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在線HTOL測(cè)試機(jī)24小時(shí)服務(wù)

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-03-15

可靠性測(cè)試事業(yè)部提供可靠性測(cè)試整體解決方案,包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設(shè)備,以及測(cè)試方案制定,PCB設(shè)計(jì)制作,測(cè)試試驗(yàn),滿足各類(lèi)芯片可靠性測(cè)試需求。自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù);可靈活配置芯片工作狀態(tài),并施加信號(hào),非常方便HTOL和Setup;實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)并記錄環(huán)境溫度,以及每顆芯片電壓,電流,頻率,寄存器狀態(tài)等數(shù)據(jù),確保芯片處于正常HTOL狀態(tài),保證HTOL測(cè)試質(zhì)量;通過(guò)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù),可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并介入分析,大幅提高HTOL效率,節(jié)省更多時(shí)間、FA成本;全程數(shù)據(jù)記錄,讓HTOL問(wèn)題更容易分析,更有追溯性;有全程HTOL數(shù)據(jù)記錄,讓報(bào)告更有說(shuō)服力,下游客戶更放心;上海頂策科技有限公司自主研發(fā)智能HTOL測(cè)試機(jī)TH801實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)確保芯片處于正常狀態(tài),保證HTOL測(cè)試質(zhì)量。在線HTOL測(cè)試機(jī)24小時(shí)服務(wù)

    1.試驗(yàn)?zāi)康臉?biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)?zāi)康膫渥ESD22-A108F-2017確定偏置條件和溫度對(duì)于固態(tài)器件隨時(shí)間的影響。試驗(yàn)可以加速地模擬器件的運(yùn)行狀態(tài),主要用于器件的可靠性測(cè)試。本實(shí)驗(yàn)在較短時(shí)間內(nèi)對(duì)器件施加高溫偏置,通常也被稱為老化或老煉。,這些器件隨著時(shí)間和應(yīng)力變化而產(chǎn)生的失效。GJB548B-2015方法,這些器件隨著時(shí)間和應(yīng)力變化而產(chǎn)生的失效。AEC-Q100參照J(rèn)ESD220-A108F-2017————————————————版權(quán)聲明:本文為CSDN博主「月丶匈」的原創(chuàng)文章,遵循,轉(zhuǎn)載請(qǐng)附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接:。 閔行區(qū)HTOL測(cè)試機(jī)排行榜上海頂策科技有限公司,20年以上的豐富測(cè)試技術(shù)積累及運(yùn)營(yíng)經(jīng)驗(yàn),擁有多項(xiàng)發(fā)明專(zhuān)利及軟件著作權(quán)。

上海頂策科技有限公司(Topictest)推出的TH801智能在線監(jiān)控動(dòng)態(tài)老化設(shè)備,擁有多項(xiàng)發(fā)明專(zhuān)利及軟件著作權(quán),可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并介入分析,大幅提高HTOL效率。可靠性測(cè)試事業(yè)部提供可靠性測(cè)試整體解決方案,包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設(shè)備,以及測(cè)試方案制定,PCB設(shè)計(jì)制作,測(cè)試試驗(yàn),可以滿足各類(lèi)芯片可靠性測(cè)試需求。自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù),大幅度提高HTOL效率,節(jié)省更多時(shí)間、FA成本,全程數(shù)據(jù)記錄,讓HTOL問(wèn)題更容易分析,更有追溯性,有全程HTOL數(shù)據(jù)記錄,讓報(bào)告更有說(shuō)服力,下游客戶更放心。

