散射近場測量：當輻射體變?yōu)樯⑸潴w時，輻射近場測量轉換為散射近場測量。由于散射體是無源的，因此需要一個照射源對其進行照射，同輻射近場測量一樣，散射近場測量也有3種取樣方式，分別稱為平面散射近場測量和柱面散射近場測量以及球面散射近場測量。平面散射近場已取得了許多研究成果，柱面、球面散射近場測量的研究成果公開報道的文獻很少。散射體的散射特性通常用雷達散射截面（RadarCrossSection，簡寫為RCS）來衡量，有一定量和相對量之分，一定量一般是以一個已知散射體的RCS為標準來標定待測散射體的RCS，標準值來自理論計算和測量值；相對量用散射方向圖來表示。虛數(shù)是指相位差為1/4周期的兩個組件之間的相位差。深圳消費電子近場輻射抑制方式

低副瓣或很低副瓣天線的測量，天線方向圖副瓣電平在-28～-35dB之間的天線稱為低副瓣天線；副瓣電平小于-40dB的天線稱為很低副瓣天線。對它們的測量要用到“零探頭”技術，據(jù)文獻報導，副瓣電平在-40dB以上時，測量精度為±3dB，副瓣電平為-55dB時，測量精度為±5dB。天線口徑場分布診斷是通過測量天線近區(qū)場的分布逆推出天線口徑場分布，從而判斷出口徑場畸變處所對應的輻射單元，這就是天線口徑分布診斷的基本原理。該方法對具有一維圓對稱天線口徑分布的分析是可靠的，尤其對相控陣天線的分析與測量已有了充分的可信度。深圳消費電子近場輻射抑制方式其中的電場與磁場的轉換類似于變壓器中的電場、磁場之間的轉換，是一種感應場。

在近場工作區(qū)內(nèi)針對主反射墻的吸波材料進行特定頻段吸收特性的測試。測試近場工作區(qū)反射電平時，發(fā)射天線先置于暗室中心軸線上，接收天線置于正對被測墻壁的一個合理位置，并沿兩天線軸線移動一段距離進行反射電平的測試。測試步驟：連接好測試系統(tǒng)，按置發(fā)射天線及接收天線于測試位置Ⅰ；設置信號源頻率為1GHz，輸出功率調(diào)至合適大小使發(fā)射天線輻射信號，接收天線在正對發(fā)射天線方向，沿待測行程線移動，并記錄接收信號曲線，測試曲線作為這條行程線的參考電平線；將接收天線方向朝向被測墻壁吸波材料方向，接收天線沿這條測量行程線移動，并記錄空間駐波曲線。

輻射近場測量的研究起始于50年代，70年代中期處于推廣應用階段（商品化階段）。目前，分布在世界各地的近場測量系統(tǒng)已有100多套。該技術的基本理論已基本成熟，這種測量方法的電參數(shù)測量精度比常規(guī)遠場測量方法的測量精度要高得多，而且可全天候工作，并具有較高的保密性，因此，在民用中都顯示出了它獨特的優(yōu)越性。輻射近場測量研究的主要成果，幾十年來，輻射近場測量的研究在以下4個方面取得了突破性的進展：常規(guī)天線電參數(shù)的測量，天線近場測量可以給出天線各個截面的方向圖以及立體方向圖，可以分析出方向圖上的所有電參數(shù)（波束寬度、副瓣電平、零值深度、零深位置等）和天線的極化參數(shù)（軸比、傾角和旋向）以及天線的增益。電場與磁場的運行方向互相垂直，并都垂直于電磁波的傳播方向。

目標成像的研究已有幾十年的歷史了，其研究成果早已用于醫(yī)學的X光診斷及雷達的目標識別。用近場研究目標的像是80年代末才開始的，它是在已知目標散射近場和入射場情況下，利用微波分集技術，逆推或反演表征目標幾何特征的目標函數(shù)，由目標函數(shù)給出目標的幾何形狀，這一過程稱為目標的近場成像。這種測量方法的另一致命弱點是測量時間很長，測量時間與取樣點數(shù)幾乎成四次方的關系，實用目標的測量時間達到了不可容忍的程度。測量環(huán)境對散射近場測量散射體電特性也有很大的影響，除了在測量區(qū)域附加吸收材料外，還需要用到“背景對消技術”，其基本原理為：在無散射體的情況下，先用收、發(fā)探頭對測量區(qū)域空間掃描一次，并記錄采樣數(shù)據(jù)；在有散射體的情況下，記錄這時掃描測量的采樣數(shù)據(jù)，在保證一維掃描器（取樣架）定位精度的條件下，利用計算機軟件對兩次對應位置的測量數(shù)據(jù)逐點進行矢量相減（復數(shù)相減），這樣就消除了環(huán)境對測量數(shù)據(jù)的影響。電場要比磁場強得多，對于電壓低電流大的場源(如某些感應加熱設備的模具)，磁場要比電場大得多。天津干擾源近場輻射儀器

電磁防護的重點應該在近區(qū)場。深圳消費電子近場輻射抑制方式

近場成像實驗與常規(guī)的近場散射實驗相比，其明顯差別就在于成像實驗要進行掃頻測量，這是理論所要求的。這樣，測量系統(tǒng)就必須具備寬頻帶特性。發(fā)射、接收系統(tǒng)儀器的系統(tǒng)誤差可以通過儀器自行校準進行消除，寬帶發(fā)射、接收探頭（天線）由于口徑尺寸較大以及與目標之間的電磁耦合，所以對其發(fā)射、接收的電磁場必須進行修正，修正的方法是在它們發(fā)射、接收的電磁場中乘以復系數(shù)，系數(shù)的量值由理論值與測量值的比值來定。在此修正理論下，對金屬長方體、圓柱體以及四尾翼導彈模型進行了實驗測量，其成像結果是令人滿意的。深圳消費電子近場輻射抑制方式

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