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福建集成電路EMI診斷作用

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2022-01-12

電磁干擾的觀念與防制﹐在國(guó)內(nèi)已逐漸受到重視。雖然目前國(guó)內(nèi)并無(wú)嚴(yán)格管制電子產(chǎn)品的電磁干擾(EMI)﹐但由于歐美各國(guó)多已實(shí)施電磁干擾的要求﹐加上數(shù)字產(chǎn)品的普遍使用﹐對(duì)電磁干擾的要求已是刻不容緩的事情。筆者由于啊作的關(guān)系﹐經(jīng)常遇到許多產(chǎn)品已完成成品設(shè)計(jì)﹐因無(wú)法通過(guò)EMI測(cè)試﹐而使設(shè)計(jì)工程師花費(fèi)許多時(shí)間和精力投入EMI的修改﹐由于屬于事后的補(bǔ)救﹐往往投入許多時(shí)間與金錢﹐甚而影響了產(chǎn)品上市的時(shí)機(jī)。要解決產(chǎn)品上的EMI問(wèn)題﹐若能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)之初便加以考慮﹐則可以節(jié)省事后再投入許多時(shí)間與金錢。由于目前EMIDesign-in的觀念并不是十分普遍﹐而且由于事先的規(guī)劃并不能保證其成品可以完全符合電磁干擾的測(cè)試在﹐所以如何正確的診斷EMI問(wèn)題﹐對(duì)于設(shè)計(jì)工程師及EMI工程師是非常重要的。檢查EMI問(wèn)題與電氣 事件的巧合性無(wú)疑是EMI排查中耗時(shí)間的工作。福建集成電路EMI診斷作用

射頻泄漏區(qū)的信息有利于設(shè)備設(shè)計(jì)的改善。結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)可以通過(guò)襯墊密封、附加屏蔽或一個(gè)全新的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)來(lái)改善。對(duì)于勉強(qiáng)可接受的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)來(lái)說(shuō),應(yīng)特別注意箱體內(nèi)的電分布情況。例如:數(shù)字電路板不應(yīng)放在靠近易產(chǎn)生射頻泄漏的區(qū)域。應(yīng)注意屏蔽效能值不只從發(fā)射角度而且從敏感性角度來(lái)考慮都是有用的。如果EMI能從箱體出來(lái),同樣它也能進(jìn)入箱體。因此,電路遠(yuǎn)離射頻窗口有助于防止因外界EMI源引起的電路敏感性問(wèn)題。在大屏蔽間或大屏蔽箱體的屏蔽效能測(cè)試中,頻譜分析儀是一種重要的測(cè)試和診斷工具。北京電磁EMI診斷作用測(cè)試室為出EMI報(bào)告而開(kāi)展的掃描通常是在特殊條件下進(jìn)行的。

電磁干擾的觀念與防制﹐在國(guó)內(nèi)已逐漸受到重視。雖然目前國(guó)內(nèi)并無(wú)嚴(yán)格管制電子產(chǎn)品的電磁干擾(EMI)﹐但由于歐美各國(guó)多已實(shí)施電磁干擾的要求﹐加上數(shù)字產(chǎn)品的普遍使用﹐對(duì)電磁干擾的要求已是刻不容緩的事情。筆者由于啊作的關(guān)系﹐經(jīng)常遇到許多產(chǎn)品已完成成品設(shè)計(jì)﹐因無(wú)法通過(guò)EMI測(cè)試﹐而使設(shè)計(jì)工程師花費(fèi)許多時(shí)間和精力投入EMI的修改﹐由于屬于事后的補(bǔ)救﹐往往投入許多時(shí)間與金錢﹐甚而影響了產(chǎn)品上市的時(shí)機(jī)。產(chǎn)品開(kāi)發(fā)期間要求設(shè)計(jì)師到標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室去解決干擾問(wèn)題是不現(xiàn)實(shí)的。

