機(jī)器外部連接之電纜成為輻射天線：由于機(jī)器本身外部所連接的電纜成為天線效應(yīng)﹐將噪聲輻射到空間﹐此時(shí)噪聲的大小和電纜的長(zhǎng)度有關(guān)﹐因電纜的天線效應(yīng)相對(duì)于噪聲半波長(zhǎng)時(shí)共振情形會(huì)很大﹐也往往是造成EMI無法通過測(cè)試。在解決這個(gè)問題前必須要做一些判斷﹐否則很容易疏忽而浪費(fèi)時(shí)間。噪聲是由機(jī)器內(nèi)部電路板或接地所產(chǎn)生，此情形為將電纜取下﹐或加一Core則噪聲減低或消失。此時(shí)必須做的一個(gè)步驟是將線靠近機(jī)器（不須直接連接）看噪聲是否會(huì)存在﹐若噪聲并沒有升高﹐則可確實(shí)判定由機(jī)器內(nèi)部產(chǎn)生﹐若將電纜靠近而干擾噪聲馬上升高。沒有正確的診斷﹐找不到病癥的源頭﹐往往事倍功半而拖延費(fèi)時(shí)。上海電氣電力EMI診斷儀器

EMI定義：電磁兼容(EMC)包括電磁干擾(EMI)和電磁抗擾度(EMS)兩部分。簡(jiǎn)而言之，EMI是電子設(shè)備對(duì)外部電磁環(huán)境的干擾，EMS是電子設(shè)備抵抗外部電磁環(huán)境干擾的能力。無論是EMI還是EMS，都包括輻射和傳導(dǎo)兩部分。EMC認(rèn)證是任何電子設(shè)備必須遵從的，EMI是EMC中的重要部分。EMI測(cè)試包括：1.EMC認(rèn)證機(jī)構(gòu)在EMC實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行認(rèn)證測(cè)試；2.企業(yè)質(zhì)檢部門利用EMI接收機(jī)或高指標(biāo)頻譜儀進(jìn)行EMI預(yù)認(rèn)證測(cè)試；3.產(chǎn)品研發(fā)、調(diào)測(cè)部門利用頻譜儀進(jìn)行EMI診斷；4.產(chǎn)品研發(fā)調(diào)測(cè)部門利用示波器測(cè)試電源紋波、時(shí)鐘抖動(dòng)等特性，因?yàn)樗鼈兪钱a(chǎn)生EMI的因素之一。上海電氣電力EMI診斷儀器一般來說，近場(chǎng)探針沒有校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，因此它們適合用于相對(duì)測(cè)量。

各種接頭如Keyboard及Powersupply常常由于接頭的插頭與機(jī)器上的插座間的密合度不好﹐影響了干擾噪聲的輻射。檢查的方式可將接頭拔掉看噪聲是否減小﹐減小表示兩種冊(cè)可﹐一為線上本身輻射干擾﹐另一為接頭間接觸不好﹐此時(shí)插上接頭﹐用手銷微將接頭端左右搖動(dòng)﹐看噪聲是否會(huì)減小或消失﹐若會(huì)減小可將Keyboard或Powersupply的連接頭﹐用銅箔膠帶貼一圈﹐以增加其和機(jī)器接頭的密合度﹐這一點(diǎn)也是實(shí)測(cè)上很容易被疏忽﹐而會(huì)誤判機(jī)器的EMI為何每次測(cè)時(shí)好時(shí)壞﹐或花許多時(shí)間在其它的對(duì)策上面。

起初接觸產(chǎn)品EMI對(duì)策修改時(shí)﹐會(huì)聽到很好EMI工程師說把所有EMI對(duì)策拿掉﹐就可以通過測(cè)試。初聽以為是句玩笑話﹐如今回想這是很寶貴的經(jīng)驗(yàn)談。而后亦聽到許多EMI工程師談到類似的經(jīng)驗(yàn)。本文中將舉出實(shí)際的例子﹐讓讀者更加了解EMI的對(duì)策觀念。一般提到如何解決EMI問題﹐大多說是casebycase，當(dāng)然從對(duì)策上而言﹐每一個(gè)產(chǎn)品的特性及電路板布線（layout）情況不同﹐故無法用幾套方法而解決所有EMI的問題﹐但是長(zhǎng)久以來﹐我們一直想要把處理EMI問題并做適當(dāng)?shù)膶?duì)策﹐另外也提供專業(yè)的EMI工程師一種參考方法。在此我們把電磁干擾與對(duì)策的一些心得經(jīng)驗(yàn)整理﹐希望能對(duì)讀者有些幫助。根據(jù)經(jīng)驗(yàn)需要記住，如果你能觀察遠(yuǎn)場(chǎng)中的信號(hào)，那么應(yīng)該能看到近場(chǎng)中的相同信號(hào)。

