XRD儀器操作規(guī)程：制樣：1. 粉末樣品制樣方法： 粉末樣品應干燥，粒度一般要求約10~80μm，應過200目篩子（約0.08mm），且避免顆粒不均勻。用藥勺取適量樣品于玻璃樣品架中間的槽里，另取一塊載玻片，用載玻片輕輕將樣品壓緊，并將高出樣品架表面的多余粉末刮去，如此重復幾次使樣品表面平整。將樣品架邊緣的樣品刮掉，擦干凈即可進行測試。注意事項：玻璃樣品架易碎、數(shù)量有限，使用要千萬小心，如有損壞按原價賠償。制樣時用力要均勻，不可力度過大，以免形成粉粒定向排列。樣品一定要刮平，且與樣品架表面高度一致，否則引起測量角度和對應d值偏差。其他樣品：對于不易研碎的樣品，可先將其處理成與窗孔大小一致，磨平一面，再用橡皮泥或石蠟將其固定在窗孔內(nèi)，固定時橡皮泥或石蠟等請注意略低于樣品，不要與樣品齊平。片狀、纖維狀或薄膜樣品也可類似固定在樣品架的窗孔內(nèi)，應注意使樣品表面與樣品架平齊。XRD（X 射線衍射）是研究晶體結(jié)構(gòu)有力的方法。廣州D2 Phaser廠家

X射線衍射儀構(gòu)造：X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構(gòu)成很相似，為X射線衍射儀的基本構(gòu)造原理圖，主要部件包括4部分。（1）高穩(wěn)定度X射線源。提供測量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長,調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強度。（2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機構(gòu)系統(tǒng)。樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。（3）射線檢測器。檢測衍射強度或同時檢測衍射方向,通過儀器測量記錄系統(tǒng)或計算機處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。（4）衍射圖的處理分析系統(tǒng)?，F(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有專門用的衍射圖處理分析軟件的計算機系統(tǒng),它們的特點是自動化和智能化。廣東布魯克D2 Phaser工作原理XRD設備的特點：超大面積，超快速度。

XRD設備操作的注意事項：X射線衍射儀的操作時必須嚴格按規(guī)程操作，嚴格執(zhí)行對注意事項，投用X射線衍射儀前須事前預熱，做好事后散熱或清洗的。否則，X射線衍射儀維護再好也不會經(jīng)久耐用。維護重點應當是使用者經(jīng)常接觸到的地方，這些接觸點很容易出故障，應加強對這些接觸點的維護保養(yǎng)。嚴禁用手觸摸或擅自調(diào)節(jié)。要認真做好分析X射線衍射儀維修記錄，包括維修時間、維修情況簡述、更換配件。通過記錄可以了解分析X射線衍射儀維護情況及動態(tài)，進而掌握分析X射線衍射儀故障原因。對涉及安全的X射線衍射儀設備，操作時應有必要的隔離措施和警示標志。

XRD設備的使用可為客戶解決的問題：（1）當材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。（2）很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。（3）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應用提供性能驗證指標。（4）產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應力。（5）納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。XRD設備特點：零噪音， 單光子檢測的靈敏度。

XRD設備的注意事項：對應的衍射花樣是獨一的，從而可以進行物相分析。XRD可以應用的領(lǐng)域廣，可普遍應用于工業(yè)檢測。檢測速度相當快。XRD是X射線衍射的簡稱，X射線衍射。通過分析材料。x射線衍射，分析其衍射圖，獲取材料成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息。x射線是一種短波長(約20 ~ 0.06埃)的電磁波，可以穿透一定厚度的材料。為什么要求XRD測試粉末樣品要稍微多一些？主要是因為粉末樣品要鋪滿整個樣品臺，不然X射線可能會打在樣品臺上，影響數(shù)據(jù)質(zhì)量。XRD設備的使用可準確顯示當前的儀器狀態(tài)。廣東布魯克D2 Phaser工作原理

XRD設備注意事項：嚴禁用手觸摸或擅自調(diào)節(jié)。廣州D2 Phaser廠家

高分辨率 XRD ，可以確定外延層的厚度、成分、松弛、應變、摻雜劑水平和誤切。直接測量多層結(jié)構(gòu)內(nèi)層的松弛/應變/組成。在需要時將三軸分析儀晶體自動插入和對齊到光束中。自動樣品校準、測量、分析和報告。倒數(shù)空間圖在幾分鐘內(nèi)完成并使用PeakSplit 進行分析。可以使用模擬雙軸和三軸衍射掃描。樣品要求：粉末樣品請準備至少20mg，0.1g以上較好，量少可以用微量室，但是效果相對不是很好。需要粒度均勻（粒度在45um左右或過200目篩子），手摸無顆粒感，面粉質(zhì)感；塊狀樣品要求長寬1-2cm（一般不小于1cm），厚度不超出15mm，需要注明測試面，測試面需要平整光潔。廣州D2 Phaser廠家

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