故在EMI的問(wèn)題上﹐常?？吹揭粋€(gè)EMI有問(wèn)題的產(chǎn)品﹐由于未能找到造成EMI問(wèn)題的關(guān)鍵﹐花了許多時(shí)間﹐下了許多對(duì)策﹐卻始終無(wú)法解決﹐其中亦不乏專(zhuān)業(yè)的EMI工程師。以往談到EMI往往強(qiáng)調(diào)對(duì)策方法﹐甚而視許多對(duì)策秘決或絕招﹐然而沒(méi)有正確的診斷﹐而在產(chǎn)品上加了一大堆EMI壓制組件﹐其結(jié)果往往只會(huì)使EMI情況更糟。起初接觸產(chǎn)品EMI對(duì)策修改時(shí)﹐會(huì)聽(tīng)到很好EMI工程師說(shuō)把所有EMI對(duì)策拿掉﹐就可以通過(guò)測(cè)試。初聽(tīng)以為是句玩笑話(huà)﹐如今回想這是很寶貴的經(jīng)驗(yàn)談。而后亦聽(tīng)到許多EMI工程師談到類(lèi)似的經(jīng)驗(yàn)。本文中將舉出實(shí)際的例子﹐讓讀者更加了解EMI的對(duì)策觀(guān)念。待測(cè)設(shè)備（DUT）可能放在一個(gè)轉(zhuǎn)盤(pán)上，以 便于從多個(gè)角度收集信號(hào)。鄭州集成電路EMI診斷測(cè)試儀

EMI電磁干擾場(chǎng)地勘測(cè)：便攜式的頻譜分析儀與寬帶天線(xiàn)的組合在探測(cè)電磁干擾過(guò)程中特別有用。在1KHz～1GHz之間的輻射電磁干擾探測(cè)只用一臺(tái)頻譜分析儀和一根天線(xiàn)就可完成。不同地理位置環(huán)境干擾的勘測(cè)有助于確定好的的EMI開(kāi)闊測(cè)試場(chǎng)地。勘測(cè)的信息也可用于確定安置EMI敏感校驗(yàn)或設(shè)計(jì)組的好的位置。大多數(shù)情況下，來(lái)自建筑物外小的環(huán)境電磁干擾區(qū)域趨于建筑物的中間。對(duì)于多層建筑物，地下室或較低樓層通常具有小的環(huán)境電磁干擾。頻譜分析儀在電磁敏感度測(cè)試過(guò)程中用于監(jiān)視被測(cè)設(shè)備上的傳導(dǎo)或輻射發(fā)射電平。深圳通用EMI診斷近場(chǎng)測(cè)量是可用于EMI排查的一種測(cè)量，因?yàn)樗灰鬁y(cè)試站點(diǎn)提供專(zhuān)門(mén)的條件就能讓你查出能量源。

我們將初步的診斷步驟詳列于下﹐并加以說(shuō)明其關(guān)鍵點(diǎn)﹐這些步驟看來(lái)似乎非常平凡簡(jiǎn)單﹐不像介紹對(duì)策方法各種理論秘籍絕招層出不窮﹐變化奧妙。其實(shí)﹐許多很好EMI工程師在其對(duì)策處理時(shí)﹐大部份的時(shí)間都在重復(fù)這些步驟與判斷。筆者要再次強(qiáng)調(diào)﹐只有真正找到造成EMI問(wèn)題的關(guān)鍵﹐才是解決EMI的好的途徑﹐若只憑理論推測(cè)或經(jīng)驗(yàn)判斷﹐有時(shí)反而會(huì)花費(fèi)更多的時(shí)間和精力。將桌子轉(zhuǎn)到待測(cè)（EUT）很大發(fā)射的位置﹐初步診斷可能的原因﹐并關(guān)掉EUT電源加以確認(rèn)。

示波器是快速了解有害輻射并找出它們來(lái)源的有效工具。在同一臺(tái)儀器上問(wèn)時(shí)域和頻域?yàn)榭焖俜治鲇泻椛鋭?chuàng)造了條件。因?yàn)槭静ㄆ魇怯布O(shè)計(jì)工程師常用的儀器，它增強(qiáng)了研發(fā)階段的EMI排查能力，并且能夠在去EMC實(shí)驗(yàn)室前先做摸底測(cè)試，從而明顯提高了一致性測(cè)試的成功率。示波器也為您提供可用于定位、捕獲和分析輻射源的各種技術(shù)，歸納在下表中：示波器和傳統(tǒng)EMI測(cè)試設(shè)備進(jìn)行EMI診斷的技術(shù)列表，從定位和捕獲到分析有問(wèn)題的輻射源。與通常的時(shí)域相關(guān)測(cè)量或其他常用射頻測(cè)試相比，EMI測(cè)量需要不同方法。EMI報(bào)告似乎直接提供了有關(guān)特定頻率點(diǎn)故障的信息，因此事情看起來(lái)很簡(jiǎn)單。

電路板上的組件成為輻射來(lái)源，由于所使用的IC或CPU本身在運(yùn)作時(shí)產(chǎn)生很大的輻射﹐使得EMI測(cè)試無(wú)法通過(guò)﹐卵石種情往往在經(jīng)過(guò)（1）﹑（2）﹑（3）的分析后噪聲依然存在﹐通常解決的方法不外換一個(gè)類(lèi)似的組件﹐看EMI特性是否會(huì)好一些。另外就是電路板重新布線(xiàn)時(shí)﹐將其擺放于影響小的位置﹐也就是附近沒(méi)有I/OPort及連接線(xiàn)等經(jīng)過(guò)﹐當(dāng)然若情況允許﹐將整個(gè)組件用金屬外殼包覆（Shielding）也是一種快速有效的方法。由以上的分析介紹我們可以了解﹐造成電磁干擾輻射關(guān)鍵的地方就是電線(xiàn)的問(wèn)題﹐當(dāng)有了適當(dāng)?shù)奶炀€(xiàn)條件存在很容易就產(chǎn)生干擾﹐另外電源線(xiàn)往往亦是造成天線(xiàn)效應(yīng)的主因﹐這是在許EMI對(duì)策中容易疏忽的。如果測(cè)試并不是所有階段都進(jìn)展順利，那么EMI故障仍有可能影響到產(chǎn)品的發(fā)布日程。安徽GB9254EMI診斷

信號(hào)的射頻頻率是多少？是脈沖式的還是連續(xù)的？這些信號(hào)特征可以使用基本的頻譜分析儀進(jìn)行監(jiān)視。鄭州集成電路EMI診斷測(cè)試儀

一個(gè)實(shí)際使用的設(shè)備箱體屏蔽效能測(cè)試方法與剛才描述的屏蔽盒測(cè)試方法相似，小發(fā)射天線(xiàn)放在設(shè)備箱體外部而不是屏蔽盒內(nèi)部。發(fā)射天線(xiàn)經(jīng)箱體屏蔽和未屏蔽的兩種情況下，用接收天線(xiàn)和頻譜分析儀測(cè)得的兩者之差即屏蔽效能值。如果設(shè)備箱體完全是金屬或射頻密封，它能夠很容易地得到100dB以上的屏蔽效能。然而，通常情況下，屏蔽箱體帶有開(kāi)口，如縫隙、未屏蔽的顯示屏、非金屬區(qū)域以及通風(fēng)口。如果屏蔽效能值沒(méi)滿(mǎn)足要求，這里就可以使用輻射發(fā)射測(cè)試中描述的故障診斷和檢測(cè)方法。鄭州集成電路EMI診斷測(cè)試儀