如何由 XRD 圖譜確定所做的樣品是準(zhǔn)晶結(jié)構(gòu)？XRD 圖譜中非晶、準(zhǔn)晶和晶體的結(jié)構(gòu)怎么嚴(yán)格區(qū)分？三者并無嚴(yán)格明晰的分界。在衍射儀獲得的 XRD 圖譜上，如果樣品是較好的”晶態(tài)”物質(zhì)，圖譜的特征是有若干或許多個(gè)一般是彼此很窄的”尖峰”（其半高度處的 2θ寬度在 0.1°~0.2°左右，這一寬度可以視為由實(shí)驗(yàn)條件決定的晶體衍射峰的”至小寬度”）。如果這些”峰”明顯地變寬，則可以判定樣品中的晶體的顆粒尺寸將小于 300nm，可以稱之為”微晶”。晶體的 X 射線衍射理論中有一個(gè) Scherrer 公式，可以根據(jù)譜線變寬的量估算晶粒在該衍射方向上的厚度。XRD設(shè)備的功能強(qiáng)大，智能化程度高。德國(guó)粉末衍射儀

為什么XRD測(cè)試要求薄膜（塊體）樣品尺寸要合適？因?yàn)榉胖帽∧ぃ▔K體）樣品的樣品臺(tái)尺寸是固定的，用橡皮泥來固定樣品，樣品太大放不進(jìn)去，樣品臺(tái)小不好固定。XRD設(shè)備支持所有基于X射線衍射和散射的材料研究應(yīng)用，包括定性和定量相分析、結(jié)構(gòu)分析、高分辨率X射線衍射、反射率測(cè)量、倒易空間掃描、掠入射衍射（面內(nèi)GID）、掠入射小角X射線散射（GISAXS）、應(yīng)力分析和織構(gòu)分析以及微區(qū)衍射，具體取決于使用的附件。無論面對(duì)何種應(yīng)用，XRD設(shè)備都會(huì)指引用戶選擇較佳的儀器配置。廣州進(jìn)口布魯克D8 Advance儀器原理XRD設(shè)備能輕松切換包括X射線管、光學(xué)器件、樣品臺(tái)和探測(cè)器在內(nèi)的光路組件，而無需對(duì)準(zhǔn)。

X射線衍射儀的英文名稱是X-rayPowderdiffractometer簡(jiǎn)寫為XPD或XRD。有時(shí)會(huì)把它叫做x射線多晶體衍射儀，英文名稱為X-raypolycrystallinediffractometer簡(jiǎn)寫仍為XPD或XRD。那么為什么XRD數(shù)據(jù)的峰強(qiáng)度較低，甚至沒有明顯的衍射峰？因?yàn)闃悠返难苌浞鍙?qiáng)度主要跟樣品本身的結(jié)晶度有關(guān)，其次跟樣品量以及儀器的功率都有關(guān)系。X射線衍射(XRD)是所有物質(zhì)，包括從流體、粉末到完整晶體，重要的無損分析工具。對(duì)材料學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、地質(zhì)、環(huán)境、納米材料、生物等領(lǐng)域來說，X射線衍射儀都是物質(zhì)結(jié)構(gòu)表征，以性能為導(dǎo)向研制與開發(fā)新材料， 宏觀表象轉(zhuǎn)移至微觀認(rèn)識(shí)，建立新理論和質(zhì)量控制不可缺少的方法。

XRD設(shè)備的的使用可以為實(shí)驗(yàn)提供便利，提供可自由進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室/野外現(xiàn)場(chǎng)科學(xué)研究。集成性：XRD與XRF 技術(shù)集成，在每次檢測(cè)中，能夠同時(shí)采集XRD和XRF的X射線光子數(shù)據(jù)，提供物質(zhì)成分、物相及結(jié)構(gòu)信息，從而促進(jìn)檢測(cè)結(jié)果更加精確。簡(jiǎn)便性：儀器一鍵式操作，無需校正，自動(dòng)檢測(cè)，無需額外注意高壓系統(tǒng)和水循環(huán)冷卻系統(tǒng)（儀器無額外高壓和水循環(huán)冷卻系統(tǒng)）。制樣簡(jiǎn)單：?jiǎn)未畏治鲋恍枰?5毫克左右的樣品即可獲得優(yōu)良的檢測(cè)結(jié)果，樣品制備無需制片、壓片、刮平等，3分鐘即可完成樣品制樣（粉碎、濾篩、裝樣）。產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。

X射線衍射儀構(gòu)造：X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構(gòu)成很相似，為X射線衍射儀的基本構(gòu)造原理圖，主要部件包括4部分。（1）高穩(wěn)定度X射線源。提供測(cè)量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng),調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。（2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)。樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。（3）射線檢測(cè)器。檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向,通過儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。（4）衍射圖的處理分析系統(tǒng)?，F(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有專門用的衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng),它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。XRD設(shè)備的原理是怎么樣的？廣州進(jìn)口布魯克D8 Discover商家

XRD設(shè)備具有全自動(dòng)源和檢測(cè)器光學(xué)元件以及水平樣品安裝。德國(guó)粉末衍射儀

XRD 衍射強(qiáng)度和峰的寬度與樣品顆粒大小，還是與晶體顆粒大小有關(guān)？樣品中晶粒越小，衍射峰的峰高的強(qiáng)度越來越低，但是峰越來越寬，實(shí)際上利用 X 射線衍射峰的寬化對(duì)樣品的結(jié)晶顆粒度分析就是根據(jù)這個(gè)原理的（Scherrer 公式）。晶粒大小和顆粒大小有關(guān)系，但是其各自的含義是有區(qū)別的。一顆晶粒也可能就是一顆顆粒，但是更可能的情況是晶粒抱到一起 , 二次聚集 , 成為顆粒。顆粒不是衍射的基本單位, 但是微小的顆粒能產(chǎn)生散射。你磨的越細(xì) , 散射就越強(qiáng).。對(duì)于晶粒, 你磨過頭了, 晶體結(jié)構(gòu)被破壞了, 磨成非晶, 衍射能力就沒有了。磨得太狠的話，有些峰可能要消失了，而且相鄰較近的衍射峰會(huì)由于寬化而相互疊加，會(huì)變成 1 個(gè)或幾個(gè)"鼓包"。一般晶面間距大的峰受晶粒細(xì)化的影響會(huì)明顯一些，因?yàn)?d 值大的晶面容易被破壞。德國(guó)粉末衍射儀

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