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便攜式D8 Discover參數(shù)

來源: 發(fā)布時間:2022-11-11

X射線衍射作為一電磁波投射到晶體中時,會受晶體中原子的影響出現(xiàn)衍射現(xiàn)象。每種晶體內(nèi)部的原子排列方式是獨一的,因此對應的衍射花樣是獨一的,從而可以進行物相分析。XRD可以應用的領(lǐng)域廣,可普遍應用于工業(yè)檢測。檢測速度相當快。XRD是X射線衍射的簡稱,X射線衍射。通過分析材料。x射線衍射,分析其衍射圖,獲取材料成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息。x射線是一種短波長(約20 ~ 0.06埃)的電磁波,可以穿透一定厚度的材料。為什么要求XRD測試粉末樣品要稍微多一些?主要是因為粉末樣品要鋪滿整個樣品臺,不然X射線可能會打在樣品臺上,影響數(shù)據(jù)質(zhì)量。XRD設備具有優(yōu)異的性能。便攜式D8 Discover參數(shù)

XRD設備原理:X射線是原子內(nèi)層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射,主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵,這些很大數(shù)目的原子或離子/分子所產(chǎn)生的相干散射將會發(fā)生光的干涉作用,從而影響散射的X射線的強度增強或減弱。由于大量原子散射波的疊加,互相干涉而產(chǎn)生至大強度的光束稱為X射線的衍射線。滿足衍射條件,可應用布拉格公式:2dsinθ=λ。應用已知波長的X射線來測量θ角,從而計算出晶面間距d,這是用于X射線結(jié)構(gòu)分析;另一個是應用已知d的晶體來測量θ角,從而計算出特征X射線的波長,進而可在已有資料查出試樣中所含的元素。進口德國D2 Phaser工作原理XRD設備的功能強大,智能化程度高。

X射線衍射儀構(gòu)造:X射線衍射儀的形式多種多樣,用途各異,但其基本構(gòu)成很相似,為X射線衍射儀的基本構(gòu)造原理圖,主要部件包括4部分。(1)高穩(wěn)定度X射線源。提供測量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長,調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強度。(2)樣品及樣品位置取向的調(diào)整機構(gòu)系統(tǒng)。樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。(3)射線檢測器。檢測衍射強度或同時檢測衍射方向,通過儀器測量記錄系統(tǒng)或計算機處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。(4)衍射圖的處理分析系統(tǒng)。現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有專門用的衍射圖處理分析軟件的計算機系統(tǒng),它們的特點是自動化和智能化。

XRD(X 射線衍射)是目前研究晶體結(jié)構(gòu)(如原子或離子及其基團的種類和位置分布,晶胞形狀和大小等)有力的方法。XRD 特別適用于晶態(tài)物質(zhì)的物相分析。晶態(tài)物質(zhì)組成元素或基團如不相同或其結(jié)構(gòu)有差異,它們的衍射譜圖在衍射峰數(shù)目、角度位置、相對強度次序以至衍射峰的形狀上就顯現(xiàn)出差異。因此,通過樣品的 X 射線衍射圖與已知的晶態(tài)物質(zhì)的 X 射線衍射譜圖的對比分析便可以完成樣品物相組成和結(jié)構(gòu)的定性鑒定;通過對樣品衍射強度數(shù)據(jù)的分析計算,可以完成樣品物相組成的定量分析;XRD 還可以測定材料中晶粒的大小或其排布取向(材料的織構(gòu))…等等,應用面十分普遍。XRD設備支持所有基于X射線衍射和散射的材料研究應用。

XRD設備組成:X射線衍射儀的形式多種多樣,用途各異,但其基本構(gòu)成很相似,主要部件包括4部分。(1)高穩(wěn)定度X射線源,提供測量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長,調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強度。(2)樣品及樣品位置取向的調(diào)整機構(gòu)系統(tǒng),樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。(3)射線檢測器,檢測衍射強度或同時檢測衍射方向,通過儀器測量記錄系統(tǒng)或計算機處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。(4)衍射圖的處理分析系統(tǒng),現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有專門使用衍射圖處理分析軟件的計算機系統(tǒng),它們的特點是自動化和智能化。XRD 衍射強度和峰的寬度與樣品顆粒大小,還是與晶體顆粒大小有關(guān)?進口D2 Phaser應用原理

XRD設備的使用可準確顯示當前的儀器狀態(tài)。便攜式D8 Discover參數(shù)

高分辨率 XRD ,可以確定外延層的厚度、成分、松弛、應變、摻雜劑水平和誤切。直接測量多層結(jié)構(gòu)內(nèi)層的松弛/應變/組成。在需要時將三軸分析儀晶體自動插入和對齊到光束中。自動樣品校準、測量、分析和報告。倒數(shù)空間圖在幾分鐘內(nèi)完成并使用PeakSplit 進行分析??梢允褂媚M雙軸和三軸衍射掃描。樣品要求:粉末樣品請準備至少20mg,0.1g以上較好,量少可以用微量室,但是效果相對不是很好。需要粒度均勻(粒度在45um左右或過200目篩子),手摸無顆粒感,面粉質(zhì)感;塊狀樣品要求長寬1-2cm(一般不小于1cm),厚度不超出15mm,需要注明測試面,測試面需要平整光潔。便攜式D8 Discover參數(shù)

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