EMC測試伴隨著產(chǎn)品研制的全過程，眾所周知，一個產(chǎn)品的電磁兼容性能是否達標靠什么證明呢？無疑是試驗，試驗是檢驗產(chǎn)品性能好壞的單獨手段。然而，EMC試驗不單單承擔對產(chǎn)品性能終檢驗的任務(wù)，在產(chǎn)品設(shè)計階段也需要有輔助試驗手段檢驗每一個設(shè)計思想及每一項設(shè)計措施是否正確。特別是復雜的電子系統(tǒng)，在方案論證階段需要制定EMC試驗規(guī)范，在單機設(shè)備初樣、正樣研制階段需要對每項EMC指標進行測量，組成系統(tǒng)之后需要進行系統(tǒng)級的EMC測試。系統(tǒng)級EMC測試的目的一方面檢驗系統(tǒng)自身兼容性，另一方面檢驗該電子系統(tǒng)與特定的工作環(huán)境是否兼容。EMI報告似乎直接提供了有關(guān)特定頻率點故障的信息，因此事情看起來很簡單。廣東PCB板EMI診斷輻射發(fā)射測試
為了確定一塊特定電路板上的能量源以及位于特定EMI問題中心的天線，你需要檢查被觀察信號的周期。信號的射頻頻率是多少？是脈沖式的還是連續(xù)的？這些信號特征可以使用基本的頻譜分析儀進行監(jiān)視。你還需要查看巧合性。待測設(shè)備（DUT）上的哪個信號與EMI事件是同時發(fā)生的？一般常見的做法是用示波器探測DUT上的電氣信號。檢查EMI問題與電氣事件的巧合性無疑是EMI排查中耗時間的工作。過去，將來自頻譜分析儀和示波器的信息以同步方式關(guān)聯(lián)在一起一直是很難做的一件事。廣東PCB板EMI診斷輻射發(fā)射測試一般來說，近場探針沒有校準數(shù)據(jù)，因此它們適合用于相對測量。
各種接頭如Keyboard及Powersupply常常由于接頭的插頭與機器上的插座間的密合度不好﹐影響了干擾噪聲的輻射。檢查的方式可將接頭拔掉看噪聲是否減小﹐減小表示兩種冊可﹐一為線上本身輻射干擾﹐另一為接頭間接觸不好﹐此時插上接頭﹐用手銷微將接頭端左右搖動﹐看噪聲是否會減小或消失﹐若會減小可將Keyboard或Powersupply的連接頭﹐用銅箔膠帶貼一圈﹐以增加其和機器接頭的密合度﹐這一點也是實測上很容易被疏忽﹐而會誤判機器的EMI為何每次測時好時壞﹐或花許多時間在其它的對策上面。
頻譜分析儀對幾種傳導發(fā)射的測試能夠象輻射發(fā)射測試那樣設(shè)成自動，并通過計算機對數(shù)據(jù)作圖、列表。同時頻譜分析儀在手動模式下也是一種有用的診斷工具。在顯示屏上可以觀察到相對較寬的掃描頻段，同時相應的限值顯示在顯示屏上，以便很快地與發(fā)射電平做比較。頻譜限值包含了電流探頭或LISN修正因子，同時頻譜分析儀顯示單位也隨之相應轉(zhuǎn)變。故障處理的結(jié)果可以在顯示屏上很容易地觀察到。傳導發(fā)射信號的特征可以用與輻射同樣的方法得到。故障處理的方法通常是濾波，但在1MHz以上時，問題通常由輻射發(fā)射的耦合而引起，因此，許多用于壓制輻射發(fā)射的故障檢修技術(shù)也被采用。檢查EMI問題與電氣 事件的巧合性無疑是EMI排查中耗時間的工作。
在EMI，工程師從來無法完全掌握可能存在什么信號。由于每臺新被測設(shè)備都不同，根據(jù)EMI信號特征選擇正確的工具以及識別輻射源十分重要。當涉及預一致性和一致性測試時，示波器的頻譜分析功能并不能取代傳統(tǒng)的EMI測試設(shè)備，如頻譜分析儀或測試接收機。畢竟相對有限的動態(tài)范圍和帶寬，缺少預選器、前置放大器和與標準兼容的加權(quán)檢波器，限值了示波器在EMI測試領(lǐng)域的應用。示波器、頻譜分析儀或測試接收機可以從不同角度解決EMI問題。每種設(shè)備用到不同的測試方法，并提供不同但互補的診斷技術(shù)。示波器互補的方法為EMI排查診斷打開了全新的天地，提供前所未有的EMI排查能力。更好的做法是在產(chǎn)品發(fā)出去做一致性測試之前就能夠確定和修復潛在的EMI問題。山東PCB板EMI診斷頻率
許多公司必須在產(chǎn)品設(shè)計和測試方面花費大量的人力物力。廣東PCB板EMI診斷輻射發(fā)射測試
正確的EMI診斷方法是,當對一個可能的干擾源采取了壓制措施后,即使沒有明顯的改善,也不要將這個措施去掉,繼續(xù)對可能的其他干擾源采取措施。當采取到某個措施時,如果干擾幅度降低很多,并能通過測試,并不一說明這個干擾源是主要的,而只說明這個干擾擾源相對于后幾個干擾源來說是量級較大的一個,并且可以是之后一個。在前面的敘述中,假定對某個干擾源采取措施后,這個產(chǎn)品中所有干擾源被100%消除掉,如果這樣,那么當之后一個干擾源去掉后,電磁干擾的減小應為無限大。廣東PCB板EMI診斷輻射發(fā)射測試