改變帶寬法：通過改變頻譜分析儀分辨帶寬，信號(hào)的幅值可能也可能不發(fā)生變化。一個(gè)真正的窄帶或連續(xù)波信號(hào)的幅值將不發(fā)生變化。由持續(xù)時(shí)間為零、幅值無限大的脈沖產(chǎn)生的純寬帶發(fā)射，將產(chǎn)生量值為20log（BW1/BW2）的變化。然而在確定發(fā)射是寬帶還是窄帶的過程中，實(shí)際上允許與理想情況存在偏差。測(cè)試人員在使用這種方法時(shí)不可避免地要運(yùn)用較好的工程經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行判斷。峰值／平均值比較法：同帶寬改變法相似，這種方法是以信號(hào)幅值的變化為基礎(chǔ)的。窄帶信號(hào)的幅值電平在采用峰值或平均值檢波時(shí)基本保持不變，而寬帶信號(hào)在用平均值檢波時(shí)幅值將變小。EMI報(bào)告似乎直接提供了有關(guān)特定頻率點(diǎn)故障的信息，因此事情看起來很簡(jiǎn)單。上海EMI診斷輻射發(fā)射測(cè)試

信號(hào)的射頻頻率是多少？是脈沖式的還是連續(xù)的？這些信號(hào)特征可以使用基本的頻譜分析儀進(jìn)行監(jiān)視。上海電氣電力EMI診斷儀器

EMI測(cè)試場(chǎng)的衰減測(cè)試可以由頻譜分析儀、適當(dāng)?shù)奶炀€和射頻發(fā)射裝置來完成。按照FCC和VDE發(fā)射說明進(jìn)行測(cè)試的裝置必須滿足FCC或VDE中指定的相應(yīng)場(chǎng)地衰減要求。頻譜分析儀能用來測(cè)試材料、設(shè)備屏蔽箱體、甚至較大屏蔽測(cè)試室的屏蔽效能。材料樣品可以通過橫電磁波（TEM）室、頻譜分析儀和追隨信號(hào)發(fā)生器測(cè)試，測(cè)試裝置與濾波器衰減測(cè)試很相似，只是用TEM波室代替了濾波器。材料樣本放在TEM室里測(cè)試其頻率變化的衰減特性或屏蔽效能。另一種用頻譜分析儀測(cè)試材料的方法是將材料樣本蒙在測(cè)試盒的開口上。此時(shí)追隨信號(hào)發(fā)生器與一小發(fā)射天線相連并放在測(cè)試盒的內(nèi)部。接收天線放在測(cè)試盒的外面并與頻譜分析儀相連。用材料樣本覆蓋的測(cè)量值之差就是屏蔽效能值。上海電氣電力EMI診斷儀器

揚(yáng)芯科技（深圳）有限公司是一家生產(chǎn)型類企業(yè)，積極探索行業(yè)發(fā)展，努力實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品創(chuàng)新。公司是一家私營(yíng)股份有限公司企業(yè)，以誠(chéng)信務(wù)實(shí)的創(chuàng)業(yè)精神、專業(yè)的管理團(tuán)隊(duì)、踏實(shí)的職工隊(duì)伍，努力為廣大用戶提供***的產(chǎn)品。公司擁有專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，具有近場(chǎng)輻射問題解決方案，?輻射抗擾度問題解決方案，輻射雜散預(yù)測(cè)試系統(tǒng)，射頻干擾問題解決方案等多項(xiàng)業(yè)務(wù)。揚(yáng)芯科技將以真誠(chéng)的服務(wù)、創(chuàng)新的理念、***的產(chǎn)品，為彼此贏得全新的未來！