相應(yīng)地，在CC模式下參考時(shí)鐘的 抖動(dòng)測試中，也會(huì)要求測試軟件能夠很好地模擬發(fā)送端和接收端抖動(dòng)傳遞函數(shù)的影響。而 在IR模式下，主板和插卡可以采用不同的參考時(shí)鐘，可以為一些特殊的不太方便進(jìn)行參考 時(shí)鐘傳遞的應(yīng)用場景(比如通過Cable連接時(shí))提供便利，但由于收發(fā)端參考時(shí)鐘不同源，所 以對(duì)于收發(fā)端的設(shè)計(jì)難度要大一些(比如Buffer深度以及時(shí)鐘頻差調(diào)整機(jī)制)。IR模式下 用戶可以根據(jù)需要在參考時(shí)鐘以及PLL的抖動(dòng)之間做一些折中和平衡，保證*終的發(fā)射機(jī) 抖動(dòng)指標(biāo)即可。圖4.9是PCIe4.0規(guī)范參考時(shí)鐘時(shí)的時(shí)鐘架構(gòu)，以及不同速率下對(duì)于 芯片Refclk抖動(dòng)的要求。3090Ti 始發(fā)支持 PCIe5.0 顯卡供電接口怎么樣？江蘇PCI-E測試代理品牌

PCle5.0接收端CILE均衡器的頻率響應(yīng)PCIe5.0的主板和插卡的測試方法與PCIe4.0也是類似，都需要通過CLB或者CBB的測試夾具把被測信號(hào)引出接入示波器進(jìn)行發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測試，并通過誤碼儀的配合進(jìn)行LinkEQ和接收端容限的測試。但是具體細(xì)節(jié)和要求上又有所區(qū)別，下面將從發(fā)送端和接收端測試方面分別進(jìn)行描述。

PCIe5.0發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量及LinkEQ測試PCIe5.0的數(shù)據(jù)速率高達(dá)32Gbps,因此信號(hào)邊沿更陡。對(duì)于PCIe5.0芯片的信號(hào)測試，協(xié)會(huì)建議的測試用的示波器帶寬要高達(dá)50GHz。對(duì)于主板和插卡來說，由于測試點(diǎn)是在連接器的金手指處，信號(hào)經(jīng)過PCB傳輸后邊沿會(huì)變緩一些，所以信號(hào)質(zhì)量測試規(guī)定的示波器帶寬為33GHz。但是，在接收端容限測試中，由于需要用示波器對(duì)誤碼儀直接輸出的比較快邊沿的信號(hào)做幅度和預(yù)加重校準(zhǔn)，所以校準(zhǔn)用的示波器帶寬還是會(huì)用到50GHz。 江蘇PCI-E測試代理品牌pcie3.0和pcie4.0物理層的區(qū)別在哪里？

隨著數(shù)據(jù)速率的提高，在發(fā)送端對(duì)信號(hào)高頻進(jìn)行補(bǔ)償還是不夠，于是PCIe3.0及 之后的標(biāo)準(zhǔn)中又規(guī)定在接收端(RX端)還要對(duì)信號(hào)做均衡(Equalization),從而對(duì)線路的損 耗進(jìn)行進(jìn)一步的補(bǔ)償。均衡電路的實(shí)現(xiàn)難度較大，以前主要用在通信設(shè)備的背板或長電纜 傳輸?shù)膱龊?，近些年也逐漸開始在計(jì)算機(jī)、消費(fèi)類電子等領(lǐng)域應(yīng)用，比如USB3.0、SATA 6G、DDR5中也均采用了均衡技術(shù)。圖4 .4分別是PCIe3 .0和4 .0標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)CTLE均衡器 的頻響特性的要求?？梢钥吹?，均衡器的強(qiáng)弱也有很多擋可選，在Link Training階段TX 和RX端會(huì)協(xié)商出一個(gè)比較好的組合(參考資料： PCI ExpressR Base Specification 4 .0)。

