芯片測(cè)試的關(guān)鍵指標(biāo)有哪些？

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優(yōu)普士電子(深圳)有限公司2024-11-13

芯片測(cè)試的關(guān)鍵指標(biāo)包括測(cè)試覆蓋率、測(cè)試準(zhǔn)確率、測(cè)試效率、測(cè)試可靠性等，以評(píng)估測(cè)試的全面性和有效性。

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