EMI測(cè)試中工程師的“痛點(diǎn)”:1.從電路板設(shè)計(jì)開(kāi)始就應(yīng)該考慮EMI問(wèn)題,但受資金限制,EMI診斷設(shè)備往往不能配備到位。2.電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)定型后去進(jìn)行EMC認(rèn)證測(cè)試,認(rèn)證機(jī)構(gòu)給出不合格報(bào)告,只指出輻射還是傳導(dǎo)EMI不合格,雖然給出干擾頻點(diǎn),但并不指出電子設(shè)備中EMI不合格的位置或原因,需自行進(jìn)行EMI診斷,耗費(fèi)時(shí)間與資金。3.某些設(shè)備受環(huán)境制約無(wú)法進(jìn)行屏蔽,需找出EMI根源從設(shè)計(jì)上解決。頻譜儀是發(fā)現(xiàn)EMI問(wèn)題的基本測(cè)試儀器,但某些情況下難以追蹤EMI的根源。4.某些EMI問(wèn)題可以通過(guò)屏蔽方式解決,雖然可以通過(guò)EMC認(rèn)證,但EMI影響該設(shè)備自身性能,必須從根源上解決,或找出問(wèn)題所在加以回避。在此種情況下,頻譜儀存在與3同樣的問(wèn)題。5.隨著數(shù)據(jù)速率的加快,周期性突發(fā)的EMI問(wèn)題日益增多,必須通過(guò)對(duì)EMI周期的分析找出問(wèn)題的真正根源,這需要調(diào)制域分析。EMI測(cè)試室可能在校準(zhǔn)過(guò)的射頻房?jī)?nèi)開(kāi)展他們的測(cè)量,并報(bào)告作為強(qiáng)場(chǎng)的測(cè)量結(jié)果。

理解EMI報(bào)告在討論排查技術(shù)之前,介紹一下EMI測(cè)試報(bào)告是很有必要的。乍一看,EMI報(bào)告似乎直接提供了有關(guān)特定頻率點(diǎn)故障的信息,因此事情看起來(lái)很簡(jiǎn)單,就是使用報(bào)告中的數(shù)據(jù)確定設(shè)計(jì)中的哪個(gè)元件包含問(wèn)題源頻率,并特別加以注意,以便通過(guò)下一輪測(cè)試。然而,雖然許多測(cè)試條件在報(bào)告中是明確表示的,但一些需要考慮的重要事情可能并不那么明顯。在審查設(shè)計(jì)并試圖判斷問(wèn)題源時(shí),理解測(cè)試室如何生成這種報(bào)告是很有幫助的。需要記住的一個(gè)好規(guī)則是,準(zhǔn)峰值檢測(cè)值總是小于或等于峰值檢測(cè)值,永遠(yuǎn)不會(huì)大于峰值檢測(cè)值。因此你可以使用峰值檢測(cè)來(lái)開(kāi)展你的EMI排查和診斷。你不需要達(dá)到與EMI部門或?qū)嶒?yàn)室掃描同等程度的精度,因?yàn)闇y(cè)量都是相對(duì)值。如果你的實(shí)驗(yàn)室報(bào)告中的準(zhǔn)峰值檢測(cè)值表明,設(shè)計(jì)超過(guò)了3dB,峰值檢測(cè)值超過(guò)了6dB,那么你就知道你需要的修復(fù)工作是將信號(hào)減小3dB或更多。MDO還能捕獲或觀察頻譜和時(shí)域軌跡。福建集成電路EMI診斷作用

使用報(bào)告中的數(shù)據(jù)確定設(shè)計(jì)中的哪個(gè)元件包含問(wèn)題源頻率,并特別加以注意,以便通過(guò)下一輪測(cè)試。福建集成電路EMI診斷作用

正確的EMI診斷方法是,當(dāng)對(duì)一個(gè)可能的干擾源采取了壓制措施后,即使沒(méi)有明顯的改善,也不要將這個(gè)措施去掉,繼續(xù)對(duì)可能的其他干擾源采取措施。當(dāng)采取到某個(gè)措施時(shí),如果干擾幅度降低很多,并能通過(guò)測(cè)試,并不一說(shuō)明這個(gè)干擾源是主要的,而只說(shuō)明這個(gè)干擾擾源相對(duì)于后幾個(gè)干擾源來(lái)說(shuō)是量級(jí)較大的一個(gè),并且可以是之后一個(gè)。在前面的敘述中,假定對(duì)某個(gè)干擾源采取措施后,這個(gè)產(chǎn)品中所有干擾源被100%消除掉,如果這樣,那么當(dāng)之后一個(gè)干擾源去掉后,電磁干擾的減小應(yīng)為無(wú)限大。福建集成電路EMI診斷作用

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