如果想使用幾何光線來模擬多模光纖耦合系統(tǒng),那么光纖的纖芯直徑至少要比波長大10倍以上,這樣纖芯可以支持比較多比較多的橫模。如果光纖是可以傳播二階或三階模的少模光纖,那我們必須使用物理光學(xué)來進(jìn)行光纖耦合分析。在這篇文章中,“多模”定義為光纖支持太多種橫模了,以至...
保偏光纖耦合系統(tǒng)采用獨特的強(qiáng)熔拉錐工藝制備,用于光路的分光,可將輸入光均分成三束光。保偏光纖耦合系統(tǒng)通過了多種可靠性試驗以及各種工業(yè)應(yīng)用環(huán)境考核試驗,性能穩(wěn)定,可靠性高,已在國家多個重點工程中應(yīng)用。主要特點:體積小、附加損耗低、環(huán)境穩(wěn)定性好、可靠性高。保偏光纖...
硅光芯片耦合測試系統(tǒng)使用到一些有視覺輔助地初始光耦合的步驟是屬于耦合工藝的一部分。在此工藝過程中,輸入及輸出光纖陣列和波導(dǎo)輸入及輸出端面的距離大約是100~200微米,以便通過使用機(jī)器視覺精密地校準(zhǔn)預(yù)粘接間隙的測量,為后面必要的旋轉(zhuǎn)耦合留出安全的空間。旋轉(zhuǎn)耦合...
目前,基于SOI(絕緣體上硅)材料的波導(dǎo)調(diào)制器成為當(dāng)前的研究熱點,也取得了許多的進(jìn)展,但在硅光芯片調(diào)制器的產(chǎn)業(yè)化進(jìn)程中,面臨著一系列的問題,波導(dǎo)芯片與光纖的有效耦合就是難題之一。從懸臂型耦合結(jié)構(gòu)出發(fā),模擬設(shè)計了懸臂型倒錐耦合結(jié)構(gòu),通過開發(fā)相應(yīng)的有效地耦合工藝來...
光纖耦合系統(tǒng)的功能:1、借助自動協(xié)同仿真求解器管理取得可靠的結(jié)果。光纖耦合系統(tǒng)會同步參與多物理場仿真的求解器,并可進(jìn)行求解器任務(wù)執(zhí)行,同時執(zhí)行收斂檢查、重啟、HPC部署和錯誤處理等任務(wù)。根據(jù)所需詳細(xì)程度的不同,可以實現(xiàn)穩(wěn)態(tài)/靜態(tài)、瞬態(tài)和這些類型的組合分析。先進(jìn)...
硅光芯片耦合測試系統(tǒng)應(yīng)用到硅光芯片,我們一起來了解硅光芯片的市場定位:光芯片作為光通信系統(tǒng)中的中心器件,它承擔(dān)著將電信號轉(zhuǎn)換成光信號或?qū)⒐庑盘栟D(zhuǎn)換成電信號的重任,除了外加能源驅(qū)動工作,光器件的轉(zhuǎn)換能力和效率決定著通信速度。為什么未來需要硅光芯片,這是由于隨著5...
光子晶體光纖耦合系統(tǒng)有比較多奇特的性質(zhì)。例如,可以在比較寬的帶寬范圍內(nèi)只支持一個模式傳輸;包層區(qū)氣孔的排列方式能夠極大地影響模式性質(zhì);排列不對稱的氣孔也可以產(chǎn)生比較大的雙折射效應(yīng),這為我們設(shè)計高性能的偏振器件提供了可能。光子晶體光纖耦合系統(tǒng)又被稱為微結(jié)構(gòu)光纖,...
