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來源: 發(fā)布時(shí)間:2022-11-03

XRD設(shè)備的主要功能及特色:應(yīng)用于晶體物質(zhì)定性和定量相分析,結(jié)晶學(xué)分析,結(jié)構(gòu)解析、織構(gòu)和殘余應(yīng)力分析等;可以分析黏土礦物、合金、陶瓷、食品、藥物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、超導(dǎo)材料、納米材料物相鑒定,材料可以是單晶體、多晶體、薄膜等片狀、塊狀、粉末狀固體。能在控制氣氛和程序控溫條件下現(xiàn)場原位分析物質(zhì)結(jié)構(gòu)的變化。配備lynxeye 超能檢測器,使檢測靈敏度提高一個(gè)量級,可以達(dá)到或超出旋轉(zhuǎn)陽極靶的效果。XRD設(shè)備具備的特點(diǎn):制樣簡單。德國布魯克XRD廠家電話

XRD 衍射強(qiáng)度和峰的寬度與樣品顆粒大小,還是與晶體顆粒大小有關(guān)?樣品中晶粒越小,衍射峰的峰高的強(qiáng)度越來越低,但是峰越來越寬,實(shí)際上利用 X 射線衍射峰的寬化對樣品的結(jié)晶顆粒度分析就是根據(jù)這個(gè)原理的(Scherrer 公式)。晶粒大小和顆粒大小有關(guān)系,但是其各自的含義是有區(qū)別的。一顆晶粒也可能就是一顆顆粒,但是更可能的情況是晶粒抱到一起 , 二次聚集 , 成為顆粒。顆粒不是衍射的基本單位, 但是微小的顆粒能產(chǎn)生散射。你磨的越細(xì) , 散射就越強(qiáng).。對于晶粒, 你磨過頭了, 晶體結(jié)構(gòu)被破壞了, 磨成非晶, 衍射能力就沒有了。磨得太狠的話,有些峰可能要消失了,而且相鄰較近的衍射峰會(huì)由于寬化而相互疊加,會(huì)變成 1 個(gè)或幾個(gè)"鼓包"。一般晶面間距大的峰受晶粒細(xì)化的影響會(huì)明顯一些,因?yàn)?d 值大的晶面容易被破壞。深圳進(jìn)口德國XRD供應(yīng)商很多材料的性能由結(jié)晶程度決定,可使用XRD結(jié)晶度分析,確定材料的結(jié)晶程度。

XRD分析儀:1.可以獲得更高的靈敏度、更快的分析速度以及更可靠的結(jié)果。升級后的X射線探測器硬件運(yùn)行速度提高33%,并且強(qiáng)度更高,從而降低了LOD。SwiftMin自動(dòng)相識別和定量軟件可直接在X射線衍射分析儀上顯示實(shí)時(shí)數(shù)據(jù),可以使用戶能夠快速可靠做出決策。2.配有獨(dú)具特色的小型樣品托架,因此成為傳統(tǒng)X射線衍射儀方便攜帶、輕便且?guī)缀鯚o需維護(hù)的替代品。采用NASA技術(shù)的振動(dòng)樣品托架可讓樣品腔內(nèi)的所有顆粒物實(shí)現(xiàn)對流,從而確保數(shù)據(jù)幾乎不受取向效應(yīng)影響。只需15毫克樣品即可,并且使用隨附取樣套件即可輕松獲得樣品。3.同時(shí)獲得定量XRD和定性XRF數(shù)據(jù),專門設(shè)計(jì)的直接激勵(lì)電荷耦合器件(CCD)可同時(shí)檢測光子位置和能量,從而讓分析儀能夠同時(shí)采集XRD和XRF的X射線光子數(shù)據(jù)。

XRD設(shè)備具備多種功能,射線衍射儀主要功能:1.●TWIN/TWIN光路。獲得的TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)極大地簡化了操作,使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型。為便于用戶使用,該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動(dòng)切換。該系統(tǒng)無需人工干預(yù),即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進(jìn)行切換,且無需人工干預(yù),是在環(huán)境下和非環(huán)境下對包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在內(nèi)的所有類型的樣品進(jìn)行分析的理想選擇。2.●動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化(DBO)。獨(dú)有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準(zhǔn)。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測器窗口的自動(dòng)同步功能,可為您提供無法比擬的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2Θ角度時(shí)。除此之外,LYNXEYE全系列探測器均支持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和LYNXEYEXE-T。新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù),使用XRD可快捷測試出點(diǎn)陣參數(shù)。

XRD設(shè)備需要有正確的操作方式,才能有效延長X射線衍射儀的使用壽命,對備用的X射線衍射儀可采用事后維修或定期計(jì)劃維修,重要X射線衍射儀或裝置,一般按一用一備、二用一備或多臺配置,由于有備用X射線衍射儀,可采用定期計(jì)劃維修或事后維修,重點(diǎn)是確保備用X射線衍射儀必須隨時(shí)處于完好狀態(tài),以便及時(shí)投入運(yùn)行。重點(diǎn)是做好X射線衍射儀的預(yù)防維護(hù),所謂預(yù)防維護(hù)是指對X射線衍射儀或X射線衍射儀的構(gòu)成部分定期或連續(xù)觀測,以追蹤其測定值有無變化,有沒有顯示出變化的傾向,以此來判斷X射線衍射儀是否有異常。XRD設(shè)備注意事項(xiàng):必須嚴(yán)格按照操作規(guī)程,盡量減少故障的發(fā)生。廣州進(jìn)口布魯克X射線衍射儀廠家電話

XRD設(shè)備的使用可為客戶解決的問題有哪些?德國布魯克XRD廠家電話

XRD儀器操作規(guī)程:制樣:1. 粉末樣品制樣方法: 粉末樣品應(yīng)干燥,粒度一般要求約10~80μm,應(yīng)過200目篩子(約0.08mm),且避免顆粒不均勻。用藥勺取適量樣品于玻璃樣品架中間的槽里,另取一塊載玻片,用載玻片輕輕將樣品壓緊,并將高出樣品架表面的多余粉末刮去,如此重復(fù)幾次使樣品表面平整。將樣品架邊緣的樣品刮掉,擦干凈即可進(jìn)行測試。注意事項(xiàng):玻璃樣品架易碎、數(shù)量有限,使用要千萬小心,如有損壞按原價(jià)賠償。制樣時(shí)用力要均勻,不可力度過大,以免形成粉粒定向排列。樣品一定要刮平,且與樣品架表面高度一致,否則引起測量角度和對應(yīng)d值偏差。其他樣品:對于不易研碎的樣品,可先將其處理成與窗孔大小一致,磨平一面,再用橡皮泥或石蠟將其固定在窗孔內(nèi),固定時(shí)橡皮泥或石蠟等請注意略低于樣品,不要與樣品齊平。片狀、纖維狀或薄膜樣品也可類似固定在樣品架的窗孔內(nèi),應(yīng)注意使樣品表面與樣品架平齊。德國布魯克XRD廠家電話

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