由于每對(duì)數(shù)據(jù)線和參考時(shí)鐘都是差分的，所以主  板的測試需要同時(shí)占用4個(gè)示波器通道，也就是在進(jìn)行PCIe4.0的主板測試時(shí)示波器能夠  4個(gè)通道同時(shí)工作且達(dá)到25GHz帶寬。而對(duì)于插卡的測試來說，只需要把差分的數(shù)據(jù)通道  引入示波器進(jìn)行測試就可以了，示波器能夠2個(gè)通道同時(shí)工作并達(dá)到25GHz帶寬即可。 12展示了典型PCIe4.0的發(fā)射機(jī)信號(hào)質(zhì)量測試環(huán)境。無論是對(duì)于發(fā)射機(jī)測試，還是對(duì)于后面要介紹到的接收機(jī)容限測試來說，在PCIe4.0 的TX端和RX端的測試中，都需要用到ISI板。ISI板上的Trace線有幾十對(duì)，每相鄰線對(duì) 間的插損相差0.5dB左右。由于測試中用戶使用的電纜、連接器的插損都可能會(huì)不一致， 所以需要通過配合合適的ISI線對(duì)，使得ISI板上的Trace線加上測試電纜、測試夾具、轉(zhuǎn)接  頭等模擬出來的整個(gè)測試鏈路的插損滿足測試要求。比如，對(duì)于插卡的測試來說，對(duì)應(yīng)的主  板上的比較大鏈路損耗為20dB,所以ISI板上模擬的走線加上測試夾具、連接器、轉(zhuǎn)接頭、測  試電纜等的損耗應(yīng)該為15dB(另外5dB的主板上芯片的封裝損耗通過分析軟件進(jìn)行模擬)。 為了滿足這個(gè)要求，比較好的方法是使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)事先進(jìn)行鏈路標(biāo)定。PCI-E 3.0測試接收端的變化；

在之前的PCIe規(guī)范中，都是假定PCIe芯片需要外部提供一個(gè)參考時(shí)鐘(RefClk),在這 種芯片的測試中也是需要使用一個(gè)低抖動(dòng)的時(shí)鐘源給被測件提供參考時(shí)鐘，并且只需要對(duì) 數(shù)據(jù)線進(jìn)行測試。而在PCIe4.0的規(guī)范中，新增了允許芯片使用內(nèi)部提供的RefClk(被稱 為Embeded RefClk)模式，這種情況下被測芯片有自己內(nèi)部生成的參考時(shí)鐘，但參考時(shí)鐘的 質(zhì)量不一定非常好，測試時(shí)需要把參考時(shí)鐘也引出，采用類似于主板測試中的Dual-port測 試方法。如果被測芯片使用內(nèi)嵌參考時(shí)鐘且參考時(shí)鐘也無法引出，則意味著被測件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SSC)模式，需要另外的算法進(jìn)行特殊處理。PCI-E的信號(hào)測試中否一定要使用一致性測試碼型？江蘇PCI-E測試代理品牌

PCI-E轉(zhuǎn)USB或UFS接口的控制芯片和測試板的制作方法；江蘇PCI-E測試代理品牌

其中，電氣(Electrical) 、協(xié)議(Protocol) 、配置(Configuration)等行為定義了芯片的基本 行為，這些要求合在一起稱為Base規(guī)范，用于指導(dǎo)芯片設(shè)計(jì)；基于Base規(guī)范，PCI-SIG還會(huì) 再定義對(duì)于板卡設(shè)計(jì)的要求，比如板卡的機(jī)械尺寸、電氣性能要求，這些要求合在一起稱為 CEM(Card Electromechanical)規(guī)范，用以指導(dǎo)服務(wù)器、計(jì)算機(jī)和插卡等系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員的開 發(fā)。除了針對(duì)金手指連接類型的板卡，針對(duì)一些新型的連接方式，如M.2、U.2等，也有一 些類似的CEM規(guī)范發(fā)布。江蘇PCI-E測試代理品牌