實(shí)際測量時(shí)，用一個(gè)輻射單元（探頭）進(jìn)行一維掃描（等效的看，相當(dāng)于同時(shí)激勵(lì)的狀態(tài)）并在計(jì)算機(jī)上用軟件完成各個(gè)方向上的平面波的綜合，因此，稱其為數(shù)字緊縮場。這種測量方法的優(yōu)點(diǎn)是很大降低了為實(shí)現(xiàn)平面波對(duì)測量系統(tǒng)硬件的要求。該方法不只能測量典型導(dǎo)體目標(biāo)的RCS，而且能夠?qū)σ恍?shí)用導(dǎo)體目標(biāo)（如飛機(jī)、導(dǎo)彈等）小雙站角的RCS進(jìn)行測量。典型導(dǎo)體目標(biāo)（如板、球、柱）小雙站角的RCS測量已經(jīng)完成，測得的不同方向照射待測目標(biāo)后向散射方向圖（照射波傳播方向指向目標(biāo)的方向規(guī)定為0°）及空間散射方向圖與理論計(jì)算結(jié)果完全吻合；測量所得到的目標(biāo)小雙站角RCS的一定值與理論計(jì)算值相比較還有誤差。近區(qū)場的電磁場強(qiáng)度比遠(yuǎn)區(qū)場大得多。鄭州藍(lán)牙耳機(jī)近場輻射測試儀價(jià)格

在近場工作區(qū)內(nèi)針對(duì)主反射墻的吸波材料進(jìn)行特定頻段吸收特性的測試。測試近場工作區(qū)反射電平時(shí)，發(fā)射天線先置于暗室中心軸線上，接收天線置于正對(duì)被測墻壁的一個(gè)合理位置，并沿兩天線軸線移動(dòng)一段距離進(jìn)行反射電平的測試。測試步驟：連接好測試系統(tǒng)，按置發(fā)射天線及接收天線于測試位置Ⅰ；設(shè)置信號(hào)源頻率為1GHz，輸出功率調(diào)至合適大小使發(fā)射天線輻射信號(hào)，接收天線在正對(duì)發(fā)射天線方向，沿待測行程線移動(dòng)，并記錄接收信號(hào)曲線，測試曲線作為這條行程線的參考電平線；將接收天線方向朝向被測墻壁吸波材料方向，接收天線沿這條測量行程線移動(dòng)，并記錄空間駐波曲線。武漢可視化近場輻射系統(tǒng)價(jià)格在反應(yīng)區(qū)里，電場和磁場是很強(qiáng)的，并且可以單獨(dú)測量。

近場探頭是用于配合頻譜分析儀查找干擾源的設(shè)備。在認(rèn)證機(jī)構(gòu)中，使用經(jīng)過各類校準(zhǔn)的天線進(jìn)行輻射泄露測試，都是進(jìn)行的遠(yuǎn)場測量。標(biāo)準(zhǔn)的遠(yuǎn)場輻射泄漏測試，可以準(zhǔn)確定量的告訴我們被測件是否符合相應(yīng)的EMI標(biāo)準(zhǔn)。但是遠(yuǎn)場測試無法告訴工程師，嚴(yán)重的輻射問題到底是來自于殼體的縫隙，還是來自連接的電纜，或USB，LAN之類的通信接口。在這種情況下，我們可以通過近場測試的方法來定位輻射的真正來源。電磁場是由電場和磁場構(gòu)成。在近場，電場和磁場共同存在，其強(qiáng)度不構(gòu)成固定關(guān)系。以電場為主還是磁場為主，主要是由發(fā)射源的類型決定的。簡而言之，在高電壓，低電流的區(qū)域，電場大于磁場。高電流，低電壓的區(qū)域，磁場大于電場。同時(shí)在主要的EMI測試頻段，磁場隨著距離的變化要快于電場。

在實(shí)際使用中，感興趣的是輻射遠(yuǎn)場區(qū)。通常的應(yīng)用中，我們應(yīng)該避免收、發(fā)天線處在近場區(qū)范圍，因?yàn)榇藭r(shí)不但天線的方向圖沒有形成，而且在近場范圍內(nèi)的任何導(dǎo)電體甚至介質(zhì)物體都被看成是天線電磁邊界條件的一部分，它影響了原來的天線，和原來的天線一起共同修正和改變了遠(yuǎn)場的方向圖輻射特性，從而影響了實(shí)際使用效果。某些特殊應(yīng)用場合，天線和其它物體靠得很近，從而使天線的輻射特性變得極其復(fù)雜，比如手機(jī)天線置于人體附近的情況，這需要專門予以討論。對(duì)近場似乎還沒有正式的定義，它取決于應(yīng)用本身和天線。

天線口徑場分布診斷是通過測量天線近區(qū)場的分布逆推出天線口徑場分布，從而判斷出口徑場畸變處所對(duì)應(yīng)的輻射單元，這就是天線口徑分布診斷的基本原理。該方法對(duì)具有一維圓對(duì)稱天線口徑分布的分析是可靠的，尤其對(duì)相控陣天線的分析與測量已有了充分的可信度。天線方向圖副瓣電平在-28～-35dB之間的天線稱為低副瓣天線；副瓣電平小于-40dB的天線稱為很低副瓣天線。對(duì)它們的測量要用到“零探頭”技術(shù)，據(jù)文獻(xiàn)報(bào)導(dǎo)，副瓣電平在-40dB以上時(shí)，測量精度為±3dB，副瓣電平為-55dB時(shí)，測量精度為±5dB。在衍射光學(xué)中，近場定義如下：當(dāng)入射光波是平面波，經(jīng)過透鏡會(huì)聚后。武漢可視化近場輻射系統(tǒng)價(jià)格

和近場類似，遠(yuǎn)場的起始也沒有統(tǒng)一的定義。鄭州藍(lán)牙耳機(jī)近場輻射測試儀價(jià)格

輻射近場掃頻測量的研究，就一般情況而言，天線都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作，因此，各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電指標(biāo)，就需要進(jìn)行掃頻測量。掃頻測量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時(shí)，收發(fā)測量系統(tǒng)作掃頻測量。時(shí)域輻射近場測量的研究，為了反映脈沖工作狀態(tài)和消除環(huán)境及其他因素對(duì)測量數(shù)據(jù)的影響，時(shí)域測量是一個(gè)良好的解決此類問題的途徑，但目前處于研究階段。前述的輻射近場測量方法都需要測量出近場的相位和幅度，才能利用近場理論計(jì)算出天線的遠(yuǎn)場電特性，為了簡化計(jì)算公式和測量系統(tǒng)以及降低測量時(shí)間與測量的相位誤差（在頻率f很高的情況下，即f＞80GHz，相位的測量誤差是很大的），于是，有學(xué)者提出只用近場測量值的幅度來重建天線遠(yuǎn)場的方法。鄭州藍(lán)牙耳機(jī)近場輻射測試儀價(jià)格