混合域示波器（MDO）的推出使情況有了改觀，它能提供同步的而且與時(shí)間相關(guān)聯(lián)的觀察和測(cè)量功能。如圖5所示的這種儀器能夠相當(dāng)容易地讓我們觀察哪個(gè)信號(hào)與哪個(gè)EMI事件同時(shí)發(fā)生，從而可以簡(jiǎn)化EMI排查過程?；旌嫌蚴静ㄆ鳎∕DO）將頻譜分析儀、示波器和邏輯分析儀組合在一臺(tái)儀表內(nèi)，可以從全部三臺(tái)儀器中產(chǎn)生同步的而且與時(shí)間關(guān)聯(lián)的測(cè)量結(jié)果。MDO將混合信號(hào)示波器的功能和頻譜分析儀的功能整合在一起。借助這種組合，你能夠自動(dòng)顯示模擬信號(hào)特征、數(shù)字時(shí)序、總線事務(wù)以及射頻并在這些信息基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)觸發(fā)。一些MDO還能捕獲或觀察頻譜和時(shí)域軌跡，包括射頻幅度對(duì)時(shí)間、射頻相位對(duì)時(shí)間以及射頻頻率對(duì)時(shí)間的關(guān)系曲線。示波器是快速了解有害輻射并找出它們來源的有效工具。上海儀器儀表EMI診斷標(biāo)準(zhǔn)

EMI認(rèn)證機(jī)構(gòu)通常按照EMI標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)峰值檢波進(jìn)行測(cè)試，而EMI診斷中往往用峰值檢波，兩者不匹配，EMI診斷是否還有意義？由于EMI診斷的目的是為了找出EMI的根源，并不需要一定精確的測(cè)試，而是需要相對(duì)的重復(fù)性好的測(cè)試。準(zhǔn)峰值檢波用來檢測(cè)信號(hào)包絡(luò)加權(quán)后的峰值(準(zhǔn)峰值)，它根據(jù)時(shí)長(zhǎng)和重復(fù)率對(duì)信號(hào)加權(quán)。準(zhǔn)峰值檢波的平均過程需耗費(fèi)時(shí)間，測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，不利于日常診斷。由于準(zhǔn)峰值檢波測(cè)試幅度結(jié)果永遠(yuǎn)小于或等于峰值檢波的測(cè)試結(jié)果，因此在進(jìn)行EMI診斷時(shí)，用峰值檢波可以快速發(fā)現(xiàn)EMI問題。成都儀器儀表EMI診斷傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試EMI報(bào)告似乎直接提供了有關(guān)特定頻率點(diǎn)故障的信息，因此事情看起來很簡(jiǎn)單。

常用技術(shù)是觀察特殊寬帶天線頻率范圍，包括所有校正因子在內(nèi)的頻譜圖應(yīng)同時(shí)顯示在頻譜分析儀的顯示屏上，顯示的幅值單位與頻譜分析儀上的單位相一致，通常是dBm。這樣測(cè)試人員可在顯示屏上監(jiān)測(cè)發(fā)射電平，一旦超過限值，就會(huì)被立刻發(fā)現(xiàn)，它在故障檢修中極其有用。這種特性使得人們?cè)谄帘伪粶y(cè)產(chǎn)品的同時(shí)觀察頻譜分析儀的屏幕，并可立刻獲得反饋信息。在快速進(jìn)行濾波、屏蔽和接地操作時(shí)同樣可做以上嘗試。頻譜分析儀很大保持頻譜圖存儲(chǔ)以及雙重追隨特性也可用于觀察操作前后的EMI電平的變化。

對(duì)于一個(gè)電磁兼容工程師來說頻譜分析儀就象一位數(shù)字電路設(shè)計(jì)工程師手中的邏輯分析儀一樣重要，頻譜分析儀具有寬頻率范圍、帶寬可選性和寬范圍掃描顯示等特性，使其在幾乎每一項(xiàng)EMC測(cè)試應(yīng)用中都能大顯身手，頻譜分析儀對(duì)于寬范圍的EMI診斷、故障檢測(cè)和測(cè)試應(yīng)用極其有用。輻射發(fā)射測(cè)量頻譜分析儀是測(cè)試設(shè)備輻射發(fā)射必不可少的工具，它與適當(dāng)?shù)慕涌谙噙B，就可進(jìn)行和商用電磁干擾自動(dòng)測(cè)量，例如：一臺(tái)頻譜分析儀與一臺(tái)計(jì)算機(jī)相連，就可以在對(duì)應(yīng)的頻率范圍內(nèi)把發(fā)射數(shù)據(jù)制成圖和表。測(cè)試室為出EMI報(bào)告而開展的掃描通常是在特殊條件下進(jìn)行的。

EMI診斷一般使用通用儀器設(shè)備加上一些專屬附件，根據(jù)測(cè)試需要自行組成測(cè)試系統(tǒng)，它簡(jiǎn)單、方便、經(jīng)濟(jì)、實(shí)惠，是對(duì)規(guī)范測(cè)量的一種補(bǔ)充。如果有條件和標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行對(duì)比，則能夠得到定量測(cè)試結(jié)果。因此，EMI診斷成為產(chǎn)品設(shè)計(jì)師在整個(gè)研制過程中不可缺少的輔助手段，它能及時(shí)向設(shè)計(jì)師反饋EMC設(shè)計(jì)是否合理，采取的電磁干擾壓制措施是否奏效。產(chǎn)品設(shè)計(jì)師能夠根據(jù)EMI診斷結(jié)果找到壓制干擾的途徑。干擾的來源可能是多方面的，同一臺(tái)設(shè)備可能即是干擾源，又是敏感設(shè)備，干擾的傳播一般會(huì)有多種渠道。聯(lián)機(jī)過程中也需要借助儀器設(shè)備幫助進(jìn)行各種診斷。EMI診斷能夠滿足設(shè)計(jì)師的上述需求。不需要達(dá)到與EMI部門或?qū)嶒?yàn)室掃描同等程度的精度，因?yàn)闇y(cè)量都是相對(duì)值。廣州儀器儀表EMI診斷方法

儀器能夠相當(dāng)容易地讓我們觀察哪個(gè)信號(hào)與哪個(gè)EMI事件同時(shí)發(fā)生，從而可以簡(jiǎn)化EMI排查過程。上海儀器儀表EMI診斷標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)試室為出EMI報(bào)告而開展的掃描通常是在特殊條件下進(jìn)行的，你的公司實(shí)驗(yàn)室也許無法復(fù)制這些條件。舉例來說，待測(cè)設(shè)備（DUT）可能放在一個(gè)轉(zhuǎn)盤上，以便于從多個(gè)角度收集信號(hào)。這種方位角信息是很有用的，因?yàn)樗苤甘締栴}發(fā)生的DUT區(qū)域?；蛘逧MI測(cè)試室可能在校準(zhǔn)過的射頻房?jī)?nèi)開展他們的測(cè)量，并報(bào)告作為強(qiáng)場(chǎng)的測(cè)量結(jié)果。幸運(yùn)的是，你并不需要完全復(fù)制測(cè)試室的條件才能排查EMI測(cè)試故障。與在高度受控的EMI測(cè)試線上執(zhí)行的一定測(cè)量不同，可以使用測(cè)試報(bào)告中的信息、深入理解用于產(chǎn)生報(bào)告的測(cè)量技術(shù)以及對(duì)待測(cè)設(shè)備周邊的相對(duì)觀察以隔離問題源并估計(jì)糾正有效性來開展問題的排查工作。上海儀器儀表EMI診斷標(biāo)準(zhǔn)