硅光芯片耦合測試系統(tǒng)系統(tǒng)的服務(wù)器為完成設(shè)備控制及自動測試應(yīng)包含有自動化硅光芯片耦合測試系統(tǒng)服務(wù)端程序,用于根據(jù)測試站請求信息分配測試設(shè)備,并自動切換光矩陣進(jìn)行自動測試。服務(wù)器連接N個測試站、測試設(shè)備、光矩陣。其中N個測試站連接由于非占用式特性采用網(wǎng)口連接方式;...
硅光芯片耦合測試系統(tǒng)耦合掉電,是在耦合的過程中斷電致使設(shè)備連接不上的情況,如果電池電量不足或者使用程控電源時供電電壓過低、5V觸發(fā)電壓未接觸好、測試連接線不良等都會導(dǎo)致耦合掉電的現(xiàn)象。與此相似的耦合充電也是常見的故障之一,在硅光芯片耦合測試系統(tǒng)過程中,點擊HQ...
既然提到硅光芯片耦合測試系統(tǒng),我們就認(rèn)識一下硅光子集。所謂硅光子集成技術(shù),是以硅和硅基襯底材料(如SiGe/Si、SOI等)作為光學(xué)介質(zhì),通過互補金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)兼容的集成電路工藝制造相應(yīng)的光子器件和光電器件(包括硅基發(fā)光器件、調(diào)制器、探測器、光波...
纖直接耦合是指把端面已處理平滑的平頭光纖直接對向另外一個接收光纖的端面。這種耦合方法影響耦合效率的主要因素是出射光纖的光束束腰半徑和接收端光纖芯徑的匹配以及出射端光束的發(fā)散角和接收端光纖的數(shù)值孔徑角的匹配。因為以上兩個原因會造成兩光纖之間存在嚴(yán)重的模失配,因此...
硅光芯片耦合測試系統(tǒng)是比較關(guān)鍵的,我們的客戶非常關(guān)注此工位測試的嚴(yán)謹(jǐn)性,硅光芯片耦合測試系統(tǒng)主要控制“信號弱”,“易掉話”,“找網(wǎng)慢或不找網(wǎng)”,“不能接聽”等不良機(jī)流向市場。一般模擬用戶環(huán)境對設(shè)備EMC干擾的方法與實際使用環(huán)境存在較大差異,所以“信號類”返修量...
硅光芯片耦合測試系統(tǒng)應(yīng)用到硅光芯片,我們一起來了解一下硅光芯片。近幾年,硅光芯片被廣為提及,從概念到產(chǎn)品,它的發(fā)展速度讓人驚嘆。硅光芯片作為硅光子技術(shù)中的一種,有著非??捎^的前景,尤其是在5G商用來臨之際,企業(yè)紛紛加大投入,搶占市場先機(jī)。硅光芯片的前景真的像人...
在光芯片領(lǐng)域,芯片耦合封裝問題是光子芯片實用化過程中的關(guān)鍵問題,芯片性能的測試也是至關(guān)重要的一步驟,現(xiàn)有的硅光芯片耦合測試系統(tǒng)系統(tǒng)是將光芯片的輸入輸出端光纖置于顯微鏡下靠人工手工移動微調(diào)架轉(zhuǎn)軸進(jìn)行調(diào)光,并依靠對輸出光的光功率進(jìn)行監(jiān)控,再反饋到微調(diào)架端進(jìn)行調(diào)試。...
自動光纖耦合系統(tǒng):本系統(tǒng)適合于有源方式來實現(xiàn)全自動COB耦合,是特別為COB等生產(chǎn)而優(yōu)化設(shè)計。而獨特專利設(shè)計的夾具,方便快速拿取工料。而其獨特設(shè)計的氣動點膠及UV固化裝置,定位準(zhǔn)確,動作快捷等優(yōu)點。產(chǎn)品特色:1、高精度電動線性位移臺,保證調(diào)節(jié)精度。2、定制的光...
