電路板上的組件成為輻射來源，由于所使用的IC或CPU本身在運(yùn)作時(shí)產(chǎn)生很大的輻射﹐使得EMI測試無法通過﹐卵石種情往往在經(jīng)過（1）﹑（2）﹑（3）的分析后噪聲依然存在﹐通常解決的方法不外換一個(gè)類似的組件﹐看EMI特性是否會好一些。另外就是電路板重新布線時(shí)﹐將其擺放于影響小的位置﹐也就是附近沒有I/OPort及連接線等經(jīng)過﹐當(dāng)然若情況允許﹐將整個(gè)組件用金屬外殼包覆（Shielding）也是一種快速有效的方法。由以上的分析介紹我們可以了解﹐造成電磁干擾輻射關(guān)鍵的地方就是電線的問題﹐當(dāng)有了適當(dāng)?shù)奶炀€條件存在很容易就產(chǎn)生干擾﹐另外電源線往往亦是造成天線效應(yīng)的主因﹐這是在許EMI對策中容易疏忽的。一旦有疾病則正確的診斷﹐才能得到快速的痊愈。天津通用EMI診斷頻譜儀

EMI測試中工程師的“痛點(diǎn)”：1.從電路板設(shè)計(jì)開始就應(yīng)該考慮EMI問題，但受資金限制，EMI診斷設(shè)備往往不能配備到位。2.電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)定型后去進(jìn)行EMC認(rèn)證測試，認(rèn)證機(jī)構(gòu)給出不合格報(bào)告，只指出輻射還是傳導(dǎo)EMI不合格，雖然給出干擾頻點(diǎn)，但并不指出電子設(shè)備中EMI不合格的位置或原因，需自行進(jìn)行EMI診斷，耗費(fèi)時(shí)間與資金。3.某些設(shè)備受環(huán)境制約無法進(jìn)行屏蔽，需找出EMI根源從設(shè)計(jì)上解決。頻譜儀是發(fā)現(xiàn)EMI問題的基本測試儀器，但某些情況下難以追蹤EMI的根源。4.某些EMI問題可以通過屏蔽方式解決，雖然可以通過EMC認(rèn)證，但EMI影響該設(shè)備自身性能，必須從根源上解決，或找出問題所在加以回避。在此種情況下，頻譜儀存在與3同樣的問題。5.隨著數(shù)據(jù)速率的加快，周期性突發(fā)的EMI問題日益增多，必須通過對EMI周期的分析找出問題的真正根源，這需要調(diào)制域分析。江蘇PCB板EMI診斷原理事實(shí)上﹐我們?nèi)绻袳MI當(dāng)做一種疾病﹐當(dāng)然平時(shí)的預(yù)防保養(yǎng)很重要的。

事實(shí)上﹐我們?nèi)绻袳MI當(dāng)做一種疾病﹐當(dāng)然平時(shí)的預(yù)防保養(yǎng)是很重要的﹐而一旦有疾病則正確的診斷﹐才能得到快速的痊愈﹐沒有正確的診斷﹐找不到病癥的源頭﹐往往事倍功半而拖延費(fèi)時(shí)。故在EMI的問題上﹐常常看到一個(gè)EMI有問題的產(chǎn)品﹐由于未能找到造成EMI問題的關(guān)鍵﹐花了許多時(shí)間﹐下了許多對策﹐卻始終無法解決﹐其中亦不乏專業(yè)的EMI工程師。以往談到EMI往往強(qiáng)調(diào)對策方法﹐甚而視許多對策秘決或絕招﹐然而沒有正確的診斷﹐而在產(chǎn)品上加了一大堆EMI壓制組件﹐其結(jié)果往往只會使EMI情況更糟。

電磁輻射干擾的遠(yuǎn)場測量是指在半電波暗室或者EMC開闊場進(jìn)行的測量，測量天線與被測物的距離一般為3米或3米以上，給出的結(jié)果是一張頻譜圖，即各個(gè)頻率點(diǎn)的電磁輻射干擾強(qiáng)度。標(biāo)準(zhǔn)GB13837-1997（CISPR13）和GB4343-1995（CISPR14）規(guī)定，應(yīng)分別測試EUT外接連線，如電源線、AV線、耳機(jī)線、話筒線等線纜的干擾功率。傳導(dǎo)干擾是測試EUT運(yùn)行過程中端口干擾電壓，包括電源端口、射頻端口、天線端口、電信端口等。如果被測設(shè)備有一個(gè)或者幾個(gè)頻率點(diǎn)的電磁干擾超過了標(biāo)準(zhǔn)的限值，被測設(shè)備就不符合EMC標(biāo)準(zhǔn)要求。通過EMI測試﹐而使設(shè)計(jì)工程師花費(fèi)許多時(shí)間和精力投入EMI的修改。

噪聲是由機(jī)器內(nèi)部耦合到電纜線上﹐而使電纜成為輻射天線。這一點(diǎn)是許多測試工程師容易忽略的。此情形如（a）中所提到的﹐只要將一條電纜靠近﹐則可從頻譜上看到噪聲立刻升高﹐此表示噪聲已不單純是由線上所輻射出﹐而是機(jī)器本身的噪聲能量相當(dāng)大﹐一旦有天線靠近則立刻會耦合至天線而輻射出來。在實(shí)際測試中﹐我們發(fā)現(xiàn)許多通訊產(chǎn)品有這類情形發(fā)生﹐此時(shí)若單純用Core或Bead去處理﹐并不能真正的解決問題。機(jī)器內(nèi)部的引線﹐連接線成為輻射天線，由于許多產(chǎn)品內(nèi)部常有一些電線彼此連接工作廳﹐當(dāng)這些線靠近噪聲源很容易成為天線﹐將噪聲輻射出去。針對此點(diǎn)的判斷﹐在200MHz以下之噪聲﹐我們可以在線上加一Core來判斷噪聲是否減低﹐而對于200MHz以上之高頻噪聲﹐我們可以將線的位置做前后左右的移動﹐看噪聲是否會增大或減小?？梢允褂梅逯禉z測來開展你的EMI排查和診斷。西安GB9254EMI診斷器件選型

一致性測試是在遠(yuǎn)場中進(jìn)行的，而不是近場。天津通用EMI診斷頻譜儀

EMC測試伴隨著產(chǎn)品研制的全過程，眾所周知，一個(gè)產(chǎn)品的電磁兼容性能是否達(dá)標(biāo)靠什么證明呢？無疑是試驗(yàn)，試驗(yàn)是檢驗(yàn)產(chǎn)品性能好壞的單獨(dú)手段。然而，EMC試驗(yàn)不單單承擔(dān)對產(chǎn)品性能終檢驗(yàn)的任務(wù)，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段也需要有輔助試驗(yàn)手段檢驗(yàn)每一個(gè)設(shè)計(jì)思想及每一項(xiàng)設(shè)計(jì)措施是否正確。特別是復(fù)雜的電子系統(tǒng)，在方案論證階段需要制定EMC試驗(yàn)規(guī)范，在單機(jī)設(shè)備初樣、正樣研制階段需要對每項(xiàng)EMC指標(biāo)進(jìn)行測量，組成系統(tǒng)之后需要進(jìn)行系統(tǒng)級的EMC測試。系統(tǒng)級EMC測試的目的一方面檢驗(yàn)系統(tǒng)自身兼容性，另一方面檢驗(yàn)該電子系統(tǒng)與特定的工作環(huán)境是否兼容。天津通用EMI診斷頻譜儀