XRD（X射線衍射）是目前研究晶體結(jié)構(gòu)（如原子或離子及其基團(tuán)的種類(lèi)和位置分布，晶胞形狀和大小等）有力的一種方法。XRD特別適用于晶態(tài)物質(zhì)的物相分析。晶態(tài)物質(zhì)組成元素或基團(tuán)如不相同或其結(jié)構(gòu)有差異，它們的衍射譜圖在衍射峰數(shù)目、角度位置、相對(duì)強(qiáng)度次序以至衍射峰的形狀上就顯現(xiàn)出差異。因此，通過(guò)樣品的X射線衍射圖與已知的晶態(tài)物質(zhì)的X射線衍射譜圖的對(duì)比分析便可以完成樣品物相組成和結(jié)構(gòu)的定性鑒定；通過(guò)對(duì)樣品衍射強(qiáng)度數(shù)據(jù)的分析計(jì)算，可以完成樣品物相組成的定量分析；XRD還可以測(cè)定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的織構(gòu)）等等，應(yīng)用面十分普遍。XRD設(shè)備有專(zhuān)門(mén)使用衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)。便攜式粉末衍射儀廠家電話

XRD設(shè)備組成：X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構(gòu)成非常相似，主要部件包括4部分。（1）高穩(wěn)定度X射線源，提供測(cè)量所需的X射線，改變X射線管陽(yáng)極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng)，調(diào)節(jié)陽(yáng)極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。（2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)，樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。（3）射線檢測(cè)器，檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向，通過(guò)儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。（4）衍射圖的處理分析系統(tǒng)，現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有專(zhuān)門(mén)使用衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。紅外光譜儀供應(yīng)使用XRD設(shè)備必須做好隔離措施。

XRD設(shè)備特點(diǎn)有哪些？1.樣品的自動(dòng)校準(zhǔn)、測(cè)量和分析；2.測(cè)量的自動(dòng)化程度由用戶(hù)定義；3.使用300毫米歐拉支架實(shí)現(xiàn)高精度樣品定位和掃描；4.全300mm晶圓水平貼裝和映射；5.由于100°傾斜（Chi）和無(wú)限方位角旋轉(zhuǎn)（Phi），可以進(jìn)行極點(diǎn)圖和殘余應(yīng)力測(cè)量；6.根據(jù)請(qǐng)求的測(cè)量進(jìn)行智能自動(dòng)工具對(duì)齊和重新配置；7.先的設(shè)備控制和分析軟件；8.使用高分辨率測(cè)角儀進(jìn)行測(cè)量；9.高的強(qiáng)度光源和光學(xué)元件可實(shí)現(xiàn)快速測(cè)量；10.可用的技術(shù)和參數(shù)范圍廣；11.由擁有30多年經(jīng)驗(yàn)和龐大的安裝基礎(chǔ)的高分辨率X射線衍射領(lǐng)域的**打造。

XRD設(shè)備具有哪些特點(diǎn)？XRD設(shè)備具備的特點(diǎn)：1.XRD設(shè)備由于100°傾斜（Chi）和無(wú)限方位角旋轉(zhuǎn)（Phi），可以進(jìn)行極點(diǎn)圖和殘余應(yīng)力測(cè)量；2.根據(jù)請(qǐng)求的測(cè)量進(jìn)行智能自動(dòng)工具對(duì)齊和重新配置；3.XRD設(shè)備具有先的設(shè)備控制和分析軟件；3.XRD設(shè)備可以使用高分辨率測(cè)角儀進(jìn)行測(cè)量；4.XRD設(shè)備具有高的強(qiáng)度光源和光學(xué)元件可實(shí)現(xiàn)快速測(cè)量；4.XRD設(shè)備可用的技術(shù)和參數(shù)范圍廣；5.XRD設(shè)備由擁有30多年經(jīng)驗(yàn)和龐大的安裝基礎(chǔ)的高分辨率X射線衍射領(lǐng)域的**打造。XRD設(shè)備特點(diǎn)：零噪音， 單光子檢測(cè)的靈敏度。

X射線衍射作為一電磁波投射到晶體中時(shí)，會(huì)受晶體中原子的影響出現(xiàn)衍射現(xiàn)象。每種晶體內(nèi)部的原子排列方式是獨(dú)一的，因此對(duì)應(yīng)的衍射花樣是獨(dú)一的，從而可以進(jìn)行物相分析。XRD可以應(yīng)用的領(lǐng)域廣，可普遍應(yīng)用于工業(yè)檢測(cè)。檢測(cè)速度相當(dāng)快。XRD是X射線衍射的簡(jiǎn)稱(chēng)，X射線衍射。通過(guò)分析材料。x射線衍射，分析其衍射圖，獲取材料成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息。x射線是一種短波長(zhǎng)(約20 ~ 0.06埃)的電磁波，可以穿透一定厚度的材料。為什么要求XRD測(cè)試粉末樣品要稍微多一些？主要是因?yàn)榉勰悠芬仢M整個(gè)樣品臺(tái)，不然X射線可能會(huì)打在樣品臺(tái)上，影響數(shù)據(jù)質(zhì)量。XRD設(shè)備具備的特點(diǎn)：制樣簡(jiǎn)單。深圳紅外光譜儀

XRD設(shè)備有多重防護(hù)輻射處理，測(cè)量時(shí)儀器多方位無(wú)任何輻射泄漏。便攜式粉末衍射儀廠家電話

XRD可以應(yīng)用的領(lǐng)域廣，可普遍應(yīng)用于工業(yè)檢測(cè)。檢測(cè)速度相當(dāng)快。XRD的測(cè)試原理是布拉格方程，即n=2*d*sin，其中為入射光線的波長(zhǎng)，d為晶面間距，為衍射角。換句話說(shuō)，XRD是測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)的有效手段。由于晶體有其獨(dú)特的晶體學(xué)特征，即空間晶格，14種Bravais晶格是其晶格類(lèi)型，晶面參數(shù)有限。XRD是X射線衍射的簡(jiǎn)稱(chēng)，X射線衍射。通過(guò)分析材料。X射線衍射，分析其衍射圖，獲取材料成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息。X射線為一種短波長(zhǎng)（約20~0.06埃）的電磁波，可以穿透一定厚度的材料。便攜式粉末衍射儀廠家電話

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