評(píng)價(jià)一臺(tái)粒度儀品質(zhì)好壞主要有四個(gè)衡量指標(biāo)：（1）靈敏度：指兩個(gè)粒度相差很?。ㄈ鏒50相差1μm）時(shí)，分析結(jié)果的變化量。（2）分辨力：分辨力指在認(rèn)定誤差遵從正態(tài)分布條件下，在給定置信度（通常取99.7%，有時(shí)也取95%）下能檢出被測(cè)物質(zhì)的較小量值。（3）重復(fù)性（又稱精度Precision），是指多次重復(fù)測(cè)量同一樣品時(shí)各次測(cè)定值之間彼此相互一致的程度（4）準(zhǔn)確度（Accuracy），是指一定實(shí)驗(yàn)條件下測(cè)定的結(jié)果平均值與真值相符合的程度。這里的“真值”指有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)證書上給出的標(biāo)稱值，實(shí)際上任何定值方法包括一定法都有誤差，這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)值只是真值的較為可靠的近似值。激光粒度分析儀選購(gòu)方法有哪些？PANalytical粒度儀濕法

ViewSizer 3000 納米顆粒追蹤分析儀：ViewSizer?3000 實(shí)現(xiàn)了納米顆粒追蹤分析技術(shù)的突破性提升，包括特有的照射和檢測(cè)方法，使得各種尺寸納米顆粒的可視化、粒徑和數(shù)量濃度測(cè)量成為可能。與傳統(tǒng)的NTA一樣，該儀器可對(duì)懸浮液中單個(gè)納米顆粒的散射光進(jìn)行可視化，然后利用這些數(shù)據(jù)來(lái)確定顆粒的運(yùn)動(dòng)并利用Stokes Einstein方程推斷顆粒尺寸，在此基礎(chǔ)上利用已知的照射和成像的樣品體積確定顆粒數(shù)量濃度。一次測(cè)量可得到兩個(gè)關(guān)鍵信息：顆粒粒徑分布和顆粒濃度。佛山沉降式粒度儀怎么樣麥奇克S3500系列激光粒度分析儀具有多種語(yǔ)言的分析軟件可供選擇。

HORIBA SZ-100 V2 納米顆粒分析儀技術(shù)參數(shù)：粒徑測(cè)量原理：動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)光譜法）；粒徑測(cè)定范圍：0.3nm ～10μm；粒徑測(cè)量精度：±2%（NIST 可溯源標(biāo)準(zhǔn)粒子100nm）；Zeta 電位測(cè)量原理：激光多普勒電泳法；Zeta 電位測(cè)量范圍：-500 mV ～ +500 mV；分子量測(cè)量原理：Debye plot；分子量測(cè)量范圍：1000 ～ 2×107 Da；測(cè)量角度：90° 和173°（可自動(dòng)或手動(dòng)選擇）；樣品量：12μL ～ 1000μL。HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部為您提供HORIBA SZ-100 V2 納米顆粒分析儀的參數(shù)、價(jià)格、型號(hào)、原理等信息，HORIBA SZ-100 V2 納米顆粒分析儀產(chǎn)地為日本、品牌為HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部，型號(hào)為SZ-100 V2，價(jià)格為40萬(wàn)-50萬(wàn)RMB，更多相關(guān)信息可來(lái)電咨詢，公司客服電話7*24小時(shí)為您服務(wù)。

