X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應力，精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。普遍應用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學，材料生產(chǎn)等領域。X射線衍射儀的工作環(huán)境。1．建議房間溫度：15oC至25oC，溫度變化小于1oC/30分鐘。2．高分辨儀器的房間溫度：22oC±1oC。3．相對濕度：20%至80%。4．環(huán)境整潔：請定期清潔儀器內(nèi)部以免灰塵聚集在某些重要部件的表面上，影響儀器的正常工作。如測角儀光學編碼盤。XRD 特別適用于晶態(tài)物質(zhì)的物相分析。深圳進口布魯克D8 Discover工作原理

高分辨率 XRD ，可以確定外延層的厚度、成分、松弛、應變、摻雜劑水平和誤切。直接測量多層結(jié)構(gòu)內(nèi)層的松弛/應變/組成。在需要時將三軸分析儀晶體自動插入和對齊到光束中。自動樣品校準、測量、分析和報告。倒數(shù)空間圖在幾分鐘內(nèi)完成并使用PeakSplit 進行分析?？梢允褂媚M雙軸和三軸衍射掃描。樣品要求：粉末樣品請準備至少20mg，0.1g以上較好，量少可以用微量室，但是效果相對不是很好。需要粒度均勻（粒度在45um左右或過200目篩子），手摸無顆粒感，面粉質(zhì)感；塊狀樣品要求長寬1-2cm（一般不小于1cm），厚度不超出15mm，需要注明測試面，測試面需要平整光潔。深圳進口布魯克D8 Discover工作原理XRD設備的功能強大，智能化程度高。

XRD 衍射強度和峰的寬度與樣品顆粒大小，還是與晶體顆粒大小有關？樣品中晶粒越小，衍射峰的峰高的強度越來越低，但是峰越來越寬，實際上利用 X 射線衍射峰的寬化對樣品的結(jié)晶顆粒度分析就是根據(jù)這個原理的（Scherrer 公式）。晶粒大小和顆粒大小有關系，但是其各自的含義是有區(qū)別的。一顆晶粒也可能就是一顆顆粒，但是更可能的情況是晶粒抱到一起 , 二次聚集 , 成為顆粒。顆粒不是衍射的基本單位, 但是微小的顆粒能產(chǎn)生散射。你磨的越細 , 散射就越強.。對于晶粒, 你磨過頭了, 晶體結(jié)構(gòu)被破壞了, 磨成非晶, 衍射能力就沒有了。磨得太狠的話，有些峰可能要消失了，而且相鄰較近的衍射峰會由于寬化而相互疊加，會變成 1 個或幾個"鼓包"。一般晶面間距大的峰受晶粒細化的影響會明顯一些，因為 d 值大的晶面容易被破壞。

為什么XRD數(shù)據(jù)的峰強度較低，甚至沒有明顯的衍射峰呢？主要是因為樣品的衍射峰強度主要跟樣品本身的結(jié)晶度有關，其次跟樣品量以及儀器的功率都有關系。X射線衍射(XRD)是所有物質(zhì)，包括從流體、粉末到完整晶體，重要的無損分析工具。對材料學、物理學、化學、地質(zhì)、環(huán)境、納米材料、生物等領域來說，X射線衍射儀都是物質(zhì)結(jié)構(gòu)表征，以性能為導向研制與開發(fā)新材料， 宏觀表象轉(zhuǎn)移至微觀認識，建立新理論和質(zhì)量控制不可缺少的方法。XRD設備-X射線衍射儀的英文名稱是X-rayPowderdiffractometer簡寫為XPD或XRD。有時會把它叫做x射線多晶體衍射儀，英文名稱為X-raypolycrystallinediffractometer簡寫仍為XPD或XRD。XRD設備具有高計數(shù)率和好的角分辨率。

XRD設備的使用可為客戶解決的問題：（1）當材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。（2）很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。（3）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應用提供性能驗證指標。（4）產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應力。（5）納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。XRD設備可以應用于多個行業(yè)。廣東D8 Discover商家

XRD設備的使用壽命長。深圳進口布魯克D8 Discover工作原理

XRD（X 射線衍射）是目前研究晶體結(jié)構(gòu)(如原子或離子及其基團的種類和位置分布，晶胞形狀和大小等)有力的方法。XRD 特別適用于晶態(tài)物質(zhì)的物相分析。晶態(tài)物質(zhì)組成元素或基團如不相同或其結(jié)構(gòu)有差異，它們的衍射譜圖在衍射峰數(shù)目、角度位置、相對強度次序以至衍射峰的形狀上就顯現(xiàn)出差異。因此，通過樣品的 X 射線衍射圖與已知的晶態(tài)物質(zhì)的 X 射線衍射譜圖的對比分析便可以完成樣品物相組成和結(jié)構(gòu)的定性鑒定；通過對樣品衍射強度數(shù)據(jù)的分析計算，可以完成樣品物相組成的定量分析；XRD 還可以測定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的織構(gòu)）…等等，應用面十分普遍。深圳進口布魯克D8 Discover工作原理

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