粒度儀的重復(fù)性：由于顆粒形貌的原因，粒度測試本身的不確定因素就很多，所以要求粒度儀要有良好的重復(fù)性，才能有可能發(fā)現(xiàn)樣品粒度的微小變化。如果重復(fù)性不好，儀器自身的因素就可能使測試結(jié)果不穩(wěn)定，就無法發(fā)現(xiàn)樣品粒度的變化。因此對粒度測試來說，重復(fù)性是較重要的指標(biāo)。要確保粒度儀的重復(fù)性，就要做到以下幾點：1)儀器系統(tǒng)必須穩(wěn)定可靠，包括信號傳輸系統(tǒng)、數(shù)據(jù)處理、抗干擾等；2)系統(tǒng)配備循環(huán)分散攪拌裝置；3)儀器供應(yīng)商應(yīng)具備提供技術(shù)指導(dǎo)的能力；4)儀器具有標(biāo)準(zhǔn)化操作規(guī)程功能或操作者的操作規(guī)范化；5)重視儀器和操作之外的因素，包括樣品因素和環(huán)境因素等。粒度儀開機順序：先開儀器主機和濕法進樣器，再開電腦，儀器需要預(yù)熱15到30分鐘。Horiba顆粒度分析儀商家

粒度儀的操作方法：樣品準(zhǔn)備，樣品必須能夠準(zhǔn)確反映待測物質(zhì)，確保使用的樣品是具有代表性的，若樣品儲存在容器中，測量前樣品應(yīng)充分混合，確保大小顆粒都被取樣。液體樣品需要選擇合適的泵速確保樣品充分混合，防止大顆粒沉入粒度儀容器底部而沒有被測量；干法測量結(jié)束后不要在樣品盤上有殘留樣品，盡量保證所有樣品顆粒都被測量。光學(xué)系統(tǒng)的潔凈度，激光散射測量是一種高分辨的光學(xué)檢測手段，樣品池檢測窗是測量區(qū)域的主要組成部件，窗口的灰塵和污染物質(zhì)會散射激光，雜質(zhì)散射光會隨分散樣品的散射光一起被測量，從而影響測量的精度。通過觀測測量背景就能判斷系統(tǒng)的光學(xué)潔凈程度是否達標(biāo)。深圳崛場粒度電位儀批發(fā)廠家激光粒度儀作是種測試性能優(yōu)異和適用領(lǐng)域極廣的粒度測試儀器。

在選擇激光粒度儀時要特別注意以下幾點：激光器波長對粒度測量的影響，當(dāng)顆粒較小時，根據(jù)瑞利散射理論，散射光強與粒徑的六次方成正比，而與光源波長的四次方成反比，所以選用短波長的激光器更能提高小顆粒檢測時的信號強度及信噪比。在光路配置上，主要需要考慮的是儀器是否有穩(wěn)固的光學(xué)平臺，是否有自動對光功能，是否無需更換透鏡就可以測量寬的粒徑范圍；如果需干法測量，粒徑測量范圍下限是否能達到0.1微米而同時上限可達1000微米以上。

粒度儀是一款怎么樣的產(chǎn)品？麥奇克S3500系列激光粒度分析儀產(chǎn)品簡介：MicrotracMRB：作為一個顆粒表征解決方案的供應(yīng)商。我們?yōu)榭蛻籼峁┫冗M的技術(shù)，以不斷獲得可靠的結(jié)果。創(chuàng)新和質(zhì)量是我們成功的基礎(chǔ)。激光粒度粒形分析儀S3500SI：一臺儀器，具備兩種測量技術(shù)，靜態(tài)激光衍射法，動態(tài)圖像分析法；操作軟件：提供強大的數(shù)據(jù)處理能力，包括圖形，數(shù)據(jù)輸出/輸入，個性化輸出報告及各種文字處理功能，數(shù)據(jù)的完整性符合21CFRPART11安全要求。激光粒度儀用于建筑材料生產(chǎn)質(zhì)量控制，降低生產(chǎn)成本，提高產(chǎn)品質(zhì)量，減少能耗方面均有極大的作用。

激光粒度儀在粒度檢測中主要特點是:1)測量的粒徑范圍廣,可進行從納米到微米量級如此寬范圍的粒度分布。約為:20nm～2000μm,某些情況下上限可達3500μm;2)適用范圍普遍,不只能測量固體顆粒,還能測量液體中的粒子;3)重現(xiàn)性好,與傳統(tǒng)方法相比,激光粒度分析儀能給出準(zhǔn)確可靠的測量結(jié)果;4)測量時間快,整個測量過程1-2分鐘即可,某些儀器已實現(xiàn)了實時檢測和實時顯示,可以讓用戶在整個測量過程中觀察并監(jiān)視樣品。當(dāng)光線照射到顆粒上時會發(fā)生散射、衍射。其衍射、散射光強度均與粒子的大小有關(guān)。觀測其光強度,可應(yīng)用夫瑯和費衍射理論和Mie散射理論求得粒子徑分布(激光衍射/散射法)。激光粒度儀作為一種成熟的粒度測試儀器，已經(jīng)在粉體加工、應(yīng)用與研究領(lǐng)域得到普遍的應(yīng)用。深圳崛場粒度電位儀批發(fā)廠家

激光粒度分析儀選購方法有哪些？Horiba顆粒度分析儀商家

HORIBA SZ-100 V2 納米顆粒分析儀技術(shù)參數(shù)：粒徑測量原理：動態(tài)光散射法（光子相關(guān)光譜法）；粒徑測定范圍：0.3nm ～10μm；粒徑測量精度：±2%（NIST 可溯源標(biāo)準(zhǔn)粒子100nm）；Zeta 電位測量原理：激光多普勒電泳法；Zeta 電位測量范圍：-500 mV ～ +500 mV；分子量測量原理：Debye plot；分子量測量范圍：1000 ～ 2×107 Da；測量角度：90° 和173°（可自動或手動選擇）；樣品量：12μL ～ 1000μL。HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部為您提供HORIBA SZ-100 V2 納米顆粒分析儀的參數(shù)、價格、型號、原理等信息，HORIBA SZ-100 V2 納米顆粒分析儀產(chǎn)地為日本、品牌為HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部，型號為SZ-100 V2，價格為40萬-50萬RMB，更多相關(guān)信息可來電咨詢，公司客服電話7*24小時為您服務(wù)。Horiba顆粒度分析儀商家

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