎn)生衍射需要滿足的基本條件，其反映了衍射線方向和晶體結(jié)構(gòu)之間的關(guān)系。布拉格方程：2dsinθ=nλ。其中，θ為入射角、d為晶面間距、n為衍射級(jí)數(shù)、λ為入射線波長(zhǎng)，2θ為衍射角。X射線發(fā)生系統(tǒng)（產(chǎn)生X射線）是“太陽(yáng)”，測(cè)角及探測(cè)系統(tǒng)（測(cè)量2θ和獲得衍射信息）是其“眼睛”，記錄和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)是其“大腦”，三者協(xié)同工作，輸出衍射圖譜。X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來獲得衍射后X射線信號(hào)特征，經(jīng)過處理得到衍射圖譜。新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)。進(jìn)口德國(guó)D2 Phaser應(yīng)用原理

XRD設(shè)備的使用可為客戶解決的問題有哪些？布魯克粉末衍射儀應(yīng)用原理

X射線衍射儀基本構(gòu)造：主要部件包括4部分。（1）高穩(wěn)定度X射線源，提供測(cè)量所需的X射線,改變X射線管陽(yáng)極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng),調(diào)節(jié)陽(yáng)極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。（2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)，樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。（3）射線檢測(cè)器，檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向,通過儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。（4）衍射圖的處理分析系統(tǒng)，現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有專門使用衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng),它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。布魯克粉末衍射儀應(yīng)用原理

廣州高測(cè)儀器有限公司是國(guó)內(nèi)一家多年來專注從事X射線衍射儀（XRD），XRF，熱重分析儀，激光粒度儀的老牌企業(yè)。公司位于廣州市天河區(qū)天源路5號(hào)之二1134房（僅限辦公），成立于2015-02-17。公司的產(chǎn)品營(yíng)銷網(wǎng)絡(luò)遍布國(guó)內(nèi)各大市場(chǎng)。公司現(xiàn)在主要提供X射線衍射儀（XRD），XRF，熱重分析儀，激光粒度儀等業(yè)務(wù)，從業(yè)人員均有X射線衍射儀（XRD），XRF，熱重分析儀，激光粒度儀行內(nèi)多年經(jīng)驗(yàn)。公司員工技術(shù)嫻熟、責(zé)任心強(qiáng)。公司秉承客戶是上帝的原則，急客戶所急，想客戶所想，熱情服務(wù)。公司會(huì)針對(duì)不同客戶的要求，不斷研發(fā)和開發(fā)適合市場(chǎng)需求、客戶需求的產(chǎn)品。公司產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域廣，實(shí)用性強(qiáng)，得到X射線衍射儀（XRD），XRF，熱重分析儀，激光粒度儀客戶支持和信賴。德國(guó)布魯克,德國(guó)耐馳,美國(guó)賽默飛,日本horiba,瑞士萬(wàn)通秉承著誠(chéng)信服務(wù)、產(chǎn)品求新的經(jīng)營(yíng)原則，對(duì)于員工素質(zhì)有嚴(yán)格的把控和要求，為X射線衍射儀（XRD），XRF，熱重分析儀，激光粒度儀行業(yè)用戶提供完善的售前和售后服務(wù)。