理解EMI報(bào)告在討論排查技術(shù)之前，介紹一下EMI測(cè)試報(bào)告是很有必要的。乍一看，EMI報(bào)告似乎直接提供了有關(guān)特定頻率點(diǎn)故障的信息，因此事情看起來(lái)很簡(jiǎn)單，就是使用報(bào)告中的數(shù)據(jù)確定設(shè)計(jì)中的哪個(gè)元件包含問(wèn)題源頻率，并特別加以注意，以便通過(guò)下一輪測(cè)試。然而，雖然許多測(cè)試條件在報(bào)告中是明確表示的，但一些需要考慮的重要事情可能并不那么明顯。在審查設(shè)計(jì)并試圖判斷問(wèn)題源時(shí)，理解測(cè)試室如何生成這種報(bào)告是很有幫助的。需要記住的一個(gè)好規(guī)則是，準(zhǔn)峰值檢測(cè)值總是小于或等于峰值檢測(cè)值，永遠(yuǎn)不會(huì)大于峰值檢測(cè)值。因此你可以使用峰值檢測(cè)來(lái)開(kāi)展你的EMI排查和診斷。你不需要達(dá)到與EMI部門(mén)或?qū)嶒?yàn)室掃描同等程度的精度，因?yàn)闇y(cè)量都是相對(duì)值。如果你的實(shí)驗(yàn)室報(bào)告中的準(zhǔn)峰值檢測(cè)值表明，設(shè)計(jì)超過(guò)了3dB，峰值檢測(cè)值超過(guò)了6dB，那么你就知道你需要的修復(fù)工作是將信號(hào)減小3dB或更多。每種設(shè)備用到不同的測(cè)試方法，并提供不同但互補(bǔ)的診斷技術(shù)。汽車(chē)電子EMI診斷測(cè)試方式
許多頻譜分析儀重量輕，可以方便地移入測(cè)試室內(nèi)以對(duì)被測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行連續(xù)觀察。測(cè)試人員可以用電場(chǎng)或磁場(chǎng)探頭探測(cè)被測(cè)設(shè)備泄漏區(qū)域。通常這些區(qū)域包括像箱體接縫、顯示屏前面板、接口線(xiàn)纜、鍵盤(pán)線(xiàn)纜、鍵盤(pán)、電源線(xiàn)和箱體開(kāi)口部位等，探頭也可深入被測(cè)設(shè)備的箱體內(nèi)進(jìn)行探測(cè)。為了確切指出很大輻射區(qū)域，要求探頭靈敏度不要太高，通常，一段小線(xiàn)頭與一同軸線(xiàn)纜一起放入BNC連接器內(nèi)就可以了。此外，應(yīng)注意近場(chǎng)探頭探測(cè)過(guò)程中頻譜分析儀上所顯示的近場(chǎng)測(cè)試值可能會(huì)較大，但這不一定就是遠(yuǎn)場(chǎng)輻射的主要原因。汽車(chē)電子EMI診斷測(cè)試方式起初接觸產(chǎn)品EMI對(duì)策修改時(shí)﹐會(huì)聽(tīng)到很好EMI工程師說(shuō)把所有EMI對(duì)策拿掉﹐就可以通過(guò)測(cè)試。
改變帶寬法：通過(guò)改變頻譜分析儀分辨帶寬，信號(hào)的幅值可能也可能不發(fā)生變化。一個(gè)真正的窄帶或連續(xù)波信號(hào)的幅值將不發(fā)生變化。由持續(xù)時(shí)間為零、幅值無(wú)限大的脈沖產(chǎn)生的純寬帶發(fā)射，將產(chǎn)生量值為20log（BW1/BW2）的變化。然而在確定發(fā)射是寬帶還是窄帶的過(guò)程中，實(shí)際上允許與理想情況存在偏差。測(cè)試人員在使用這種方法時(shí)不可避免地要運(yùn)用較好的工程經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行判斷。峰值／平均值比較法：同帶寬改變法相似，這種方法是以信號(hào)幅值的變化為基礎(chǔ)的。窄帶信號(hào)的幅值電平在采用峰值或平均值檢波時(shí)基本保持不變，而寬帶信號(hào)在用平均值檢波時(shí)幅值將變小。
