通常EMI部門(mén)或外部實(shí)驗(yàn)室一開(kāi)始是使用簡(jiǎn)單的峰值檢測(cè)器執(zhí)行掃描來(lái)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題區(qū)域的。但當(dāng)所發(fā)現(xiàn)的信號(hào)超過(guò)或接近規(guī)定極限時(shí)，他們也執(zhí)行準(zhǔn)峰值測(cè)量。準(zhǔn)峰值是EMI測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)定義的一種方法，用來(lái)檢測(cè)信號(hào)包絡(luò)的加權(quán)峰值。它根據(jù)信號(hào)的持續(xù)時(shí)間和重復(fù)率對(duì)信號(hào)進(jìn)行加權(quán)，以便對(duì)從廣播角度看解釋為“干擾”的信號(hào)施加更多的權(quán)重。與不頻發(fā)的脈沖相比，發(fā)生頻率更高的信號(hào)將導(dǎo)致更高的準(zhǔn)峰值測(cè)量結(jié)果。換句話說(shuō)，問(wèn)題信號(hào)發(fā)生的越頻繁，問(wèn)題信號(hào)的一定幅度就越可能被準(zhǔn)峰值測(cè)量所屏蔽。一般來(lái)說(shuō)，近場(chǎng)探針沒(méi)有校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，因此它們適合用于相對(duì)測(cè)量。鄭州可視化EMI診斷方法

起初接觸產(chǎn)品EMI對(duì)策修改時(shí)﹐會(huì)聽(tīng)到很好EMI工程師說(shuō)把所有EMI對(duì)策拿掉﹐就可以通過(guò)測(cè)試。初聽(tīng)以為是句玩笑話﹐如今回想這是很寶貴的經(jīng)驗(yàn)談。而后亦聽(tīng)到許多EMI工程師談到類似的經(jīng)驗(yàn)。本文中將舉出實(shí)際的例子﹐讓讀者更加了解EMI的對(duì)策觀念。一般提到如何解決EMI問(wèn)題﹐大多說(shuō)是casebycase，當(dāng)然從對(duì)策上而言﹐每一個(gè)產(chǎn)品的特性及電路板布線（layout）情況不同﹐故無(wú)法用幾套方法而解決所有EMI的問(wèn)題﹐但是長(zhǎng)久以來(lái)﹐我們一直想要把處理EMI問(wèn)題并做適當(dāng)?shù)膶?duì)策﹐另外也提供專業(yè)的EMI工程師一種參考方法。在此我們把電磁干擾與對(duì)策的一些心得經(jīng)驗(yàn)整理﹐希望能對(duì)讀者有些幫助。深圳芯片EMI診斷作用問(wèn)題信號(hào)發(fā)生的越頻繁，問(wèn)題信號(hào)的一定幅度就越可能被準(zhǔn)峰值測(cè)量所屏蔽。

電磁干擾的觀念與防制﹐在國(guó)內(nèi)已逐漸受到重視。雖然目前國(guó)內(nèi)并無(wú)嚴(yán)格管制電子產(chǎn)品的電磁干擾（EMI）﹐但由于歐美各國(guó)多已實(shí)施電磁干擾的要求﹐加上數(shù)字產(chǎn)品的普遍使用﹐對(duì)電磁干擾的要求已是刻不容緩的事情。筆者由于啊作的關(guān)系﹐經(jīng)常遇到許多產(chǎn)品已完成成品設(shè)計(jì)﹐因無(wú)法通過(guò)EMI測(cè)試﹐而使設(shè)計(jì)工程師花費(fèi)許多時(shí)間和精力投入EMI的修改﹐由于屬于事后的補(bǔ)救﹐往往投入許多時(shí)間與金錢(qián)﹐甚而影響了產(chǎn)品上市的時(shí)機(jī)。產(chǎn)品開(kāi)發(fā)期間要求設(shè)計(jì)師到標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室去解決干擾問(wèn)題是不現(xiàn)實(shí)的。

EMI電磁干擾場(chǎng)地勘測(cè)：便攜式的頻譜分析儀與寬帶天線的組合在探測(cè)電磁干擾過(guò)程中特別有用。在1KHz～1GHz之間的輻射電磁干擾探測(cè)只用一臺(tái)頻譜分析儀和一根天線就可完成。不同地理位置環(huán)境干擾的勘測(cè)有助于確定好的的EMI開(kāi)闊測(cè)試場(chǎng)地。勘測(cè)的信息也可用于確定安置EMI敏感校驗(yàn)或設(shè)計(jì)組的好的位置。大多數(shù)情況下，來(lái)自建筑物外小的環(huán)境電磁干擾區(qū)域趨于建筑物的中間。對(duì)于多層建筑物，地下室或較低樓層通常具有小的環(huán)境電磁干擾。頻譜分析儀在電磁敏感度測(cè)試過(guò)程中用于監(jiān)視被測(cè)設(shè)備上的傳導(dǎo)或輻射發(fā)射電平。許多公司必須在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和測(cè)試方面花費(fèi)大量的人力物力。

如果設(shè)備沒(méi)有通過(guò)EMC測(cè)試，我們從測(cè)量結(jié)果中，只能知道哪些頻率點(diǎn)“超標(biāo)”了，而這些頻率的電磁干擾是從哪里出來(lái)的，往往是工程師門(mén)不容易發(fā)現(xiàn)、難解決的問(wèn)題。EMI快速診斷方法就是針對(duì)EUT的原理，先推斷引起EMI的原因和內(nèi)部干擾源可能是什么，再根據(jù)EMI產(chǎn)生的途徑和機(jī)理，透過(guò)測(cè)試圖，分析超差原因；必要時(shí),輔以高頻示波器或頻譜儀，從頻域到時(shí)域，尋找產(chǎn)生EMI問(wèn)題的對(duì)應(yīng)電路和器件；從而制定EMI對(duì)策。對(duì)策-顯示器使用帶磁環(huán)類型的信號(hào)電纜和電源電纜,電源輸入端串接差模線圈，電源地線剪短就近接地。在EMI，工程師從來(lái)無(wú)法完全掌握可能存在什么信號(hào)。鄭州可視化EMI診斷方法

示波器是快速了解有害輻射并找出它們來(lái)源的有效工具。鄭州可視化EMI診斷方法

EMC測(cè)試伴隨著產(chǎn)品研制的全過(guò)程，眾所周知，一個(gè)產(chǎn)品的電磁兼容性能是否達(dá)標(biāo)靠什么證明呢？無(wú)疑是試驗(yàn)，試驗(yàn)是檢驗(yàn)產(chǎn)品性能好壞的單獨(dú)手段。然而，EMC試驗(yàn)不單單承擔(dān)對(duì)產(chǎn)品性能終檢驗(yàn)的任務(wù)，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段也需要有輔助試驗(yàn)手段檢驗(yàn)每一個(gè)設(shè)計(jì)思想及每一項(xiàng)設(shè)計(jì)措施是否正確。特別是復(fù)雜的電子系統(tǒng)，在方案論證階段需要制定EMC試驗(yàn)規(guī)范，在單機(jī)設(shè)備初樣、正樣研制階段需要對(duì)每項(xiàng)EMC指標(biāo)進(jìn)行測(cè)量，組成系統(tǒng)之后需要進(jìn)行系統(tǒng)級(jí)的EMC測(cè)試。系統(tǒng)級(jí)EMC測(cè)試的目的一方面檢驗(yàn)系統(tǒng)自身兼容性，另一方面檢驗(yàn)該電子系統(tǒng)與特定的工作環(huán)境是否兼容。鄭州可視化EMI診斷方法

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