改變帶寬法：通過(guò)改變頻譜分析儀分辨帶寬，信號(hào)的幅值可能也可能不發(fā)生變化。一個(gè)真正的窄帶或連續(xù)波信號(hào)的幅值將不發(fā)生變化。由持續(xù)時(shí)間為零、幅值無(wú)限大的脈沖產(chǎn)生的純寬帶發(fā)射，將產(chǎn)生量值為20log（BW1/BW2）的變化。然而在確定發(fā)射是寬帶還是窄帶的過(guò)程中，實(shí)際上允許與理想情況存在偏差。測(cè)試人員在使用這種方法時(shí)不可避免地要運(yùn)用較好的工程經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行判斷。峰值／平均值比較法：同帶寬改變法相似，這種方法是以信號(hào)幅值的變化為基礎(chǔ)的。窄帶信號(hào)的幅值電平在采用峰值或平均值檢波時(shí)基本保持不變，而寬帶信號(hào)在用平均值檢波時(shí)幅值將變小。使用報(bào)告中的數(shù)據(jù)確定設(shè)計(jì)中的哪個(gè)元件包含問(wèn)題源頻率，并特別加以注意，以便通過(guò)下一輪測(cè)試。重慶 消費(fèi)電子EMI診斷

許多頻譜分析儀重量輕，可以方便地移入測(cè)試室內(nèi)以對(duì)被測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行連續(xù)觀察。測(cè)試人員可以用電場(chǎng)或磁場(chǎng)探頭探測(cè)被測(cè)設(shè)備泄漏區(qū)域。通常這些區(qū)域包括像箱體接縫、顯示屏前面板、接口線纜、鍵盤線纜、鍵盤、電源線和箱體開(kāi)口部位等，探頭也可深入被測(cè)設(shè)備的箱體內(nèi)進(jìn)行探測(cè)。為了確切指出很大輻射區(qū)域，要求探頭靈敏度不要太高，通常，一段小線頭與一同軸線纜一起放入BNC連接器內(nèi)就可以了。此外，應(yīng)注意近場(chǎng)探頭探測(cè)過(guò)程中頻譜分析儀上所顯示的近場(chǎng)測(cè)試值可能會(huì)較大，但這不一定就是遠(yuǎn)場(chǎng)輻射的主要原因。重慶 消費(fèi)電子EMI診斷如果測(cè)試并不是所有階段都進(jìn)展順利，那么EMI故障仍有可能影響到產(chǎn)品的發(fā)布日程。

您可能會(huì)問(wèn)：那么我該如何使用EMI濾波器和準(zhǔn)峰值（QP）檢波器？這取決于您是否在進(jìn)行一致性測(cè)試、預(yù)一致性測(cè)試或者在做EMI故障排查。EMI類分辨率帶寬（RBW）濾波器是窄帶的，其滾降方式以6dB為標(biāo)準(zhǔn)，而非3dB。符合標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)峰值檢波器是根據(jù)信號(hào)峰值和重復(fù)頻率進(jìn)行檢測(cè)加權(quán)從得出峰值的。使用不正確的濾波器和檢波器會(huì)影響設(shè)備返回的幅度值和頻率值。在一致性測(cè)試中，這兩個(gè)是強(qiáng)制遵守的標(biāo)準(zhǔn)。然而，對(duì)于EMI診斷它們不是決定性的，因?yàn)橹饕康氖菑奈锢砩虾碗姎馍献R(shí)別出輻射源。如果沒(méi)有實(shí)際的一致性精度要求，您獲得接近的估值已足夠用了。

