目標(biāo)成像的研究已有幾十年的歷史了，其研究成果早已用于醫(yī)學(xué)的X光診斷及雷達(dá)的目標(biāo)識(shí)別。用近場(chǎng)研究目標(biāo)的像是80年代末才開始的，它是在已知目標(biāo)散射近場(chǎng)和入射場(chǎng)情況下，利用微波分集技術(shù)，逆推或反演表征目標(biāo)幾何特征的目標(biāo)函數(shù)，由目標(biāo)函數(shù)給出目標(biāo)的幾何形狀，這一過(guò)程稱為目標(biāo)的近場(chǎng)成像。這種測(cè)量方法的另一致命弱點(diǎn)是測(cè)量時(shí)間很長(zhǎng)，測(cè)量時(shí)間與取樣點(diǎn)數(shù)幾乎成四次方的關(guān)系，實(shí)用目標(biāo)的測(cè)量時(shí)間達(dá)到了不可容忍的程度。測(cè)量環(huán)境對(duì)散射近場(chǎng)測(cè)量散射體電特性也有很大的影響，除了在測(cè)量區(qū)域附加吸收材料外，還需要用到“背景對(duì)消技術(shù)”，其基本原理為：在無(wú)散射體的情況下，先用收、發(fā)探頭對(duì)測(cè)量區(qū)域空間掃描一次，并記錄采樣數(shù)據(jù)；在有散射體的情況下，記錄這時(shí)掃描測(cè)量的采樣數(shù)據(jù)，在保證一維掃描器（取樣架）定位精度的條件下，利用計(jì)算機(jī)軟件對(duì)兩次對(duì)應(yīng)位置的測(cè)量數(shù)據(jù)逐點(diǎn)進(jìn)行矢量相減（復(fù)數(shù)相減），這樣就消除了環(huán)境對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的影響。近區(qū)場(chǎng)的電磁場(chǎng)強(qiáng)度比遠(yuǎn)區(qū)場(chǎng)大得多。深圳可視化近場(chǎng)輻射

在產(chǎn)品進(jìn)行EMC測(cè)試過(guò)程中，往往會(huì)存在一些解決電磁干擾問題，重要的是判斷干擾的來(lái)源，只有準(zhǔn)確地將干擾源定位之后，才能夠提出解決電磁干擾的對(duì)癥措施。在電磁兼容合規(guī)預(yù)測(cè)試中，使用德國(guó)安諾尼的各種標(biāo)準(zhǔn)EMC天線進(jìn)行輻射泄漏測(cè)試，一般都是采用遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量。標(biāo)準(zhǔn)的遠(yuǎn)場(chǎng)輻射泄漏測(cè)量，可以比較定量地告訴我們被測(cè)設(shè)備是否符合國(guó)家或國(guó)際EMC標(biāo)準(zhǔn)，是否存在超出國(guó)家或國(guó)際EMC標(biāo)準(zhǔn)的電磁輻射干擾，其電磁干擾的頻率是多少，輻射強(qiáng)度是多少。江蘇手機(jī)近場(chǎng)輻射測(cè)試方法超出天線以外后，電磁場(chǎng)就會(huì)自動(dòng)脫離為能量包單獨(dú)傳播出去。

散射近場(chǎng)測(cè)量的發(fā)展動(dòng)態(tài)：散射體RCS的理論研究開始于60年代，早期的研究主要任務(wù)是對(duì)一些典型散射體（例如，板、球、柱體）進(jìn)行理論建模并進(jìn)行數(shù)值計(jì)算，取得了較多的研究成果，檢驗(yàn)計(jì)算結(jié)果正確與否的方法是遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量或緊縮場(chǎng)法。這兩種方法中的任意一種方法都是由硬件來(lái)產(chǎn)生準(zhǔn)平面波的（等幅面上幅度的起伏值≤0.25dB，等相面上相位的起伏值≤22.5°），遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量法是利用增加散射體與照射源之間的距離R（通常R=5D2/λ，D為散射體截面的很大尺寸）來(lái)實(shí)現(xiàn)球面波到平面波的轉(zhuǎn)換；緊縮場(chǎng)法則是利用偏饋拋物面來(lái)產(chǎn)生平面波的。因而工程上稱為模擬平面波法，其主要缺陷是受外界環(huán)境影響很大，因此，實(shí)用起來(lái)有很多問題（如遠(yuǎn)場(chǎng)法中對(duì)測(cè)量場(chǎng)地有苛刻的要求；緊縮場(chǎng)法對(duì)主反射面的機(jī)械精度有嚴(yán)格的要求），為了克服這些問題，出現(xiàn)了散射近場(chǎng)的測(cè)量方法。