將連接EUT的周邊電纜逐一取下﹐看干擾的噪聲是否降低或消失。若取下某一電纜而干擾的頻率減小或甚而消失﹐則可知此電纜已成為天線(xiàn)將機(jī)板內(nèi)的噪聲輻射出來(lái)。事實(shí)上﹐仔細(xì)分析造成EMI的關(guān)鍵﹐我們可以用一個(gè)很簡(jiǎn)單的模式來(lái)表示。任何EMI的Source必須要有天線(xiàn)的存在﹐才能產(chǎn)生輻射的情形﹐若只單獨(dú)存在噪聲源而沒(méi)有天線(xiàn)的條件﹐此輻射量是很小的﹐若將其連接到天線(xiàn)則由于天線(xiàn)效應(yīng)便把能量輻射到空間。所以EMI的對(duì)策除了針對(duì)噪聲源（Source）做處理外﹐重要的查破壞產(chǎn)生輻射的條件----天線(xiàn)。準(zhǔn)峰值是EMI測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)定義的一種方法，用來(lái)檢測(cè)信號(hào)包絡(luò)的加權(quán)峰值。
EMC測(cè)試伴隨著產(chǎn)品研制的全過(guò)程，眾所周知，一個(gè)產(chǎn)品的電磁兼容性能是否達(dá)標(biāo)靠什么證明呢？無(wú)疑是試驗(yàn)，試驗(yàn)是檢驗(yàn)產(chǎn)品性能好壞的單獨(dú)手段。然而，EMC試驗(yàn)不單單承擔(dān)對(duì)產(chǎn)品性能終檢驗(yàn)的任務(wù)，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段也需要有輔助試驗(yàn)手段檢驗(yàn)每一個(gè)設(shè)計(jì)思想及每一項(xiàng)設(shè)計(jì)措施是否正確。特別是復(fù)雜的電子系統(tǒng)，在方案論證階段需要制定EMC試驗(yàn)規(guī)范，在單機(jī)設(shè)備初樣、正樣研制階段需要對(duì)每項(xiàng)EMC指標(biāo)進(jìn)行測(cè)量，組成系統(tǒng)之后需要進(jìn)行系統(tǒng)級(jí)的EMC測(cè)試。系統(tǒng)級(jí)EMC測(cè)試的目的一方面檢驗(yàn)系統(tǒng)自身兼容性，另一方面檢驗(yàn)該電子系統(tǒng)與特定的工作環(huán)境是否兼容。準(zhǔn)峰值根據(jù)信號(hào)的持續(xù)時(shí)間和重復(fù)率對(duì)信號(hào)進(jìn)行加權(quán)。汽車(chē)電子EMI診斷測(cè)試方式
示波器、頻譜分析儀或測(cè)試接收機(jī)可以從不同角度解決EMI問(wèn)題。汽車(chē)電子EMI診斷測(cè)試方式
EMI測(cè)試中工程師的“痛點(diǎn)”：1.從電路板設(shè)計(jì)開(kāi)始就應(yīng)該考慮EMI問(wèn)題，但受資金限制，EMI診斷設(shè)備往往不能配備到位。2.電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)定型后去進(jìn)行EMC認(rèn)證測(cè)試，認(rèn)證機(jī)構(gòu)給出不合格報(bào)告，只指出輻射還是傳導(dǎo)EMI不合格，雖然給出干擾頻點(diǎn)，但并不指出電子設(shè)備中EMI不合格的位置或原因，需自行進(jìn)行EMI診斷，耗費(fèi)時(shí)間與資金。3.某些設(shè)備受環(huán)境制約無(wú)法進(jìn)行屏蔽，需找出EMI根源從設(shè)計(jì)上解決。頻譜儀是發(fā)現(xiàn)EMI問(wèn)題的基本測(cè)試儀器，但某些情況下難以追蹤EMI的根源。4.某些EMI問(wèn)題可以通過(guò)屏蔽方式解決，雖然可以通過(guò)EMC認(rèn)證，但EMI影響該設(shè)備自身性能，必須從根源上解決，或找出問(wèn)題所在加以回避。在此種情況下，頻譜儀存在與3同樣的問(wèn)題。5.隨著數(shù)據(jù)速率的加快，周期性突發(fā)的EMI問(wèn)題日益增多，必須通過(guò)對(duì)EMI周期的分析找出問(wèn)題的真正根源，這需要調(diào)制域分析。汽車(chē)電子EMI診斷測(cè)試方式