當(dāng)設(shè)備完全符合有關(guān)的規(guī)定后,如果為了降低產(chǎn)品成本,減少不必要的器件或設(shè)計(jì),可以將先前診斷過(guò)程中所采取的措施逐個(gè)去掉。首先應(yīng)該考慮去掉的是成本較高的器件或材料,以及在正式產(chǎn)品上難以實(shí)現(xiàn)的措施。如果去掉后,產(chǎn)品的輻射發(fā)射并沒(méi)有超標(biāo),那么就可以去掉這個(gè)措施。然后通過(guò)測(cè)試,使產(chǎn)品成本降到低。EMI診斷是設(shè)計(jì)階段的主要測(cè)試手段產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段需要EMC測(cè)試。EMC試驗(yàn)可分為規(guī)范的EMC測(cè)試和EMI診斷。EMC測(cè)量必須根據(jù)設(shè)備類型及使用范圍，按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的測(cè)量要求，在標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室采取規(guī)范的測(cè)量方法完成數(shù)據(jù)采集。一般來(lái)說(shuō)，近場(chǎng)探針沒(méi)有校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，因此它們適合用于相對(duì)測(cè)量。

測(cè)試室為出EMI報(bào)告而開(kāi)展的掃描通常是在特殊條件下進(jìn)行的，你的公司實(shí)驗(yàn)室也許無(wú)法復(fù)制這些條件。舉例來(lái)說(shuō)，待測(cè)設(shè)備（DUT）可能放在一個(gè)轉(zhuǎn)盤上，以便于從多個(gè)角度收集信號(hào)。這種方位角信息是很有用的，因?yàn)樗苤甘締?wèn)題發(fā)生的DUT區(qū)域。或者EMI測(cè)試室可能在校準(zhǔn)過(guò)的射頻房?jī)?nèi)開(kāi)展他們的測(cè)量，并報(bào)告作為強(qiáng)場(chǎng)的測(cè)量結(jié)果。幸運(yùn)的是，你并不需要完全復(fù)制測(cè)試室的條件才能排查EMI測(cè)試故障。與在高度受控的EMI測(cè)試線上執(zhí)行的一定測(cè)量不同，可以使用測(cè)試報(bào)告中的信息、深入理解用于產(chǎn)生報(bào)告的測(cè)量技術(shù)以及對(duì)待測(cè)設(shè)備周邊的相對(duì)觀察以隔離問(wèn)題源并估計(jì)糾正有效性來(lái)開(kāi)展問(wèn)題的排查工作。起初接觸產(chǎn)品EMI對(duì)策修改時(shí)﹐會(huì)聽(tīng)到很好EMI工程師說(shuō)把所有EMI對(duì)策拿掉﹐就可以通過(guò)測(cè)試。重慶 消費(fèi)電子EMI診斷

信號(hào)的射頻頻率是多少？是脈沖式的還是連續(xù)的？這些信號(hào)特征可以使用基本的頻譜分析儀進(jìn)行監(jiān)視。重慶 消費(fèi)電子EMI診斷

接下來(lái)做什么？電源是EMI干擾噪聲的主要來(lái)源，示波器的電源諧波分析在這類排查工作中很有潛力。我們不久將討論這一方面的內(nèi)容。排查EMI是否一致的四種基本方法：全世界幾乎所有有關(guān)部門都在嘗試控制他們國(guó)家生產(chǎn)的電子產(chǎn)品產(chǎn)生的有害電磁干擾（EMI）。為了向用戶提供一定的保護(hù)和安全等級(jí)，有關(guān)部門都會(huì)制訂涉及電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的非常特殊的一些規(guī)則和規(guī)定。當(dāng)然這是好事。但這也意味著為了盡量減少他們的EMI特征并通過(guò)官方的EMI認(rèn)證測(cè)試，許多公司必須在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和測(cè)試方面花費(fèi)大量的人力物力。壞消息是，即使采用了好的設(shè)計(jì)原理、選擇了高質(zhì)量的元件并且仔細(xì)地表征了產(chǎn)品，當(dāng)進(jìn)行一致性測(cè)試時(shí)，如果測(cè)試并不是所有階段都進(jìn)展順利，那么EMI故障仍有可能影響到產(chǎn)品的發(fā)布日程。重慶 消費(fèi)電子EMI診斷