閃存HTOL測試方法與流程本發(fā)明涉及半導(dǎo)體制造領(lǐng)域，尤其涉及一種閃存htol測試方法。背景技術(shù)：閃存(flashmemory)是一種非易失性的存儲器，其具有即使斷電存儲數(shù)據(jù)也不會(huì)丟失而能夠長期保存的特點(diǎn)。故近年來閃存的發(fā)展十分迅速，并且具有高集成度、高存儲速度和高可靠性的閃存存儲器被廣泛應(yīng)用于包括電腦、手機(jī)、服務(wù)器等電子產(chǎn)品及設(shè)備中。在半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域中，htol(hightemperatureoperatinglifetest，高溫操作生命期試驗(yàn))用于評估半導(dǎo)體器件在超熱和超電壓情況下一段時(shí)間的耐久力。對于閃存的可靠性而言，在數(shù)萬次的循環(huán)之后的htol是一個(gè)主要指數(shù)。通常而言，閃存產(chǎn)品需要在10000次的循環(huán)之后，通過1000小時(shí)的htol測試。閃存htol實(shí)際測試中存在若干小時(shí)后閃存測試讀點(diǎn)(例如讀“0”)失效，亟需解決閃存htol測試中讀點(diǎn)失效的問題?？煽啃允聵I(yè)部提供模擬，數(shù)字，混合信號，SOC，RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計(jì)。寶山區(qū)智能化HTOL測試機(jī)

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上海頂策科技有限公司（Topictest）推出的TH801，智能在線監(jiān)控動(dòng)態(tài)老化設(shè)備，可以監(jiān)控的參數(shù)除了整板的電壓，電流，還可以根據(jù)需求，監(jiān)控到老化中每顆芯片的電壓、電流，寄存器數(shù)據(jù)，時(shí)間，頻率等諸多參數(shù)，并實(shí)時(shí)記錄保存成Excel文檔。這樣不僅可以確保每顆芯片都處于正常的老化狀態(tài)，保證老化測試的質(zhì)量，同時(shí)還可以清楚地知道具體失效的參數(shù)，以及在什么時(shí)間點(diǎn)失效等諸多信息，非常有益于失效后的FA分析。另外由于可以監(jiān)控更多芯片參數(shù)，這使得免除ATE回測成為可能，這將大幅度提高老化測試效率，節(jié)省更多人力成本！這項(xiàng)技術(shù)目前已在對芯片質(zhì)量要求較高的芯片設(shè)計(jì)公司廣泛應(yīng)用。上海頂策科技有限公司可靠性測試服務(wù)，涵蓋原理圖設(shè)計(jì)，PCBlayout加工制作，老化程序開發(fā)調(diào)試。

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