干擾正確的診斷：要解決產(chǎn)品上的EMI問題﹐若能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)之初便加以考慮﹐則可以節(jié)省事后再投入許多時(shí)間。由于目前EMIDesign-in的觀念并不是十分普遍﹐而且由于事先的規(guī)劃并不能保證其成品可以完全符合電磁干擾的測(cè)試在﹐所以如何正確的診斷EMI問題﹐對(duì)于設(shè)計(jì)工程師及EMI工程師是非常重要的。頻譜分析儀是進(jìn)行電磁干擾測(cè)試、診斷和故障檢測(cè)中應(yīng)用廣的一種測(cè)試儀器。對(duì)于一個(gè)電磁兼容工程師（EMC）來講，頻譜分析儀除了測(cè)試商用和電磁發(fā)射的重要用途外，還可對(duì)對(duì)以下內(nèi)容進(jìn)行評(píng)估：1、材料的屏蔽效能，2、設(shè)備機(jī)箱的屏蔽效能，3、較大的試驗(yàn)室或測(cè)試室的屏蔽效能，4、電源線濾波器的衰減特性；此外，頻譜分析儀可從事場(chǎng)地勘測(cè)。準(zhǔn)峰值以便對(duì)從廣播角度看解釋為“干擾”的信號(hào)施加更多的權(quán)重。研發(fā)級(jí)EMI診斷原理

設(shè)計(jì)工程師經(jīng)常發(fā)現(xiàn)新產(chǎn)品設(shè)計(jì)需要經(jīng)過多次修改才能達(dá)到限值。他們既不擁有EMI診斷訣竅，EMI診斷也不是他們?nèi)粘Ｘ?zé)任的一部分。通常，只當(dāng)設(shè)計(jì)的電路板幾乎完工時(shí)才遞交給EMC部門或外部實(shí)驗(yàn)室做進(jìn)一步測(cè)試。然而，相比早期設(shè)計(jì)階段（這時(shí)某些設(shè)計(jì)考慮或許能夠妥善處理）修改，在這個(gè)階段做出改動(dòng)極具挑戰(zhàn)性。符合EMC標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)果在設(shè)計(jì)上是可控的，能夠做出規(guī)劃，同時(shí)也是設(shè)計(jì)師的責(zé)任。解決EMI并非使用什么巫術(shù)，也無需時(shí)域工程師躲避。使用您熟悉的儀器---示波器，您能夠更好地理解EMI問題，以及了解所用解決方案的效果。研發(fā)級(jí)EMI診斷原理事實(shí)上﹐我們?nèi)绻袳MI當(dāng)做一種疾病﹐當(dāng)然平時(shí)的預(yù)防保養(yǎng)很重要的。

EMC測(cè)試伴隨著產(chǎn)品研制的全過程，眾所周知，一個(gè)產(chǎn)品的電磁兼容性能是否達(dá)標(biāo)靠什么證明呢？無疑是試驗(yàn)，試驗(yàn)是檢驗(yàn)產(chǎn)品性能好壞的單獨(dú)手段。然而，EMC試驗(yàn)不單單承擔(dān)對(duì)產(chǎn)品性能終檢驗(yàn)的任務(wù)，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段也需要有輔助試驗(yàn)手段檢驗(yàn)每一個(gè)設(shè)計(jì)思想及每一項(xiàng)設(shè)計(jì)措施是否正確。特別是復(fù)雜的電子系統(tǒng)，在方案論證階段需要制定EMC試驗(yàn)規(guī)范，在單機(jī)設(shè)備初樣、正樣研制階段需要對(duì)每項(xiàng)EMC指標(biāo)進(jìn)行測(cè)量，組成系統(tǒng)之后需要進(jìn)行系統(tǒng)級(jí)的EMC測(cè)試。系統(tǒng)級(jí)EMC測(cè)試的目的一方面檢驗(yàn)系統(tǒng)自身兼容性，另一方面檢驗(yàn)該電子系統(tǒng)與特定的工作環(huán)境是否兼容。

