為什么XRD數(shù)據(jù)的峰強(qiáng)度較低，甚至沒(méi)有明顯的衍射峰呢？主要是因?yàn)闃悠返难苌浞鍙?qiáng)度主要跟樣品本身的結(jié)晶度有關(guān)，其次跟樣品量以及儀器的功率都有關(guān)系。X射線衍射(XRD)是所有物質(zhì)，包括從流體、粉末到完整晶體，重要的無(wú)損分析工具。對(duì)材料學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、地質(zhì)、環(huán)境、納米材料、生物等領(lǐng)域來(lái)說(shuō)，X射線衍射儀都是物質(zhì)結(jié)構(gòu)表征，以性能為導(dǎo)向研制與開發(fā)新材料， 宏觀表象轉(zhuǎn)移至微觀認(rèn)識(shí)，建立新理論和質(zhì)量控制不可缺少的方法。XRD設(shè)備-X射線衍射儀的英文名稱是X-rayPowderdiffractometer簡(jiǎn)寫為XPD或XRD。有時(shí)會(huì)把它叫做x射線多晶體衍射儀，英文名稱為X-raypolycrystallinediffractometer簡(jiǎn)寫仍為XPD或XRD。很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。深圳進(jìn)口粉末衍射儀工作原理

XRD設(shè)備原理：X射線是原子內(nèi)層電子在高速運(yùn)動(dòng)電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數(shù)目的原子或離子/分子所產(chǎn)生的相干散射將會(huì)發(fā)生光的干涉作用，從而影響散射的X射線的強(qiáng)度增強(qiáng)或減弱。由于大量原子散射波的疊加，互相干涉而產(chǎn)生至大強(qiáng)度的光束稱為X射線的衍射線。滿足衍射條件，可應(yīng)用布拉格公式：2dsinθ=λ。應(yīng)用已知波長(zhǎng)的X射線來(lái)測(cè)量θ角，從而計(jì)算出晶面間距d，這是用于X射線結(jié)構(gòu)分析;另一個(gè)是應(yīng)用已知d的晶體來(lái)測(cè)量θ角，從而計(jì)算出特征X射線的波長(zhǎng)，進(jìn)而可在已有資料查出試樣中所含的元素。深圳進(jìn)口D8 Advance儀器原理XRD設(shè)備的應(yīng)用面十分普遍。

X射線衍射作為一電磁波投射到晶體中時(shí)，會(huì)受晶體中原子的影響出現(xiàn)衍射現(xiàn)象。每種晶體內(nèi)部的原子排列方式是獨(dú)一的，因此對(duì)應(yīng)的衍射花樣是獨(dú)一的，從而可以進(jìn)行物相分析。XRD可以應(yīng)用的領(lǐng)域廣，可普遍應(yīng)用于工業(yè)檢測(cè)。檢測(cè)速度相當(dāng)快。XRD是X射線衍射的簡(jiǎn)稱，X射線衍射。通過(guò)分析材料。x射線衍射，分析其衍射圖，獲取材料成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息。x射線是一種短波長(zhǎng)(約20 ~ 0.06埃)的電磁波，可以穿透一定厚度的材料。為什么要求XRD測(cè)試粉末樣品要稍微多一些？主要是因?yàn)榉勰悠芬仢M整個(gè)樣品臺(tái)，不然X射線可能會(huì)打在樣品臺(tái)上，影響數(shù)據(jù)質(zhì)量。

如何由 XRD 圖譜確定所做的樣品是準(zhǔn)晶結(jié)構(gòu)？XRD 圖譜中非晶、準(zhǔn)晶和晶體的結(jié)構(gòu)怎么嚴(yán)格區(qū)分？三者并無(wú)嚴(yán)格明晰的分界。在衍射儀獲得的 XRD 圖譜上，如果樣品是較好的”晶態(tài)”物質(zhì)，圖譜的特征是有若干或許多個(gè)一般是彼此很窄的”尖峰”（其半高度處的 2θ寬度在 0.1°~0.2°左右，這一寬度可以視為由實(shí)驗(yàn)條件決定的晶體衍射峰的”至小寬度”）。如果這些”峰”明顯地變寬，則可以判定樣品中的晶體的顆粒尺寸將小于 300nm，可以稱之為”微晶”。晶體的 X 射線衍射理論中有一個(gè) Scherrer 公式，可以根據(jù)譜線變寬的量估算晶粒在該衍射方向上的厚度。XRD設(shè)備具有高穩(wěn)定度X射線源。

XRD設(shè)備的使用可為客戶解決的問(wèn)題：（1）當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。（2）很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。（3）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。（4）產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。（5）納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂(lè)法)可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。XRD設(shè)備能輕松切換包括X射線管、光學(xué)器件、樣品臺(tái)和探測(cè)器在內(nèi)的光路組件，而無(wú)需對(duì)準(zhǔn)。深圳進(jìn)口德國(guó)X射線衍射儀商家

XRD 衍射強(qiáng)度和峰的寬度與樣品顆粒大小，還是與晶體顆粒大小有關(guān)？深圳進(jìn)口粉末衍射儀工作原理

XRD設(shè)備是用于材料研究、工藝開發(fā)和質(zhì)量控制的新一代儀器。 該系統(tǒng)具有全自動(dòng)源和檢測(cè)器光學(xué)元件以及水平樣品安裝，可以在計(jì)算機(jī)/配方控制下在標(biāo)準(zhǔn)和高分辨率 X 射線衍射和 X 射線反射率模式之間切換，而無(wú)需手動(dòng)更改配置。 這可確保每次使用佳工具配置，而無(wú)需**設(shè)置工具以供使用。得益于出色的分辨率、低角度和低背景，XRD設(shè)備是從相識(shí)別、定量相分析到晶體結(jié)構(gòu)分析的所有粉末衍射應(yīng)用的理想解決方案。XRD設(shè)備能在整個(gè)角度范圍內(nèi)，保證實(shí)現(xiàn)精確的儀器對(duì)準(zhǔn)（精度等于或優(yōu)于±0.02°2θ）。加上遵循著嚴(yán)格的儀器驗(yàn)證協(xié)議，它可為所有應(yīng)用提供精確數(shù)據(jù)。深圳進(jìn)口粉末衍射儀工作原理

廣州高測(cè)儀器有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才，集企業(yè)奇思，創(chuàng)經(jīng)濟(jì)奇跡，一群有夢(mèng)想有朝氣的團(tuán)隊(duì)不斷在前進(jìn)的道路上開創(chuàng)新天地，繪畫新藍(lán)圖，在廣東省等地區(qū)的儀器儀表中始終保持良好的信譽(yù)，信奉著“爭(zhēng)取每一個(gè)客戶不容易，失去每一個(gè)用戶很簡(jiǎn)單”的理念，市場(chǎng)是企業(yè)的方向，質(zhì)量是企業(yè)的生命，在公司有效方針的領(lǐng)導(dǎo)下，全體上下，團(tuán)結(jié)一致，共同進(jìn)退，**協(xié)力把各方面工作做得更好，努力開創(chuàng)工作的新局面，公司的新高度，未來(lái)廣州高測(cè)儀器供應(yīng)和您一起奔向更美好的未來(lái)，即使現(xiàn)在有一點(diǎn)小小的成績(jī)，也不足以驕傲，過(guò)去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗(yàn)，才能繼續(xù)上路，讓我們一起點(diǎn)燃新的希望，放飛新的夢(mèng)想！