測(cè)試室為出EMI報(bào)告而開(kāi)展的掃描通常是在特殊條件下進(jìn)行的，你的公司實(shí)驗(yàn)室也許無(wú)法復(fù)制這些條件。舉例來(lái)說(shuō)，待測(cè)設(shè)備（DUT）可能放在一個(gè)轉(zhuǎn)盤(pán)上，以便于從多個(gè)角度收集信號(hào)。這種方位角信息是很有用的，因?yàn)樗苤甘締?wèn)題發(fā)生的DUT區(qū)域。或者EMI測(cè)試室可能在校準(zhǔn)過(guò)的射頻房?jī)?nèi)開(kāi)展他們的測(cè)量，并報(bào)告作為強(qiáng)場(chǎng)的測(cè)量結(jié)果。幸運(yùn)的是，你并不需要完全復(fù)制測(cè)試室的條件才能排查EMI測(cè)試故障。與在高度受控的EMI測(cè)試線上執(zhí)行的一定測(cè)量不同，可以使用測(cè)試報(bào)告中的信息、深入理解用于產(chǎn)生報(bào)告的測(cè)量技術(shù)以及對(duì)待測(cè)設(shè)備周邊的相對(duì)觀察以隔離問(wèn)題源并估計(jì)糾正有效性來(lái)開(kāi)展問(wèn)題的排查工作。MDO還能捕獲或觀察頻譜和時(shí)域軌跡。重慶 集成電路EMI診斷方法

起初接觸產(chǎn)品EMI對(duì)策修改時(shí)﹐會(huì)聽(tīng)到很好EMI工程師說(shuō)把所有EMI對(duì)策拿掉﹐就可以通過(guò)測(cè)試。初聽(tīng)以為是句玩笑話﹐如今回想這是很寶貴的經(jīng)驗(yàn)談。而后亦聽(tīng)到許多EMI工程師談到類(lèi)似的經(jīng)驗(yàn)。本文中將舉出實(shí)際的例子﹐讓讀者更加了解EMI的對(duì)策觀念。一般提到如何解決EMI問(wèn)題﹐大多說(shuō)是casebycase，當(dāng)然從對(duì)策上而言﹐每一個(gè)產(chǎn)品的特性及電路板布線（layout）情況不同﹐故無(wú)法用幾套方法而解決所有EMI的問(wèn)題﹐但是長(zhǎng)久以來(lái)﹐我們一直想要把處理EMI問(wèn)題并做適當(dāng)?shù)膶?duì)策﹐另外也提供專(zhuān)業(yè)的EMI工程師一種參考方法。在此我們把電磁干擾與對(duì)策的一些心得經(jīng)驗(yàn)整理﹐希望能對(duì)讀者有些幫助。重慶 集成電路EMI診斷方法待測(cè)設(shè)備（DUT）可能放在一個(gè)轉(zhuǎn)盤(pán)上，以 便于從多個(gè)角度收集信號(hào)。

改變帶寬法：通過(guò)改變頻譜分析儀分辨帶寬，信號(hào)的幅值可能也可能不發(fā)生變化。一個(gè)真正的窄帶或連續(xù)波信號(hào)的幅值將不發(fā)生變化。由持續(xù)時(shí)間為零、幅值無(wú)限大的脈沖產(chǎn)生的純寬帶發(fā)射，將產(chǎn)生量值為20log（BW1/BW2）的變化。然而在確定發(fā)射是寬帶還是窄帶的過(guò)程中，實(shí)際上允許與理想情況存在偏差。測(cè)試人員在使用這種方法時(shí)不可避免地要運(yùn)用較好的工程經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行判斷。峰值／平均值比較法：同帶寬改變法相似，這種方法是以信號(hào)幅值的變化為基礎(chǔ)的。窄帶信號(hào)的幅值電平在采用峰值或平均值檢波時(shí)基本保持不變，而寬帶信號(hào)在用平均值檢波時(shí)幅值將變小。