根據(jù)產(chǎn)業(yè)鏈劃分,芯片從設(shè)計到出廠的中心環(huán)節(jié)主要包括6個部分:(1)設(shè)計軟件,芯片設(shè)計軟件是芯片公司設(shè)計芯片結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵工具,目前芯片的結(jié)構(gòu)設(shè)計主要依靠EDA(電子設(shè)計自動化)軟件來完成;(2)指令集體系,從技術(shù)來看,CPU只是高度聚集了上百萬個小開關(guān),沒有高效的...
空間激光通信技術(shù)是以激光光束為載波進(jìn)行空間信息傳輸?shù)募夹g(shù)。相比傳統(tǒng)微波通信,具有頻帶寬、保密性強(qiáng)、抗電磁干擾和無需申請頻段等特點??臻g激光載波通常以光學(xué)天線為接收終端,將空間光耦合進(jìn)入單?;蚨嗄9饫w進(jìn)行信息傳輸和解調(diào)??臻g光至光纖耦合系統(tǒng)技術(shù)是空間激光通信的關(guān)...
硅光芯片耦合測試系統(tǒng)系統(tǒng),該設(shè)備主要由極低/變溫控制子系統(tǒng)、背景強(qiáng)磁場子系統(tǒng)、強(qiáng)電流加載控制子系統(tǒng)、機(jī)械力學(xué)加載控制子系統(tǒng)、非接觸多場環(huán)境下的宏/微觀變形測量子系統(tǒng)五個子系統(tǒng)組成。其中極低/變溫控制子系統(tǒng)采用GM制冷機(jī)進(jìn)行低溫冷卻,實現(xiàn)無液氦制冷,并通過傳導(dǎo)冷...
基于設(shè)計版圖對硅光芯片進(jìn)行光耦合測試的方法及系統(tǒng)進(jìn)行介紹,該方法包括:讀取并解析設(shè)計版圖,得到用于構(gòu)建芯片圖形的坐標(biāo)簇數(shù)據(jù),驅(qū)動左側(cè)光纖對準(zhǔn)第1測試點,獲取與第1測試點相對應(yīng)的測試點圖形的第1選中信息,驅(qū)動右側(cè)光纖對準(zhǔn)第二測試點,獲取與第二測試點相對應(yīng)的測試點...
硅光芯片耦合測試系統(tǒng)系統(tǒng)的服務(wù)器為完成設(shè)備控制及自動測試應(yīng)包含有自動化硅光芯片耦合測試系統(tǒng)服務(wù)端程序,可以使用于根據(jù)測試站請求信息分配測試設(shè)備,并自動切換光矩陣進(jìn)行自動測試。服務(wù)器連接N個測試站、測試設(shè)備、光矩陣。其中N個測試站連接由于非占用式特性采用網(wǎng)口連接...
伴隨著光纖通信技術(shù)的快速發(fā)展,小到芯片間,大到數(shù)據(jù)中心間的大規(guī)模數(shù)據(jù)交換處理,都迫切需求高速,可靠,低成本,低功耗的互聯(lián)。當(dāng)前,我們把主流的光互聯(lián)技術(shù)分為兩類。一類是基于III-V族半導(dǎo)體材料,另一類是基于硅等與現(xiàn)有的成熟的微電子CMOS工藝兼容的材料?;贗...
光子晶體光纖耦合系統(tǒng)按照其導(dǎo)光機(jī)理可以分為兩大類:折射率導(dǎo)光型(IG-PCF)和帶隙引導(dǎo)型(PCF)。帶隙型光子晶體光纖耦合系統(tǒng)能夠約束光在低折射率的纖芯傳播。第1根光子晶體光纖耦合系統(tǒng)誕生于1996年,其為一個固體中心被正六邊形陣列的圓柱孔環(huán)繞。這種光纖比較...
只要在確認(rèn)耦合不過的前提下,可依次排除B殼天線、KB板和同軸線的故障進(jìn)行維修。若以上一一排除,則是主板參數(shù)校準(zhǔn)的問題,或者說是主板硬件存在故障。耦合天線的種類比較多,有塔式、平板式、套筒式,常用的是自動硅光芯片硅光芯片耦合測試系統(tǒng)系統(tǒng)。為防止外部環(huán)境的電磁干擾...
