輻射近場(chǎng)掃頻測(cè)量的研究，就一般情況而言，天線(xiàn)都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作，因此，各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電指標(biāo)，就需要進(jìn)行掃頻測(cè)量。掃頻測(cè)量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時(shí)，收發(fā)測(cè)量系統(tǒng)作掃頻測(cè)量。時(shí)域輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究，為了反映脈沖工作狀態(tài)和消除環(huán)境及其他因素對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的影響，時(shí)域測(cè)量是一個(gè)良好的解決此類(lèi)問(wèn)題的途徑，但目前處于研究階段。前述的輻射近場(chǎng)測(cè)量方法都需要測(cè)量出近場(chǎng)的相位和幅度，才能利用近場(chǎng)理論計(jì)算出天線(xiàn)的遠(yuǎn)場(chǎng)電特性，為了簡(jiǎn)化計(jì)算公式和測(cè)量系統(tǒng)以及降低測(cè)量時(shí)間與測(cè)量的相位誤差（在頻率f很高的情況下，即f＞80GHz，相位的測(cè)量誤差是很大的），于是，有學(xué)者提出只用近場(chǎng)測(cè)量值的幅度來(lái)重建天線(xiàn)遠(yuǎn)場(chǎng)的方法。實(shí)際上電場(chǎng)和磁場(chǎng)互相產(chǎn)生，這樣的“單獨(dú)”波就是無(wú)線(xiàn)電波。西安家電燈具近場(chǎng)輻射

從90年代末至今，近場(chǎng)微波成像已經(jīng)引起了學(xué)者們的濃厚興趣，但由于常規(guī)目標(biāo)散射近場(chǎng)的復(fù)雜性，致使近場(chǎng)微波成像遠(yuǎn)遠(yuǎn)滯后于遠(yuǎn)場(chǎng)成像。近場(chǎng)微波成像中，著眼于潛在的應(yīng)用，目標(biāo)函數(shù)既可以是理想導(dǎo)體目標(biāo)的輪廓函數(shù)，也可以是目標(biāo)介電常數(shù)的分布函數(shù)。從照射天線(xiàn)與成像目標(biāo)的相對(duì)運(yùn)動(dòng)方式來(lái)看，近場(chǎng)微波成像有兩種模式：即直線(xiàn)掃描模式和轉(zhuǎn)臺(tái)模式，研究方法可分為電磁逆散射法和球背向投影法（SphericalBackProjection，簡(jiǎn)寫(xiě)為SBP）。其中電磁逆散射法散射機(jī)理清晰，但數(shù)學(xué)公式復(fù)雜且有很大的局限性，因而，實(shí)際中使用較少；而球背向投影法在實(shí)際中使用較多。利用球背向投影法在直線(xiàn)掃描模式和轉(zhuǎn)臺(tái)模式情況下的目標(biāo)函數(shù)解析公式已經(jīng)給出。西安家電燈具近場(chǎng)輻射其中的電場(chǎng)與磁場(chǎng)的轉(zhuǎn)換類(lèi)似于變壓器中的電場(chǎng)、磁場(chǎng)之間的轉(zhuǎn)換，是一種感應(yīng)場(chǎng)。

目標(biāo)成像的研究已有幾十年的歷史了，其研究成果早已用于醫(yī)學(xué)的X光診斷及雷達(dá)的目標(biāo)識(shí)別。用近場(chǎng)研究目標(biāo)的像是80年代末才開(kāi)始的，它是在已知目標(biāo)散射近場(chǎng)和入射場(chǎng)情況下，利用微波分集技術(shù)，逆推或反演表征目標(biāo)幾何特征的目標(biāo)函數(shù)，由目標(biāo)函數(shù)給出目標(biāo)的幾何形狀，這一過(guò)程稱(chēng)為目標(biāo)的近場(chǎng)成像。這種測(cè)量方法的另一致命弱點(diǎn)是測(cè)量時(shí)間很長(zhǎng)，測(cè)量時(shí)間與取樣點(diǎn)數(shù)幾乎成四次方的關(guān)系，實(shí)用目標(biāo)的測(cè)量時(shí)間達(dá)到了不可容忍的程度。測(cè)量環(huán)境對(duì)散射近場(chǎng)測(cè)量散射體電特性也有很大的影響，除了在測(cè)量區(qū)域附加吸收材料外，還需要用到“背景對(duì)消技術(shù)”，其基本原理為：在無(wú)散射體的情況下，先用收、發(fā)探頭對(duì)測(cè)量區(qū)域空間掃描一次，并記錄采樣數(shù)據(jù)；在有散射體的情況下，記錄這時(shí)掃描測(cè)量的采樣數(shù)據(jù)，在保證一維掃描器（取樣架）定位精度的條件下，利用計(jì)算機(jī)軟件對(duì)兩次對(duì)應(yīng)位置的測(cè)量數(shù)據(jù)逐點(diǎn)進(jìn)行矢量相減（復(fù)數(shù)相減），這樣就消除了環(huán)境對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的影響。