電磁輻射干擾的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量是指在半電波暗室或者EMC開(kāi)闊場(chǎng)進(jìn)行的測(cè)量，測(cè)量天線與被測(cè)物的距離一般為3米或3米以上，給出的結(jié)果是一張頻譜圖，即各個(gè)頻率點(diǎn)的電磁輻射干擾強(qiáng)度。標(biāo)準(zhǔn)GB13837-1997（CISPR13）和GB4343-1995（CISPR14）規(guī)定，應(yīng)分別測(cè)試EUT外接連線，如電源線、AV線、耳機(jī)線、話筒線等線纜的干擾功率。傳導(dǎo)干擾是測(cè)試EUT運(yùn)行過(guò)程中端口干擾電壓，包括電源端口、射頻端口、天線端口、電信端口等。如果被測(cè)設(shè)備有一個(gè)或者幾個(gè)頻率點(diǎn)的電磁干擾超過(guò)了標(biāo)準(zhǔn)的限值，被測(cè)設(shè)備就不符合EMC標(biāo)準(zhǔn)要求。準(zhǔn)峰值根據(jù)信號(hào)的持續(xù)時(shí)間和重復(fù)率對(duì)信號(hào)進(jìn)行加權(quán)。

EMC測(cè)試伴隨著產(chǎn)品研制的全過(guò)程，眾所周知，一個(gè)產(chǎn)品的電磁兼容性能是否達(dá)標(biāo)靠什么證明呢？無(wú)疑是試驗(yàn)，試驗(yàn)是檢驗(yàn)產(chǎn)品性能好壞的單獨(dú)手段。然而，EMC試驗(yàn)不單單承擔(dān)對(duì)產(chǎn)品性能終檢驗(yàn)的任務(wù)，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段也需要有輔助試驗(yàn)手段檢驗(yàn)每一個(gè)設(shè)計(jì)思想及每一項(xiàng)設(shè)計(jì)措施是否正確。特別是復(fù)雜的電子系統(tǒng)，在方案論證階段需要制定EMC試驗(yàn)規(guī)范，在單機(jī)設(shè)備初樣、正樣研制階段需要對(duì)每項(xiàng)EMC指標(biāo)進(jìn)行測(cè)量，組成系統(tǒng)之后需要進(jìn)行系統(tǒng)級(jí)的EMC測(cè)試。系統(tǒng)級(jí)EMC測(cè)試的目的一方面檢驗(yàn)系統(tǒng)自身兼容性，另一方面檢驗(yàn)該電子系統(tǒng)與特定的工作環(huán)境是否兼容。全世界幾乎所有有關(guān)部門(mén)都在嘗試控制他們國(guó)家生產(chǎn)的電子產(chǎn)品產(chǎn)生的有害電磁干擾（EMI）。廣州EMI診斷原理

混合域示波器（MDO）的推出使情況有了改觀，它能提供同步的而且與時(shí)間相關(guān)聯(lián)的觀察和測(cè)量功能。重慶 集成電路EMI診斷方法

EMI診斷在電子設(shè)備設(shè)計(jì)、調(diào)試階段，隨時(shí)進(jìn)行EMI診斷是保證電子設(shè)備通過(guò)EMC認(rèn)證行之有效且費(fèi)用低的手段。如果終產(chǎn)品EMC認(rèn)證不合格，設(shè)計(jì)者需要重新進(jìn)行EMI診斷，找出EMI問(wèn)題的根源，但此時(shí)可用的整改手段已經(jīng)不多，進(jìn)行重新設(shè)計(jì)，費(fèi)用將倍增。由此可見(jiàn)EMI診斷是日常工作中經(jīng)常進(jìn)行的，而EMI預(yù)認(rèn)證以及認(rèn)證測(cè)試只有在電子產(chǎn)品定型階段才進(jìn)行。傳導(dǎo)類(lèi)EMI可以用示波器追蹤，同時(shí)需要用頻譜儀測(cè)試，需要兩種儀器結(jié)合運(yùn)用。結(jié)合示波器中現(xiàn)有的在EMI排查方面的分析工具，將幫助您快速發(fā)現(xiàn)您設(shè)計(jì)中的潛在問(wèn)題。重慶 集成電路EMI診斷方法