XRD設(shè)備操作過程中的注意事項(xiàng)有哪些？X射線衍射儀的操作時(shí)必須嚴(yán)格按規(guī)程操作，嚴(yán)格執(zhí)行對(duì)注意事項(xiàng)，投用X射線衍射儀前須事前預(yù)熱，做好事后散熱或清洗的。否則，X射線衍射儀維護(hù)再好也不會(huì)經(jīng)久耐用。維護(hù)重點(diǎn)應(yīng)當(dāng)是使用者經(jīng)常接觸到的地方，這些接觸點(diǎn)很容易出故障，應(yīng)加強(qiáng)對(duì)這些接觸點(diǎn)的維護(hù)保養(yǎng)。嚴(yán)禁用手觸摸或擅自調(diào)節(jié)。要認(rèn)真做好分析X射線衍射儀維修記錄，包括維修時(shí)間、維修情況簡(jiǎn)述、更換配件。通過記錄可以了解分析X射線衍射儀維護(hù)情況及動(dòng)態(tài)，進(jìn)而掌握分析X射線衍射儀故障原因。對(duì)涉及安全的X射線衍射儀設(shè)備，操作時(shí)應(yīng)有必要的隔離措施和警示標(biāo)志。使用X射線衍射儀前要預(yù)熱，操作完后要進(jìn)行清洗。德國(guó)粉末衍射儀

XRD設(shè)備能在大氣中無損分析樣品，進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定等。并且，可通過峰面積計(jì)算進(jìn)行定量分析?？赏ㄟ^半高寬、峰形等進(jìn)行粒徑/結(jié)晶度/精密X射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。X射線與物質(zhì)作用時(shí)，就其能量轉(zhuǎn)換而言，一般分為三部分，其中一部分被散射，一部分被吸收，一部分通過物質(zhì)繼續(xù)沿原來方向傳播。散射的X射線與入射X射線波長(zhǎng)相同時(shí)對(duì)晶體將產(chǎn)生衍射現(xiàn)象，即晶面間距產(chǎn)生的光程差等于波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)。將每種晶體物質(zhì)特有的衍射花樣與標(biāo)準(zhǔn)衍射花樣對(duì)比，利用三強(qiáng)峰原則，即可鑒定出樣品中存在的物相。臺(tái)式X射線衍射儀應(yīng)用原理XRD設(shè)備具有檢測(cè)速度快和檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確的特性。

XRD設(shè)備的使用能為客戶解決的問題如下：（1）當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。（2）很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。（3）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。（4）產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。（5）納米材料由于顆粒細(xì)小，極易形成團(tuán)粒，采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法（謝樂法）可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。

XRD分析儀：1.可以獲得更高的靈敏度、更快的分析速度以及更可靠的結(jié)果。升級(jí)后的X射線探測(cè)器硬件運(yùn)行速度提高33％，并且強(qiáng)度更高，從而降低了LOD。SwiftMin自動(dòng)相識(shí)別和定量軟件可直接在X射線衍射分析儀上顯示實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)，能夠使用戶能夠快速可靠做出決策。2.配有獨(dú)具特色的小型樣品托架，因此成為傳統(tǒng)X射線衍射儀方便攜帶、輕便且?guī)缀鯚o需維護(hù)的替代品。采用NASA技術(shù)的振動(dòng)樣品托架可讓樣品腔內(nèi)的所有顆粒物實(shí)現(xiàn)對(duì)流，從而確保數(shù)據(jù)幾乎不受取向效應(yīng)影響。只需15毫克樣品即可，并且使用隨附取樣套件即可輕松獲得樣品。3.同時(shí)獲得定量XRD和定性XRF數(shù)據(jù)，專門設(shè)計(jì)的直接激勵(lì)電荷耦合器件（CCD）可同時(shí)檢測(cè)光子位置和能量，從而讓分析儀能夠同時(shí)采集XRD和XRF的X射線光子數(shù)據(jù)。XRD設(shè)備可以進(jìn)行極點(diǎn)圖和殘余應(yīng)力測(cè)量。

X射線衍射儀采用創(chuàng)造性的設(shè)計(jì)，配備了集成化的DIFFRAC.SUITETM軟件，附件自動(dòng)識(shí)別、即插即用以及完全集成化的二維XRD2功能。這些特征使得用戶可以非常方便的在材料研究領(lǐng)域的不同應(yīng)用之間切換，包括：反射率測(cè)量（XRR）、高分辨測(cè)量（HRXRD）、掠入射（GID）、面內(nèi)掠入射（IP-GID）、小角散射（SAXS）以及殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析。主要應(yīng)用：高分辨XRD（HRXRD），外延多層膜厚度，晶胞參數(shù)，晶格錯(cuò)配，組份，應(yīng)變及弛豫過程，橫向結(jié)構(gòu)，鑲嵌度，X射線反射率（XRR），薄膜厚度，組份，密度，粗造度，孔隙度。XRD可以達(dá)到或超出旋轉(zhuǎn)陽極靶的效果。深圳便攜式D8 Discover代理商

XRD設(shè)備只有維護(hù)好，才能經(jīng)久耐用。德國(guó)粉末衍射儀

XRD設(shè)備的注意事項(xiàng)如下：（1）固體樣品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必須平整，可以用幾塊粘貼一起。（2）對(duì)于片狀、圓拄狀樣品會(huì)存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向，衍射強(qiáng)度異常，需提供測(cè)試方向。（3）對(duì)于測(cè)量金屬樣品的微觀應(yīng)力（晶格畸變），測(cè)量殘余奧氏體，要求制備成金相樣品，并進(jìn)行普通拋光或電解拋光，消除表面應(yīng)變層。（4）粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大于5g。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)（晶體或非晶體）進(jìn)行衍射分析時(shí)，該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象，物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生特有的衍射圖譜。德國(guó)粉末衍射儀

廣州高測(cè)儀器有限公司致力于儀器儀表，以科技創(chuàng)新實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量管理的追求。廣州高測(cè)儀器深耕行業(yè)多年，始終以客戶的需求為向?qū)?，為客戶提供高質(zhì)量的X射線衍射儀（XRD），XRF，熱重分析儀，激光粒度儀。廣州高測(cè)儀器不斷開拓創(chuàng)新，追求出色，以技術(shù)為先導(dǎo)，以產(chǎn)品為平臺(tái)，以應(yīng)用為重點(diǎn)，以服務(wù)為保證，不斷為客戶創(chuàng)造更高價(jià)值，提供更優(yōu)服務(wù)。廣州高測(cè)儀器始終關(guān)注自身，在風(fēng)云變化的時(shí)代，對(duì)自身的建設(shè)毫不懈怠，高度的專注與執(zhí)著使廣州高測(cè)儀器在行業(yè)的從容而自信。