閃存參考單元的隧穿氧化層103中會(huì)捕獲一些主要從生產(chǎn)工藝帶來(lái)的淺能級(jí)的空穴,在浮柵里面會(huì)注入所需要的電子。編譯過(guò)程中浮柵104可以捕獲電子,擦除過(guò)程中隧穿氧化層103會(huì)捕獲空穴;在經(jīng)過(guò)多次的編譯以及擦除后,會(huì)在浮柵104中有更多的電子,隧穿氧化層103中有更多的空**7中經(jīng)編譯和擦除循環(huán)后電子空穴的凈值(差值)與未經(jīng)編譯和擦除循環(huán)的電子空穴的凈值(差值)相等,從而保證閃存參考單元編譯和擦除循環(huán)后的輸出電流與編譯和擦除循環(huán)前的輸出電流是相等的。擦除過(guò)程中隧穿氧化層捕獲的空穴為深能級(jí)的空穴,這些深能級(jí)的空穴不容易移動(dòng),而在浮柵里面捕獲的電子比較活躍,在htol測(cè)試過(guò)程中高溫下會(huì)比較容易丟失,從而補(bǔ)償了閃存參考單元從生產(chǎn)工藝帶來(lái)的淺能級(jí)的空穴在htol測(cè)試過(guò)程中的丟失。上海頂策科技有限公司智能HTOL測(cè)試機(jī)TH801有全程數(shù)據(jù)記錄,讓報(bào)告更有說(shuō)服力,下游客戶更放心。

    高溫工作壽命實(shí)驗(yàn)(Hightemperatureoperatinglifetest:HTOL)測(cè)試目的:芯片處于高溫條件下,加入動(dòng)態(tài)信號(hào),并長(zhǎng)時(shí)間工作,以評(píng)估其使用壽命,并確定其可靠性。測(cè)試條件:結(jié)溫(Tj)≧125℃,電壓Vcc≧Vccmax,測(cè)試時(shí)間:1000hrs樣品數(shù):77ea/lot,3lots測(cè)試讀點(diǎn):168、500、1000hrs參考規(guī)范:、JESD22-A108JESD22-A108B:Temperature,Bias,andOperatingLifeJESD85:METHODSFORCALCULATINGFAILURERATESINUNITSOFFITSJESD47K:Stress-Test-DrivenQualificationofIntegratedCircuitsJESD74:EarlyLifeFailureRateCalculationProcedureforSemiconductorComponents芯片工作壽命試驗(yàn)、老化試驗(yàn)(OperatingLifeTest),為利用溫度、電壓加速方式,在短時(shí)間試驗(yàn)內(nèi),預(yù)估芯片在長(zhǎng)時(shí)間可工作下的壽命時(shí)間(生命周期預(yù)估)。BI(Burn-in)/ELFR(EarlyLifeFailureRate):評(píng)估早夭階段的故障率或藉由BI手法降低出貨的早夭率-DPPM(DefectPartsPer-Million),針對(duì)失效模式中的InfantMortality,一般測(cè)試低于48小時(shí),車(chē)規(guī)級(jí)芯片需要100%BI測(cè)試。HTOL(HighTemperatureOperatingLife):評(píng)估可使用期的壽命時(shí)間-FIT/MTTF,針對(duì)失效模式中的Wearout,一般需要測(cè)試1000小時(shí),屬于抽樣測(cè)試。 TH801智能老化系統(tǒng),實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)并記錄每顆芯片電壓,電流,頻率,寄存器狀態(tài)等數(shù)據(jù)。國(guó)產(chǎn)HTOL測(cè)試機(jī)電話

上海頂策科技自主研發(fā)實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù),可靈活配置芯片工作狀態(tài),并施加信號(hào),非常方便HTOL Setup。在線HTOL測(cè)試機(jī)24小時(shí)服務(wù)

芯片HTOL測(cè)試項(xiàng)目柔性開(kāi)發(fā),芯片HTOL測(cè)試自研設(shè)備。上海頂策科技有限公司自主研發(fā)TH801智能一體化HTOL測(cè)試機(jī),擁有多項(xiàng)發(fā)明專(zhuān)利及軟件著作權(quán),可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并介入分析,大幅提高HTOL效率。提供可靠性設(shè)備,HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項(xiàng)可靠性測(cè)試方案制定,PCB設(shè)計(jì)制作,測(cè)試試驗(yàn),滿足各類(lèi)芯片可靠性測(cè)試需求。涵蓋模擬,數(shù)字,混合信號(hào),SOC,RF等各類(lèi)芯片的可靠性方案設(shè)計(jì),原理圖設(shè)計(jì),PCBlayout加工制作,老化程序開(kāi)發(fā)調(diào)試,可靠性測(cè)試試驗(yàn),出具可靠性報(bào)告。在線HTOL測(cè)試機(jī)24小時(shí)服務(wù)