無(wú)功近場(chǎng)區(qū)：又稱(chēng)為電抗近場(chǎng)區(qū)，是天線(xiàn)輻射場(chǎng)中緊鄰天線(xiàn)口徑的一個(gè)近場(chǎng)區(qū)域。在該區(qū)域中，電抗性?xún)?chǔ)能場(chǎng)占支配地位，該區(qū)域的界限通常取為距天線(xiàn)口徑表面λ/2π處。從物理概念上講，無(wú)功近場(chǎng)區(qū)是一個(gè)儲(chǔ)能場(chǎng)，其中的電場(chǎng)與磁場(chǎng)的轉(zhuǎn)換類(lèi)似于變壓器中的電場(chǎng)、磁場(chǎng)之間的轉(zhuǎn)換，是一種感應(yīng)場(chǎng)。輻射近場(chǎng)區(qū)：超過(guò)電抗近場(chǎng)區(qū)就到了輻射場(chǎng)區(qū)，輻射場(chǎng)區(qū)的電磁場(chǎng)已經(jīng)脫離了天線(xiàn)的束縛，并作為電磁波進(jìn)入空間。按照與天線(xiàn)距離的遠(yuǎn)近，又把輻射場(chǎng)區(qū)分為輻射近場(chǎng)區(qū)和輻射遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)。在輻射近場(chǎng)區(qū)中，輻射場(chǎng)占優(yōu)勢(shì)，并且輻射場(chǎng)的角度分布與距離天線(xiàn)口徑的距離有關(guān)。對(duì)于通常的天線(xiàn)，此區(qū)域也稱(chēng)為菲涅爾區(qū)。無(wú)功近場(chǎng)區(qū)：又稱(chēng)為電抗近場(chǎng)區(qū)，是天線(xiàn)輻射場(chǎng)中緊鄰天線(xiàn)口徑的一個(gè)近場(chǎng)區(qū)域。

相比而言，要在第三方測(cè)試箱中測(cè)試新設(shè)計(jì)，就要求工程師前往場(chǎng)外測(cè)試場(chǎng)所，并會(huì)耗費(fèi)大半天的時(shí)間。使用測(cè)試箱往往需要提前幾周安排，這會(huì)給開(kāi)發(fā)過(guò)程帶來(lái)極大的延誤。極近場(chǎng)掃描解決方案不會(huì)替代在測(cè)試箱中測(cè)試設(shè)計(jì)的需求。不過(guò)，這種儀器可以在簡(jiǎn)便的桌面系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)快速的前后一致性測(cè)試功能。與在測(cè)試箱中進(jìn)行的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量相比，極近場(chǎng)EMI特性可以提供實(shí)時(shí)反饋。此外，這些測(cè)量結(jié)果與在測(cè)試箱中測(cè)得的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量結(jié)果具有很高的相關(guān)性。因此，諸如EMxpert等極近場(chǎng)儀器可以減少在測(cè)試箱中進(jìn)行類(lèi)似測(cè)試的數(shù)量?？傊?，這可以幫助設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)加快測(cè)試進(jìn)程，更快地得到測(cè)試箱測(cè)試的一致性測(cè)試結(jié)果。輻射近場(chǎng)區(qū)展示了典型的半波偶極子天線(xiàn)是如何產(chǎn)生電場(chǎng)和磁場(chǎng)的。西安家電燈具近場(chǎng)輻射

超過(guò)距離，遠(yuǎn)場(chǎng)分量是遠(yuǎn)大于近場(chǎng)分量。西安家電燈具近場(chǎng)輻射

在實(shí)際使用中，感興趣的是輻射遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)。通常的應(yīng)用中，我們應(yīng)該避免收、發(fā)天線(xiàn)處在近場(chǎng)區(qū)范圍，因?yàn)榇藭r(shí)不但天線(xiàn)的方向圖沒(méi)有形成，而且在近場(chǎng)范圍內(nèi)的任何導(dǎo)電體甚至介質(zhì)物體都被看成是天線(xiàn)電磁邊界條件的一部分，它影響了原來(lái)的天線(xiàn)，和原來(lái)的天線(xiàn)一起共同修正和改變了遠(yuǎn)場(chǎng)的方向圖輻射特性，從而影響了實(shí)際使用效果。某些特殊應(yīng)用場(chǎng)合，天線(xiàn)和其它物體靠得很近，從而使天線(xiàn)的輻射特性變得極其復(fù)雜，比如手機(jī)天線(xiàn)置于人體附近的情況，這需要專(zhuān)門(mén)予以討論。西安家電燈具近場(chǎng)輻射

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