納米顆粒分析儀：SZ-100 V2 納米顆粒分析儀是準(zhǔn)確測(cè)量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具，如顆粒粒徑、zeta電位的檢測(cè)，分子量（Mw）以及第二維利系數(shù)（A2）的測(cè)定；還可以用于檢測(cè)蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。SZ-100 V2納米顆粒分析儀典型應(yīng)用包括：納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。產(chǎn)品特點(diǎn)：1.同臺(tái)儀器可測(cè)三種參數(shù)——粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù)。2.寬檢測(cè)范圍，寬濃度范圍——樣品濃度可達(dá)40%。3.自動(dòng)滴定儀——可用于zeta電位測(cè)量過(guò)程中pH值的自動(dòng)滴定。4.軟件操作簡(jiǎn)單功能強(qiáng)大，一鍵測(cè)量。5.雙光路雙角度粒徑測(cè)量（90° 和173°）。6.采用微量樣品池。激光粒度分析儀具有操作簡(jiǎn)單直觀的特點(diǎn)，不只對(duì)樣品進(jìn)行動(dòng)態(tài)檢測(cè)，而且具有強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理與輸出功能。

粒度分析儀的信息與技術(shù)指標(biāo)要求：粒度分析儀的信息要求.是指給出結(jié)果的表達(dá)方式.可以是平均粒徑、累加頻率值、正態(tài)分布、分布寬度.也可用對(duì)數(shù)正態(tài)分布、非對(duì)稱分布寬度、多峰分布的各峰相對(duì)量，以及累加頻率的不同名義(如顆粒數(shù)、體積、面積等)表達(dá)。催化劑粒度分析較有用的信息是平均粒徑和粒徑的顆粒數(shù)分布。不同粒度分析儀技術(shù)的原理不同，原信息源和計(jì)量目標(biāo)不同。例如光衍射法的原信息源是散射光強(qiáng)度，要求防止細(xì)顆粒中少數(shù)大顆粒對(duì)信息源的支配.電敏技術(shù)則按顆體積計(jì)數(shù)，因此各方法的基準(zhǔn)不同，彼此不能簡(jiǎn)單歸一同比。所以必須強(qiáng)調(diào)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化因基準(zhǔn)不同會(huì)帶來(lái)明顯的誤差。激光粒度儀測(cè)試結(jié)果的影響因素有哪些？佛山沉降式粒度儀怎么樣

麥奇克S3500系列激光粒度分析儀的特點(diǎn)：能夠有效觀察懸浮液/乳化液中顆粒的分散狀態(tài)。PANalytical粒度儀濕法

粒度儀基本測(cè)量：1）測(cè)量背景：顆粒區(qū)的測(cè)量數(shù)據(jù)，由于受到設(shè)備電子背景噪音，測(cè)試光路中鏡面灰塵，以及分散介質(zhì)中的雜質(zhì)顆粒影響會(huì)有一定的偏差。通過(guò)“測(cè)量背景”能純化粒徑測(cè)量，上述的背景信息和數(shù)據(jù)會(huì)從樣品測(cè)量數(shù)據(jù)中減去以得到精確的數(shù)據(jù)。2）選擇測(cè)量參數(shù)：按下Option，出現(xiàn)MeasureOption窗口，其中Material一欄提示操作人員指定測(cè)量樣品的光學(xué)參數(shù)，分散介質(zhì)，數(shù)據(jù)分析模型；Measurement顯示欄確定樣品和背景測(cè)量時(shí)間。較佳測(cè)量時(shí)間由樣品顆粒大小形狀及分布范圍和使用的分散附件決定，若樣品分布是單模的，其基本粒度特征使用較少的測(cè)量時(shí)間就可獲得，反之較寬粒度分布的物質(zhì)需要較長(zhǎng)的測(cè)量時(shí)間。測(cè)量樣品的光學(xué)參數(shù)包括樣品的折射率RI，吸收率Absorption，一般常見(jiàn)物質(zhì)的光學(xué)參數(shù)軟件中有記錄，可以直接選用；若是新的物質(zhì)，軟件庫(kù)中沒(méi)有記錄，則需要操作人員自行添加樣品光學(xué)參數(shù)。注意對(duì)于MS2000一般應(yīng)用來(lái)說(shuō)，吸收率是按10的倍數(shù)變化，只有1為有效數(shù)字。PANalytical粒度儀濕法

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