輻射近場掃頻測量的研究，就一般情況而言，天線都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作，因此，各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電指標(biāo)，就需要進(jìn)行掃頻測量。掃頻測量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時(shí)，收發(fā)測量系統(tǒng)作掃頻測量。時(shí)域輻射近場測量的研究，為了反映脈沖工作狀態(tài)和消除環(huán)境及其他因素對測量數(shù)據(jù)的影響，時(shí)域測量是一個(gè)良好的解決此類問題的途徑，但目前處于研究階段。前述的輻射近場測量方法都需要測量出近場的相位和幅度，才能利用近場理論計(jì)算出天線的遠(yuǎn)場電特性，為了簡化計(jì)算公式和測量系統(tǒng)以及降低測量時(shí)間與測量的相位誤差（在頻率f很高的情況下，即f＞80GHz，相位的測量誤差是很大的），于是，有學(xué)者提出只用近場測量值的幅度來重建天線遠(yuǎn)場的方法。無功近場區(qū)：又稱為電抗近場區(qū)，是天線輻射場中緊鄰天線口徑的一個(gè)近場區(qū)域。山東近場輻射掃描儀

天線口徑場分布診斷是通過測量天線近區(qū)場的分布逆推出天線口徑場分布，從而判斷出口徑場畸變處所對應(yīng)的輻射單元，這就是天線口徑分布診斷的基本原理。該方法對具有一維圓對稱天線口徑分布的分析是可靠的，尤其對相控陣天線的分析與測量已有了充分的可信度。天線方向圖副瓣電平在-28～-35dB之間的天線稱為低副瓣天線；副瓣電平小于-40dB的天線稱為很低副瓣天線。對它們的測量要用到“零探頭”技術(shù)，據(jù)文獻(xiàn)報(bào)導(dǎo)，副瓣電平在-40dB以上時(shí)，測量精度為±3dB，副瓣電平為-55dB時(shí)，測量精度為±5dB。廣東多媒體近場輻射抑制方式電磁場從天線向外發(fā)出，越向外越不明顯，特性也逐漸趨向平面。接收天線通常接收平面波。

個(gè)人輻射劑量儀是一款小型高靈敏度的個(gè)輻射劑量報(bào)警儀，采用了型的低功耗嵌入式微處理器作為數(shù)據(jù)處理單元，探測器采用的是高靈敏的GM計(jì)數(shù)器。儀器具有響應(yīng)快，測量范圍寬,應(yīng)用范圍廣的特點(diǎn)?？杀O(jiān)測X、γ射線和硬β射線，是一款通用型輻射劑量測量儀。個(gè)人輻射劑量儀特點(diǎn)：1、監(jiān)測X、γ及硬β射線。2、儀器靈敏度高，對環(huán)境本底亦可測量；3、中、英文雙語操作界面。4、劑量率和累積劑量同時(shí)測量和顯。5、掉點(diǎn)后數(shù)據(jù)保存不丟失。6、圖形式液晶顯示，屏幕很大。7、功耗低，有電池欠壓指示功能。8、儀器可預(yù)置劑量率和累積劑量報(bào)警閾值

輻射近場測量的可信域：對于平面輻射近場測量而言，由基本理論可知，在θ=-90°或90°（θ為場點(diǎn)偏離天線口面法線方向的方向角）時(shí)，這種方法的精度明顯變差，因此平面輻射近場測量適用于天線方向圖為單向筆形波束天線的測量，可信域（-θ，θ）中的θ值與近場掃描面和取樣間距有如下關(guān)系（一維情況）：θ=arctg［（L-X）/2d］，（1）式中L為掃描面的尺寸；X為天線口徑面的尺寸；d為掃描面到天線口徑面的距離。輻射近場測量的研究與誤差分析的探討是同時(shí)進(jìn)行的，研究結(jié)果表明：輻射近場測量的主要誤差源為18項(xiàng)，大致分為4個(gè)方面，即探頭誤差、機(jī)械掃描定位誤差、測量系統(tǒng)誤差以及測量環(huán)境誤差。對于平面輻射近場測量的誤差分析已經(jīng)完成，計(jì)算機(jī)模擬及各項(xiàng)誤差的上界也已給出；柱面、球面輻射近場測量的誤差分析尚未完成。轉(zhuǎn)發(fā)后的信號被調(diào)制為正弦波，電壓呈極性變化。

散射近場測量的發(fā)展動(dòng)態(tài)：散射體RCS的理論研究開始于60年代，早期的研究主要任務(wù)是對一些典型散射體（例如，板、球、柱體）進(jìn)行理論建模并進(jìn)行數(shù)值計(jì)算，取得了較多的研究成果，檢驗(yàn)計(jì)算結(jié)果正確與否的方法是遠(yuǎn)場測量或緊縮場法。這兩種方法中的任意一種方法都是由硬件來產(chǎn)生準(zhǔn)平面波的（等幅面上幅度的起伏值≤0.25dB，等相面上相位的起伏值≤22.5°），遠(yuǎn)場測量法是利用增加散射體與照射源之間的距離R（通常R=5D2/λ，D為散射體截面的很大尺寸）來實(shí)現(xiàn)球面波到平面波的轉(zhuǎn)換；緊縮場法則是利用偏饋拋物面來產(chǎn)生平面波的。因而工程上稱為模擬平面波法，其主要缺陷是受外界環(huán)境影響很大，因此，實(shí)用起來有很多問題（如遠(yuǎn)場法中對測量場地有苛刻的要求；緊縮場法對主反射面的機(jī)械精度有嚴(yán)格的要求），為了克服這些問題，出現(xiàn)了散射近場的測量方法。近場是一個(gè)物理和化學(xué)條件急劇變化的復(fù)雜區(qū)域。福建儀器儀表近場輻射測試儀價(jià)格

在該區(qū)域中，電抗性儲能場占支配地位，該區(qū)域的界限通常取為距天線口徑表面λ/2π處。山東近場輻射掃描儀

近場探頭用于在研發(fā)階段測量電子模塊上的電場和磁場，頻率范圍為30MHz到3GHz。利用RF1探頭組的探頭，可以實(shí)現(xiàn)緊貼電子模塊測量，比如貼近單個(gè)IC引腳、導(dǎo)線、元器件及其連接點(diǎn)測量，從而定位干擾信號源。通過相應(yīng)地操作近場探頭，能夠測量出電子模塊上電磁場的方向及其分布。隨著5G時(shí)代的推進(jìn)，智能終端產(chǎn)品作為寬帶射頻應(yīng)用大的消費(fèi)市場面臨著一系列開發(fā)與驗(yàn)證的問題。其中，越來越小的設(shè)計(jì)空間與近場探頭電磁輻射雜散性能之間的矛盾，將是商業(yè)研究人員開發(fā)和驗(yàn)證中面臨的巨大挑戰(zhàn)。若要以更高的精度、更強(qiáng)的自信探索開創(chuàng)性的概念，來推動(dòng)現(xiàn)有技術(shù)發(fā)展、以創(chuàng)新創(chuàng)造**、將5G愿景轉(zhuǎn)變?yōu)楝F(xiàn)實(shí)的過程中，我們不得不在工作中選擇更為適合我們的調(diào)試、測試解決方案。山東近場輻射掃描儀