許多頻譜分析儀重量輕，可以方便地移入測(cè)試室內(nèi)以對(duì)被測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行連續(xù)觀察。測(cè)試人員可以用電場(chǎng)或磁場(chǎng)探頭探測(cè)被測(cè)設(shè)備泄漏區(qū)域。通常這些區(qū)域包括像箱體接縫、顯示屏前面板、接口線纜、鍵盤線纜、鍵盤、電源線和箱體開口部位等，探頭也可深入被測(cè)設(shè)備的箱體內(nèi)進(jìn)行探測(cè)。為了確切指出很大輻射區(qū)域，要求探頭靈敏度不要太高，通常，一段小線頭與一同軸線纜一起放入BNC連接器內(nèi)就可以了。此外，應(yīng)注意近場(chǎng)探頭探測(cè)過程中頻譜分析儀上所顯示的近場(chǎng)測(cè)試值可能會(huì)較大，但這不一定就是遠(yuǎn)場(chǎng)輻射的主要原因。大多數(shù)公司的實(shí)驗(yàn)室并不具備做一定EMI測(cè)量所需的測(cè)試室條件。

近場(chǎng)測(cè)量是可用于EMI排查的一種測(cè)量，因?yàn)樗灰鬁y(cè)試站點(diǎn)提供專門的條件就能讓你查出能量源。然而，一致性測(cè)試是在遠(yuǎn)場(chǎng)中進(jìn)行的，而不是近場(chǎng)。你通常不會(huì)使用遠(yuǎn)場(chǎng)，因?yàn)橛刑嗟淖兞孔屗兊脧?fù)雜起來：遠(yuǎn)場(chǎng)信號(hào)的強(qiáng)度不只取決于源的強(qiáng)度，而且取決于輻射機(jī)制以及可能采取的屏蔽或?yàn)V波措施。根據(jù)經(jīng)驗(yàn)需要記住，如果你能觀察遠(yuǎn)場(chǎng)中的信號(hào)，那么應(yīng)該能看到近場(chǎng)中的相同信號(hào)。（然而，能觀察到近場(chǎng)中的信號(hào)而看不到遠(yuǎn)場(chǎng)中的相同信號(hào)是很可能的）近場(chǎng)探針實(shí)際上就是設(shè)計(jì)用于拾取磁場(chǎng)（H場(chǎng)）或電場(chǎng)（E場(chǎng)）變化的天線。一般來說，近場(chǎng)探針沒有校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，因此它們適合用于相對(duì)測(cè)量。每種設(shè)備用到不同的測(cè)試方法，并提供不同但互補(bǔ)的診斷技術(shù)。研發(fā)級(jí)EMI診斷原理

在EMI，工程師從來無法完全掌握可能存在什么信號(hào)。研發(fā)級(jí)EMI診斷原理

在EMI，工程師從來無法完全掌握可能存在什么信號(hào)。由于每臺(tái)新被測(cè)設(shè)備都不同，根據(jù)EMI信號(hào)特征選擇正確的工具以及識(shí)別輻射源十分重要。當(dāng)涉及預(yù)一致性和一致性測(cè)試時(shí)，示波器的頻譜分析功能并不能取代傳統(tǒng)的EMI測(cè)試設(shè)備，如頻譜分析儀或測(cè)試接收機(jī)。畢竟相對(duì)有限的動(dòng)態(tài)范圍和帶寬，缺少預(yù)選器、前置放大器和與標(biāo)準(zhǔn)兼容的加權(quán)檢波器，限值了示波器在EMI測(cè)試領(lǐng)域的應(yīng)用。示波器、頻譜分析儀或測(cè)試接收機(jī)可以從不同角度解決EMI問題。每種設(shè)備用到不同的測(cè)試方法，并提供不同但互補(bǔ)的診斷技術(shù)。示波器互補(bǔ)的方法為EMI排查診斷打開了全新的天地，提供前所未有的EMI排查能力。研發(fā)級(jí)EMI診斷原理

揚(yáng)芯科技（深圳）有限公司致力于儀器儀表，是一家生產(chǎn)型的公司。公司業(yè)務(wù)分為近場(chǎng)輻射問題解決方案，?輻射抗擾度問題解決方案，輻射雜散預(yù)測(cè)試系統(tǒng)，射頻干擾問題解決方案等，目前不斷進(jìn)行創(chuàng)新和服務(wù)改進(jìn)，為客戶提供良好的產(chǎn)品和服務(wù)。公司將不斷增強(qiáng)企業(yè)重點(diǎn)競(jìng)爭(zhēng)力，努力學(xué)習(xí)行業(yè)知識(shí)，遵守行業(yè)規(guī)范，植根于儀器儀表行業(yè)的發(fā)展。在社會(huì)各界的鼎力支持下，持續(xù)創(chuàng)新，不斷鑄造***服務(wù)體驗(yàn)，為客戶成功提供堅(jiān)實(shí)有力的支持。