輻射近場(chǎng)區(qū)：輻射近場(chǎng)區(qū)介乎于感應(yīng)近場(chǎng)區(qū)與輻射遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)之間。在此區(qū)域內(nèi)，與距離的一次方、平方、立方成反比的場(chǎng)分量都占據(jù)一定的比例，場(chǎng)的角分布(即天線方向圖)與離開天線的距離有關(guān)，也就是說(shuō)，在不同的距離上計(jì)算出的天線方向圖是有差別的。輻射遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)：輻射近場(chǎng)區(qū)之外就是輻射遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)，它是天線實(shí)際使用的區(qū)域。在此區(qū)域，場(chǎng)的幅度與離開天線的距離成反比，且場(chǎng)的角分布(即天線方向圖)與離開天線的距離無(wú)關(guān)，天線方向圖的主瓣、副瓣和零點(diǎn)都已形成。在衍射光學(xué)中，近場(chǎng)定義如下：當(dāng)入射光波是平面波，經(jīng)過(guò)透鏡會(huì)聚后。

輻射近場(chǎng)測(cè)量是用一個(gè)已知探頭天線（口徑幾何尺寸遠(yuǎn)小于1λ）在離開輻射體（通常是天線）3λ～5λ的距離上掃描測(cè)量（按照取樣定理進(jìn)行抽樣）一個(gè)平面或曲面上電磁場(chǎng)的幅度和相位數(shù)據(jù)，再經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的數(shù)學(xué)變換計(jì)算出天線遠(yuǎn)區(qū)場(chǎng)的電特性。當(dāng)取樣掃描面為平面時(shí)，則稱為平面近場(chǎng)測(cè)量；若取樣掃描面為柱面，則稱為柱面近場(chǎng)測(cè)量；如果取樣掃描面為球面，則稱為球面近場(chǎng)測(cè)量。其主要研究方法為模式展開法，該方法的基本思想為：空間任意一個(gè)時(shí)諧電磁波可以分解為沿各個(gè)方向傳播的平面波或柱面波或球面波之和。輻射強(qiáng)度的衰減要比感應(yīng)場(chǎng)慢得多。深圳可視化近場(chǎng)輻射

近區(qū)場(chǎng)通常具有如下特點(diǎn)：近區(qū)場(chǎng)內(nèi)，電場(chǎng)強(qiáng)度與磁場(chǎng)強(qiáng)度的大小沒有確定的比例關(guān)系。深圳可視化近場(chǎng)輻射

近場(chǎng)EMI測(cè)量的問題在于使用近場(chǎng)探頭的測(cè)量結(jié)果和使用天線進(jìn)行遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量的結(jié)果無(wú)法直接進(jìn)行數(shù)學(xué)轉(zhuǎn)換。但是存在一個(gè)基本原理：近場(chǎng)的輻射越大，遠(yuǎn)場(chǎng)的輻射也必然越大。所以使用近場(chǎng)探頭測(cè)量，實(shí)際上是一個(gè)相對(duì)量的測(cè)量，而不是精確的一定量測(cè)量。使用近場(chǎng)探頭進(jìn)行EMI預(yù)兼容測(cè)試時(shí)，我們常常把新被測(cè)件測(cè)試結(jié)果和一個(gè)已知合格被測(cè)件的近場(chǎng)探頭測(cè)試（近場(chǎng)測(cè)試）結(jié)果進(jìn)行比較，來(lái)預(yù)測(cè)EMI輻射泄漏測(cè)試（遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試）的結(jié)果，而不是直接和符合EMI兼容標(biāo)準(zhǔn)的限制線進(jìn)行比較。同時(shí)，測(cè)試的一定數(shù)值意義也不大，因?yàn)檫@個(gè)測(cè)試結(jié)果和諸多變量，包括探頭的位置方向、被測(cè)件的形狀等會(huì)密切相關(guān)。深圳可視化近場(chǎng)輻射

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