硅光芯片耦合測試系統(tǒng)主要工作可以分為四個部分:1、利用開發(fā)出的耦合封裝工藝,對硅光芯片調(diào)制器進(jìn)行耦合封裝并進(jìn)行性能測試。分析并聯(lián)MZI型硅光芯片調(diào)制器的調(diào)制特性,針對調(diào)制過程,建立數(shù)學(xué)模型,從數(shù)學(xué)的角度出發(fā),總結(jié)出調(diào)制器的直流偏置電壓的快速測試方法。并通過調(diào)制...
硅光芯片耦合測試系統(tǒng)組件裝夾完成后,主要是通過校正X,Y和Z方向的偏差來進(jìn)行的初始光功率進(jìn)行耦合測試的,圖像處理軟件能自動測量出各項偏差,然后軟件驅(qū)動運動控制系統(tǒng)和運動平臺來補償偏差,以及給出提示,繼續(xù)手動調(diào)整角度滑臺。當(dāng)三個器件完成初始定位,同時確認(rèn)其在Z軸...
硅光芯片耦合測試系統(tǒng)中的硅光與芯片的耦合方法及其硅光芯片,方法包括以下步驟:將硅光芯片粘貼固定在基板上,硅光芯片的端面耦合波導(dǎo)為懸臂梁結(jié)構(gòu),具有模斑變換器;通過圖像系統(tǒng),微調(diào)架將光纖端面與耦合波導(dǎo)的模斑變換器耦合對準(zhǔn),固定塊從側(cè)面緊挨光纖并固定在基板上;硅光芯...
硅光芯片耦合測試系統(tǒng)這些有視覺輔助地初始光耦合的步驟是耦合工藝的一部分。在此工藝過程中,輸入及輸出光纖陣列和波導(dǎo)輸入及輸出端面的距離大約是100~200微米,以便通過使用機(jī)器視覺精密地校準(zhǔn)預(yù)粘接間隙的測量,為后面必要的旋轉(zhuǎn)耦合留出安全的空間。旋轉(zhuǎn)耦合技術(shù)的原理...
光纖耦合系統(tǒng)兩個具有相近相通,又相差相異的系統(tǒng),不只有靜態(tài)的相似性,也有動態(tài)的互動性。兩者就具有耦合關(guān)系。人們應(yīng)該采取措施對具有耦合關(guān)系的系統(tǒng)進(jìn)行引導(dǎo)、強(qiáng)化,促進(jìn)兩者良性的、正向的相互作用,相互影響,激發(fā)兩者內(nèi)在潛能,從而實現(xiàn)兩者優(yōu)勢互補和共同提升。耦合的強(qiáng)弱...
測試站包含自動硅光芯片耦合測試系統(tǒng)客戶端程序,其程序流程如下:首先向自動耦合臺發(fā)送耦合請求信息,并且信息包括待耦合芯片的通道號,然后根據(jù)自動耦合臺返回的相應(yīng)反饋信息進(jìn)入自動耦合等待掛起,直到收到自動耦合臺的耦合結(jié)束信息后向服務(wù)器發(fā)送測試請求信息,以進(jìn)行光芯片自...
光子晶體光纖耦合系統(tǒng)正在以極快的速度影響著現(xiàn)代科學(xué)的多個領(lǐng)域。利用光子帶隙結(jié)構(gòu)來解決光子晶體物理學(xué)中的一些基本問題,如局域場的加強(qiáng)、控制原子和分子的傳輸、增強(qiáng)非線性光學(xué)效應(yīng)、研究電子和微腔、光子晶體中的輻射模式耦合的電動力學(xué)過程等。同時,實驗和理論研究結(jié)果都表...